Übersicht über die Vorlesung - KIT

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OE 11.1
SS 2008
Übersicht über die Vorlesung
I.
II.
III.
IV.
V.
VI.
VII.
VIII.
IX.
X.
XI.
Einleitung
Physikalische Grundlagen der Optoelektronik
Herstellungstechnologien
Halbleiterleuchtdioden
Optik in Halbleiterbauelementen
Laserdioden
Betrieb von Leucht- und Laserdioden
Quantendetektoren
VIII.1 pn-Photodioden
VIII.2 pin-Photodioden
VIII.3 Avalanche Photodioden
VIII.4 Photowiderstände
VIII.5 Photomultiplier
Thermische Detektoren
Nachweisgrenzen und Rauschen
Bildsensoren
Universität Karlsruhe (TH)
Research University founded 1825
Photowiderstände
OE 11.2
SS 2008
Universität Karlsruhe (TH)
Research University founded 1825
Widerstandsänderung durch inneren Photoeffekt
1 L
∆R
∆σ
⇒
=−
σ
σ A
R
U
U
U ∆σ A
I = ⇒ ∆I = − 2 ∆R =
= U ⋅ ∆σ
R
R
R σ
L
σ = e µ n n + eµ p p
OE 11.3
SS 2008
R=
bei konstanter Spannung
über dem Photoleiter
n = n0 + ∆n, p = p0 + ∆p
∆n = ∆p
Überschussdichte
∆n / τ n = ∆p / τ p = g Generationsrate
bei zeitlich konstanter Bestrahlungsstärke
∆σ = e(µ n τn + µ p τp )g ⇒
µ
∆R τ(b + 1)g
=
für τn = τp ≡ τ, b ≡ n
R
bn 0 + p0
µp
A
∆I = e Uµτ ⋅ g
L
µτ ≡ µ n τn + µ p τp
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Stromempfindlichkeit
Φ
I ph = eη
= eA ⋅ L ⋅ g ⇒
hν
∆I eη(λ)λ
=
G
Φ
h ⋅c
∆I
U
G=
= µτ 2
I Ph
L
tr =
G=
L
vdrift
τ
tr
L
L2
=
=
⇒
µU / L µU
OE 11.4
SS 2008
„primärer“ Photostrom
„Stromempfindlichkeit“
Gewinn - innere Verstärkung
Lauf(Transit)zeit zwischen den Elektroden,
minimal für vdrift=vsat≈107 cm/s
Sättigungsdriftgeschwindigkeit
Innere Verstärkung groß, wenn die mittlere
Trägerlebensdauer groß gegen die Transitzeit
ist. Dies ist dann der Fall, wenn die Feldstärke
und das Lebensdauer-Beweglichkeitsprodukt
groß sind.
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Gewinn G
OE 11.5
SS 2008
Universität Karlsruhe (TH)
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OE 11.6
SS 2008
Übersicht über die Vorlesung
I.
II.
III.
IV.
V.
VI.
VII.
VIII.
IX.
X.
XI.
Einleitung
Physikalische Grundlagen der Optoelektronik
Herstellungstechnologien
Halbleiterleuchtdioden
Optik in Halbleiterbauelementen
Laserdioden
Betrieb von Leucht- und Laserdioden
Quantendetektoren
VIII.1 pn-Photodioden
VIII.2 pin-Photodioden
VIII.3 Avalanche Photodioden
VIII.4 Photowiderstände
VIII.5 Photomultiplier/Sekundärelektronenvervielfacher
Thermische Detektoren
Nachweisgrenzen und Rauschen
Bildsensoren
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Äußerer Photoeffekt und Multiplikation
OE 11.7
SS 2008
Äußerer Photoeffekt (Becquerel 1839, Hertz 1887, Hallwachs 1888)
Metall- oder Halbleiter emittiert beim Auftreffen von optischer Strahlung auf dessen
Oberfläche Photoelektronen in den Außenraum, wenn die Photonenenergie hν größer
als die photoelektrische Austrittsarbeit Φ ist. Es gilt gemäß Einstein:
hν = Φ + E kin
Photozelle :
Licht fällt auf semitransparente oder
opake Photokathode. Auf der Rückseite
bzw. der Licht zugewandten Seite der
Photokatode treten Photoelektronen aus
und werden durch das el. Feld zwischen
Kathode und Anode auf die Anode
beschleunigt und fließen als
Anodenstrom in den Außenkreis ab.
Photomultiplier:
verstärkter Anodenstrom durch
Sekundärelektronenvervielfachung.
