Physikalisches Praktikum Universität der Bundeswehr München

Werbung
Physikalisches Praktikum
Versuch 17: Lichtbeugung
Universität der Bundeswehr München
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut für Physik
Oktober 2015
Versuch 17: Lichtbeugung
Im Modell der geometrischen Optik breitet sich Licht immer geradlinig aus. Der niederändische
Physiker Christiaan Huygens erkannte um 1650, dass die Lichtausbreitung unter gewissen Umständen
eben nicht einfach gradlinig verlief. ähnlich wie bei Wasserwellen oder Schallwellen konnte Huygens die Wellenphänomene Beugung und Interferenz von Licht nachweisen. Er begründete das
HuygensÂ’sche Prinzip“, welches noch Heute für die Erklärung von Lichtbeugung und Lichtin”
terferenz Gültigkeit besitzt.
1. Lernziele dieses Versuchs
Die Studierenden sollen...
1.1 ... den Wellencharakter des Lichts (Huygens Prinzip) verstehen.
1.2 ... die daraus resultierenden Phänomene Beugung am Spalt und Interferenzen am
Gitter verstehen und sich die Konsequenzen ihrer Überlagerung vergewissern.
1.3 ... die grundsätzliche Funktionsweise eines Lasers beschreiben können.
1.4 ... die Fehler unterschiedlicher Messmethoden sinnvoll abschätzen, miteinander vergleichen und die Konsequenzen interpretieren.
2. Vorraussetzungen
Vorlesungsstoff zu den Themen: Beugung und Interferenz allgemein und am Gitter im Speziellen.
Selbststudium zu den Themen: Funktionsweise eines He-Ne-Lasers, Huygens Prinzip, Beugung von Licht an einem Spalt (wo entstehen die Maxima und Minima in Abhängigkeit
von Wellenlänge, Ordnung und Spaltbreite?), Interferenzen am Gitter (Wo entstehen die
Maxima und Minima in Abhängigkeit von Wellenlänge, Ordnung und Spaltabstand?).
3. Literatur
Hering, Martin, Stohrer, Physik für Ingenieure, Kapitel 6.4
(als .pdf-Datei über die Uni-Bibliothek downloadbar)
Mitschrift zur Vorlesung Physik 1
Wilhelm Walcher: Praktikum der Physik
2
4. Versuchsbeschreibung
In diesem Versuch wird die Spaltbreite und der Spaltabstand von Strukturen auf mehreren
Dias vermessen. Diese Größen werden mit zwei unterschiedlichen Methoden ermittelt. Die
erste Methode verwendet ein Mikroskop mit einem Kalibriermaßstab. Die zweite Methode
verwendet einen He-Ne-Laser und macht sich die Welleneigenschaften des Lichts zu nutze.
Dazu wird das durch den Spalt bzw. das Gitter erzeugte Beugungs- und Interferenzbild mit
einem xy-Schreiber aufgezeichnet. Über die geometrische Anordnung des Versuchsaufbaus
lassen sich Spaltabstand und Spaltbreite auf den Dias bestimmen.
Abbildung 1: Prinzipskizze des optischen Tisches
5. Versuchsvorbereitung
5.1 Informieren Sie sich über Beugung und Interferenzen am Spalt bzw. Gitter. Fertigen
Sie dazu die prinzipiellen Skizzen im Praktikumsprotokoll an.
5.2 Notieren Sie die Formeln für Beugungsmaxima bzw. Beugungsminima. Notieren Sie
die Formeln für konstruktive bzw. destruktive Interferenz.
5.3 Der Versuchsaufbau ist in Abbildung 0.2 skizziert. Erklären Sie kurz, wozu jeweils der
He-Ne-Laser, das Gitter, der Detektor, der Verschiebeschlitten und der x-y-Schreiber
dienen.
