Evaluation of noise performance and Gq on DEPFET

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Interne Verstärkung und Rauschverhalten von
DEPFET Pixelsensoren
DPG Frühjahrstagung
Freiburg, 03-07.03.2008
Stefan Rummel
für die DEPFET Kollaboration
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DPG Frühjahrstagung, Freiburg
Stefan Rummel, MPI für Physik
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Überblick
DEPFET Prinzip
DEPFET als Vertexdetektor für ILC
DEPFET intrinsisches Rauschen bei hoher Bandbreite
Interne Verstärkung Gq – Skalierungspotential
Zusammenfassung - Ausblick
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Stefan Rummel, MPI für Physik
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DEPFET – Depleted Field Effect Transistor
Verbindung von hochohmigen Basismaterial
mit p-MOSFET Verstärker “APS”
Potential Minimum unter dem Kanal mittels
Seitwärtsdepletion und n-Dotierung
Elektronen im “internen Gate” modulieren den
Transistorstrom
Ladung wird mittels Clear Kontakt entfernt
● Großes sensitives Volumen durch voll
depletiertes Substrat
● Geringes Rauschen durch kleine Kapazität
des Internen Gates
● Transistor kann mit dem externen Gate
ausgeschaltet werden –
Ladungssammlung weiterhin aktiv
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DEPFET – Matrix operation
gate
DEPFET- matrix
clear
off
off
on
on
off
off
GATE
SWITCHER
CLEAR
SWITCHER
nxm
pixel
off
off
VGATE, ON
IDRAIN
VGATE, OFF
drain
VCLEAR, ON
VCLEAR, OFF
FRONTEND
0 suppression
output
●Spaltenparalleles Design für schnelle Auslese
●Auslese Zeilenweise – Sample–Clear–Sample – kein Ladungstransfer
●Geringe Leistungsaufnahme – nur eine Zeile während Auslese aktiv
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DEPFET als Vertexdetektor für ILC
Θ)
• IP - Auflösung:  d  5 µm 
10µm
3
p  sin 
GeV
c
[Tesla TDR, LDC DOD]
2
Hohe Punktauflösung <5µm
Materialbudget von 0.1% X0 je Lage
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Auslesegeschwindigkeit - Beamstrahlung
Synchrotronstrahlung durch Streuung - Beamstrahlung
e--e+ Paarerzeugung im EM-Feld des Strahls
Mustererkennung erfordert geringe Besetzung <0.1%
Implikationen für den Detektor:
●Hohe Framerate >20kHz (innerste Lage)
>4kHz (Lage 2-5)
●Hohe Bandbreite ~ 50MHz
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[LDC DOD]
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Setup mit schnellem Verstärker
First stage:
TIA AD8015
10kΏ
Second stage:
AD8129
A=10
DEPFET
Low pass filter
Drain
ADC
-3dB
R bias 39kΩ
@ 110MHz
Clear
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DEPFET – Rauschen bei hoher Bandbreite
ENC bei 50MHz Rauschen <50eDEPFET intrinsisch rauscharm
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Externe Rauschquellen – Interne Verstärkung
Interne Verstärkung gq:
dI d
1 dI d  pA 
1
gq 

 gq 
Id
 

dQint Cint dU ext  e 
Lgate
Beitrag externe Rauschquellen hängt direkt mit der internen
Verstärkung des DEPFET zusammen:
Noiseexternal
ENCexternal 
gq
Um optimales S/N zu erreichen gilt es die interne Verstärkung gq zu
maximieren!
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Gq für verschiedene Teststrukturen
●Gq verhält sich qualitativ wie erwartet
●für L=4µm gq nahezu 1nA/e
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Interne Verstärkung - Simulation
@ 50µA drain current
Assuming an under etching of 1.2micron
•
Gute Übereinstimmung zwischen Simulation und Messung!
•
L Gate ist der wichtigste Parameter um das Gq zu erhöhen!
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Ausblick - Zusammenfassung
●Intrinsisches Rauschen des DEPFET <50e- bei 50MHz
Bandbreite
●Interne Verstärkung von bis zu 1nA/e möglich, weiteres
Potential vorhanden
●DEPFET sehr guter Kandidat für den ILC Vertexdetektor
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ENCinternal 
H( f ) 
I out
RMS
gq
1

gq
21  cos( 2x cds ) 


2
3
kTgm  H ( f ) df
2
0
2
 f 
(1    )
 fc 
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