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Photomultiplier beruhen auf dem äußeren Photoeffekt
OE 11.8
SS 2008
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Absenkung der Austrittsarbeit: NEA-Photokathoden
OE 11.9
SS 2008
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NEA-Photokathode
OE 11.10
SS 2008
Starke Bandverbiegung nach unten
durch
Übertritt von Elektronen vom Cs in
Akzeptorniveaus (Besetzte Niveaus
unterhalb des Ferminiveaus !)
z.B. GaAs mit Zn p-dotiert
und „monoatomarer“
Bedeckung mit
elektropositivem Cs
Entstehung einer Potenzialdifferenz an der
Oberfläche durch Dipol-Doppel-schicht
(positiven Cs und negativer Zn-Ionen)
Gelangt so das Vakuumniveau unter die Leitungsbandunterkante EC, so entsteht eine effektive negative
Elektronenaffinität (NEA).
Elektron relaxiert innerhalb von ca. 10-12 s durch Stöße mit dem Gitter zu E=EC, lebt aber ca. 100 mal
länger, bevor es mit einem Loch rekombiniert. Bei positiver Elektronenaffinität kann es also nach 10-12 s
nicht mehr die Oberflächenbarriere überwinden, bei negativer Elektronenaffinität kann es aber noch bis zu
einer Zeit von ca. 10-10 s den Halbleiter verlassen. Die Fluchtweglänge ist also bis zu 100 mal größer, die
Quantenausbeute wesentlich höher, bis zu 40 % .
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Dunkelstrom
Elektronen/(cm22s)
OE 11.11
SS 2008
•ohmschen Leckstrom über isolierte Strecken bei hohen el.
Feldern
A/cm2
Dunkelstrom durch
•Austritt von Elektronen aus der Photokathode aufgrund ihrer
thermischen Energie – erzeugt Offset und Rauschen,
multipliziert mit evtl. Verstärkung
4πem ( kT ) 2 − kT
j=
e
3
h
Φ = EG / 2 + χ
Φ
Stromdichte thermischer
Elektronen nach Richardson
Thermische Austrittsarbeit eines
Eigenhalbleiters
Die meisten Photokathoden sind p-Halbleiter wegen der
tieferen Lage des Ferminiveaus (im Vergleich zum nHalbleiter), von dem die thermische Austrittsarbeit beginnt.
Kühlung mit Peltier-Elementen oder mit flüs-sigem N2 reduziert
die thermische Emission stark!
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Vervielfachung der Elektronen im PMT/SEV
OE 11.12
SS 2008
Sekundärelektronenausbeute Ns/N0 abhängig vom Material und der Primärenergie
E0.
Drei Prozesse sind erforderlich:
Auftreffende Elektronen stoßen Elektronen im Material und erhöhen deren
kinetische Energie.
Einige von diesen Elektronen bewegen sich zur Oberfläche.
Diejenigen mit Energien höher als die Oberflächenbarriere treten aus.
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Sekundärelektronenvervielfachung
OE 11.13
SS 2008
Je höher die Primärenergie desto mehr angeregte Elektronen gibt es und umso mehr in
größeren Tiefen. Die Fluchtwahrscheinlichkeit nimmt exponentiell mit der Tiefe ab.
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Grundbeschaltung und Linearität im DC-Mode
OE 11.14
SS 2008
Zur Erzeugung der Stufenspannungen ohmsche
Widerstandskette, über der die Hochspannung
geteilt wird.
Anodenstrom = verstärkter Kathodenstrom
fließt über Messwiderstand RL ab.
Photomultiplier nur linear, wenn Kettenstrom
sehr groß (Faktor ≥ 100) gegen Anodenstrom ist
Bei stark pulsierender Bestrahlung werden die letzten
Kettenwiderstände kapazitiv abgestützt.
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Photon counting (Photonenzählen)
OE 11.15
SS 2008
Antwort auf einen 0,5 ns
Impuls
Ladungsimpuls am PM-Ausgang als Antwort
eines Bestrahlungspulses, der durch eine DeltaFunktion beschrieben wird (u.U. eines Photons)
Transitzeit ≥ 1 ns, abhängig von PM-Struktur und
Hochspannung, Impulsbreite – einige ns
Transitzeit – mittlere Zeit nach Delta-Erregung
bis zum Auftreten eines Ausgangsimpulses
Impulsform abhängig von RC-Beschaltung des
Ausgangs:
RLCL << Lichtpulsbreite – formgetreue Wiedergabe
Impulsbreite durch Laufzeitunterschiede
Photonenzählen, wenn 1/(RLCL) >> Photonenrate
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Photon counting (Photonenzählen)
OE 11.16
SS 2008
Bei genügend kleinen Bestrahlungsstärken (dies kann auch künstlich durch Abschwächung erzeugt
werden) können diskrete Pulse aufgelöst werden.
Damit kann die Messung der Lichtintensität auf ein Zählen digitaler Signale zurückgeführt werden.