5.4 Skizzieren Sie den Aufbau eines He-Ne-Lasers und beschreiben Sie kurz seine Funktionsweise mit Erklärung seiner wichtigsten Bauteile. Welche Funktionen erfüllen diese
Bauteile? Erklären Sie anhand des He-Ne-Lasers das Funktionsprinzip eines jeden
3
Lasers. (Pumpe, Besetzungsinversion, stimulierte Emission, Resonator)
5.5 Welche Eigenschaften hat Licht aus einem Laser? Warum sind diese es so wichtig für
diesen Versuch?
5.6 Wäre der Versuch auch mit einer Glühlampe oder LED sinnvoll? (Mit Begründung)
6. Versuchsdurchführung
Wichtig!
Nicht in den Laserstrahl oder den reflektierten Strahl blicken!
Der Versuch ist justiert. Bitte keine änderungen vornehmen!
6.1 Kalibrieren Sie die Okularskala des Mikroskops mit dem beiliegenden Kalibriermaßstab (mit Messungenauigkeitsangabe) Bestimmen Sie nun mit dem Mikroskop Spaltbreite und Spaltabstand von Einzel- und Mehrfachspaltanordnungen (4 Diapositive!).
6.2 Bei der Messung der ortsabhängigen Intensität wird ein mit einem Potentiometer
versehener Schiebeschlitten, der die Photodiode trägt, verwendet. Die Spannung am
Potentiometer ist proportional zum Weg, sie wird vom x-Eingang des Schreibers
registriert. Der Schreiberweg entspricht aber nicht direkt dem Schlittenweg, daher
ist eine Kalibrierung notwendig (wird in A3 gemacht). Bestimmen Sie den Abstand
dDetektor−Linse (mit Messungenauigkeitsangabe).
Abbildung 2: Der optische Tisch mit dem Detektor, Linse, Halterung für die Dias, Linse, Laser
(von links nach rechts).
4
6.3 Nehmen Sie mit dem Schreiber die Intensitätsverteilung der 4 verschiedenen Spaltanordnungen auf Millimeterpapier auf. Markieren Sie dabei Anfangs- und Endpunkt
auf dem Papier. Messen sie anschließend den Maximalweg des Verschiebeschlittens
(Messungenauigkeit), um den Schreiberweg kalibrieren zu können.
7. Auswertung
7.1 Bestimmen Sie aus den mit dem Schreiber aufgezeichneten Intensitätsverteilungen
die Lage der Maxima bei Zweifach-, Dreifach- und Mehrfachspalt und tragen Sie die
gemessenen Abstände mit der zugehörigen Ordnung in Tabellen ein. Zeichnen Sie
anschliessend diese Punkte in ein Diagramm ein. Legen Sie dann eine Ausgleichsgerade durch die Punkte und berechnen Sie aus deren Steigung sowie den Werten
für dDetektor−Linse und dem Kalibrierfaktor den jeweiligen Spaltabstand a und dessen
Messungenauigkeit unter Nutzung der Gaußschen Fehlerfortpflanzung. Bestimmen
Sie anschließend aus den Intensitätsverteilungen die jeweilige Position des Minimums
erster Ordnung des Beugungsbildes für Einfach-, Zweifach-, Dreifach- und Mehrfachspalt. Berechnen Sie daraus jeweils die Spaltbreite b und deren Messungenauigkeit
(Gaußsche Fehlerfortpflanzung).
7.2 Stellen Sie die berechneten Geometrien der Mehrfachspalte mit den Ergebnissen der
direkten Messung mit dem Mikroskop in einer Tabelle gegenüber (mit Fehlerangabe).
7.3 Beschreiben sie kurz die Form der aufgezeichneten Intensitätskurven der verschiedenen Spaltkonfigurationen. Sollten sich Abweichungen zu den theoretisch zu erwartenden Kurven ergeben, erläutern sie diese genauer. (Form der Maxima, relative Höhe
der Maxima). Wodurch könnten die Abweichungen verursacht werden?
5
Herunterladen