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PMT-Anwendungen
z.B. als Röntgendetektoren in
Medizintechnik
Homeland Security
OE 11.17
SS 2008
z.B. als Detektoren, wenn es extrem
wenig Licht gibt. Dabei direkte Konkurrenz
mit APDs
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OE 11.18
SS 2008
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II.
III.
IV.
V.
VI.
VII.
VIII.
IX.
X.
XI.
Einleitung
Physikalische Grundlagen der Optoelektronik
Herstellungstechnologien
Halbleiterleuchtdioden
Optik in Halbleiterbauelementen
Laserdioden
Betrieb von Leucht- und Laserdioden
Quantendetektoren
VIII.1 pn-Photodioden
VIII.2 pin-Photodioden
VIII.3 Avalanche Photodioden
VIII.4 Photowiderstände
VIII.5 Photomultiplier
Thermische Detektoren
Nachweisgrenzen und Rauschen
Bildsensoren
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OE 11.19
SS 2008
Prinzip thermischer Detektoren
Temperatur-
Φ
J
C 
K
änderung
∆T
TemperaturSensor
elektrisches
Signal
Wärmekapazität
Wärmeleitwert
W
G 
K
Wärmesenke
Thermische Detektoren sind fast
immer langsam (~1ms), dafür aber
wellenlängenunabhängig.
Eine typische Anwendung ist der
IR-empfindliche Bewegungsmelder.
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Leistungsbilanz des thermischen Detektors
d( ∆T)
C
= α ⋅ Φ − G ⋅ ∆T
dt
Φ = Φ 0 + Φ cos ( ωt )
Bilanzgleichung (α ist hier der
dimensionslose Absorptionsgrad)
modulierte Strahlungsleistung
Lösung der
Differentialgleichung
∆T = ( ∆T) ω ⋅ cos(ω⋅ t + ϕ)
( ∆T)ω =
α ⋅ Φω
2
2
G +ω C
 ω⋅ C 
ϕ = c tan 

G


C
τT =
G
2
=
OE 11.20
SS 2008
1
2
1 + ω τT
2
α ⋅ Φω
G
Temperaturamplitude
Phasenverschiebung
Thermische Zeitkonstante
Universität Karlsruhe (TH)
Research University founded 1825
Seebeck-Effekt
OE 11.21
SS 2008
Seebeck-Effekt:
Tritt über einem Leiter oder Halbleiter ein Temperaturdifferenz ∆T auf, so diffundieren mehr heiße
Elektronen vom heißen zum kalten Ende als langsame Elektronen in umgekehrter Richtung. Die
entstehende Potentialdifferenz ∆U ∼ ∆T erzeugt einen dem resultierenden Diffusionsstrom entgegengesetzt gleich großen Feldstrom. Nur die Thermospannung über den Enden zweier einseitig
kontaktierter Thermoschenkel aus verschiedenen Materialien ist messbar:
∆U = (αS,1 − αS,2 )(T2 − T1 ) = αS,12 ⋅ ∆T
Seebeck-Koeffizient αS von Metallen ist relativ
klein – einige µV/K – die von Halbleitern relativ
groß – einige zehn µV/K.
Sie addieren sich für n- und p-Halbleiter des
gleichen Materials.
Verbreitet sind die Kombinationen Ag – Pd, Bi –
Te, Sb – Bi sowie n- und p-Halbleiter aus
BiTeO3.
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Research University founded 1825
OE 11.22
SS 2008
Optimierung von Thermosäulen
Optimierung:
1.
großer Seebeck-Koeffizient αS
2.
große elektrische Leitfähigkeit σ zur Minimierung Joulescher
Wärme
3.
kleine thermische Leitfähigkeit κ zur Minimierung von
Wärmeleitung vom heißen zum kalten Kontakt
Gütezahl σ αS2 / κ relativ klein für Metalle, nicht nur wegen der kleinen Seebeck-Koeffizienten sonder auch wegen des Zusammenhangs κ/(σT)=LLorenz (Wiedemann-Franz).
Bestes thermoelektrisches Material – hoch dotierte Halbleiter, z.B. Bi2Te3.
Thermosäule entsteht durch Serien- und Parallelschaltung von Thermoelementen z.B.
aus Sb und Bi,
besitzt höhere Empfindlichkeit und größere Empfängerfläche im Vergleich zum
einzelnen Strahlungsthermoelement und wird
eingesetzt als Laserdetektor oder zur aselektiven Radiometrie
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OE 11.23
SS 2008
Eigenschaften von Thermosäulen
Herstellung meist mit Dünnfilmtechnik:
Thermoelektrische Materialen aufgedampft auf einer sehr dünnen isolierenden
Membran aus Al2O3 oder PTFE und betrieben unter Schutzgas (Ar)
Typisch 12 –120 Kontakte, aktive Fläche von 0,2 x 2 mm2 bis etwa 28 mm2
Zeitkonstante zwischen 10 ms und 300 ms
DC-Spannungsempfindlichkeit von 1 – 30 V/W
Temperaturkoeffizient der Empfindlichkeit von –0,3 bis – 3%/K
Ausgangswiderstand von 1 – 40 kΩ
Messbereich von 1 nW bis 100 µW
Problematisch ist die Temperaturdrift durch Änderung der Umgebungstemperatur,
gemindert durch Schalten von bestrahlten und unbestrahlten Thermoelementen in
Differenz oder durch Choppen der Strahlung und Hochpassfilterung
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Bolometer - Spannungsempfindlichkeit
OE 11.24
SS 2008
Bolometer – Widerstandselement mit großem Temperaturkoeffizienten αR
in Dünnschichttechnik aufgebracht auf isolierendem Al2O3 oder SiO2
∆U = I ⋅ ∆R = I ⋅ α R ⋅ R ⋅ ∆T
(∆T)ω =
bei eingeprägtem Strom I durch Temperaturänderung
∆T erzeugte Spannungsänderung ∆ U über Bolometer
α ⋅ Φω
G 2 + ω2 C2
α ⋅ αR
∆U
= R ⋅I
=
2
2
2
Φω
G +ω C
α
αR ⋅ R ⋅ I / G
1 + ω2 τT 2
s=
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Research University founded 1825
Bolometer
OE 11.25
SS 2008
Für hohe Empfindlichkeit s nicht nur möglichst großer Temperaturkoeffizient αR und
Absorptionsgrad α sondern auch große Widerstands- und Stromwerte R und I.
Aller-dings: R und I sind zu begrenzen wegen Joulescher Wärmeentwicklung und
insbesondere R in Verbindung mit der Verstärkereingangskapazität wegen größerer
el. Zeitkonstante
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Supraleitender Bolometer → IMS(M. Siegel)
OE 11.26
SS 2008
- Einzelphotonenempfindlichkeit
- Energieaufllösung !
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Pyroelektrische Detektoren
OE 11.27
SS 2008
Pyroelektrisches Material besitzt niedrige
kristalline Symmetrie und eine spontane
elektrische Polarisation.
Signal nur mit Wechsellicht!
Stationär ist das innere el. Feld gleich ausgerichteter elektrischer Dipole kompensiert
durch das Feld von Ladungen auf der
Materialoberfläche.
Durch Temperaturerhöhung erniedrigt sich die
spontane Polarisation und damit das Dipolfeld.
Da das Material ein recht guter Isolator ist,
verbleibt auf der Oberfläche für den Moment der
Temperaturänderung die nun nicht mehr
kompensierte äußere Ladung.
Ausgeführt als Kondensator mit einseitig transparenter Elektrode und mit dem pyroelektrischem Material als Dielektrikum fließt bei geschlossenem Außenkreis durch den Detektor
ein Verschiebungsstrom. Ersatzschaltung: Spannungsquelle in Serie mit Kondensator!
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Einsatz und Betrieb pyroelektrischer Empfänger
OE 11.28
SS 2008
Schaffung eines breitbandigen RadiometerMesskopfes mit nahezu aselektiver spektr.
Empfindlichkeit durch Strahlungsfalle
(Kavität) über dem Detektor und kleiner „total
absorbierender“ Öffnung – absoluter
Empfänger (Empfänger mit berechenbarer
Empfindlichkeit)
Pyroelektrischer Detektor:
Elektrischer Betrieb mit großem Lastwiderstand
von 105 – 1011 Ω und nachgeschaltetem FETSourcefolger (Impedanzwandler)
Anwendung in Bewegungsmeldern
(Alarmanlagen), Taudetektoren, InfrarotBildtechnik, IR-Spektroskopie
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OE 11.29
SS 2008
Golay-Zelle
Schematische Darstellung einer Golayzelle - thermopneumatischer Detektor
Fenster
Piezoelement oder verstimmbarer Kondensator
Gas
hν
Gasgefüllte Zelle wird durch Fenster bestrahlt. Die vom
Gas absorbierte Strahlung heizt dieses auf und erhöht den
Gasdruck. Der Druckanstieg wird entweder durch ein
piezokeramisches Element oder einen Kondensator, dessen eine Elektrode als bewegliche Membran ausgeführt
ist, in eine Spannungsänderung umgesetzt.
Besonders geeignet für die Gasanalyse, wenn die Wellenlänge der Strahlung auf
eine starke Absorptionsbande – meist im IR -, eines Molekülgases abgestimmt wird.
Zeitkonstante – ca. 10 ms
Spektralbereich – VIS bis Millimeterwellen
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