Optische Speichermedien

Werbung
Application Note
1/2
Optische Speichermedien
Seit ihrer Markteinführung Anfang der achtziger Jahre ist die Compact Disc (CD) zu
einem weitverbreiteten Speichermedium geworden. Die Speichermedien der nächsten
Generation basieren auf noch kleineren Datenstrukturen und bieten dadurch noch
höhere Speicherkapazitäten. Für die Entwicklung, Optimierung und die Qualitätskontrolle von solchen Speichermedien ist eine präzise Charakterisierung der als Datenträ-
Die Datenspeicherung auf einer CD oder DVD basiert auf der Umsetzung von digitalen Daten in sogenannte Pit­Strukturen, die in eine typischerweise aus
Polykarbonat bestehende Scheibe in Form von Vertiefungen eingebracht werden. Um das spätere optische
Auslesen der digitalen Informationen mittels eines
Lasers zu ermöglichen, wird das strukturierte Polykarbonatsubstrat mit einer gut reflektierenden Aluminiumschicht bedampft. Anschließend werden die
empfindlichen Datenstrukturen mit einer UV-Lichtaushärtenden Schutzlackschicht überzogen und mit
einer Beschriftung versehen.
Die folgende Abbildung zeigt schematisch den typischen Aufbau einer Compact Disc.
Reflexionsschicht
Aufdruck
Schutzlack
PolykarbonatSubstrat
Die Herstellung solcher Speichermedien erfolgt über
ein Spritzgussverfahren, bei dem die Polykarbonatscheiben meist als Abdruck einer Metall- oder Glasmatrize gefertigt werden. Entsprechend sind auf dieser als „Master“ fungierenden Matrize die digitalen
Daten als Erhöhungen kodiert.
Bei der Massenproduktion von solchen optischen
Speichermedien ist man bestrebt, die Spritzguss­
zyklen möglichst kurz zu halten, um so eine hohe
Produktionsrate zu erzielen. Typische Zykluszeiten
liegen bei nur wenigen Sekunden pro Compact Disc.
Auch bei einer relativ hohen Herstellungsgeschwindigkeit muss eine ausreichende Qualität der Compact
Discs, insbesondere die präzise Ausformung der digitalen Strukturen, gewährleistet sein. Mögliche Fehlerquellen sind insbesondere Defekte auf der Mastermatrize und Prozessfehler beim Spritzguss.
Charakterisierung
Die Rasterkraftmikroskopie ist geeignet, mögliche
Defekte und ihre Ursachen sowohl auf den Mastermatrizen als auch auf den Compact Discs lokal zu
untersuchen. Entscheidend hierfür ist, dass das Rasterkraftmikroskop (AFM) quantitative, dreidimensionale Informationen über die Pit-Form, -Tiefe, -Breite
Schematischer Aufbau einer Compact Disc.
Ist ein durch die DAkkS nach DIN EN ISO/IEC 17025 akkreditiertes Prüflaboratorium.
Die Akkreditierung gilt für die in der Urkunde aufgeführten Prüfverfahren.
Heisenbergstraße 11
48149 Münster, Germany
fon: +49.(0)251.53406300
fax: +49.(0)251.53406310
[email protected]
www.nanoanalytics.de
Application Note
2/2
und -Seitenwandwinkel sowie den Spurverlauf liefert. Ein Vorteil gegenüber rasterelektronenmikroskopischen Messungen (REM) besteht beim AFM
darin, dass strukturierte Oberflächen zerstörungsfrei
und ohne spezielle Präparationsschritte (z.B. Bedampfung) charakterisiert werden können. Die nebenstehenden Bilder zeigen die Oberfläche solch einer Metallmatrize, wie sie zur Produktion einer
Compact Disc verwendet wird. Bei entsprechender
Vergrößerung ist sogar die Feinstruktur der Metallmatrize zwischen einzelnen Datenbits zu erkennen.
Die im Spritzgußverfahren von einer solchen Metallmatrize abgeformten Compact Discs weisen unter
Umständen verfahrenstechnisch bedingte Fehler auf.
Auf der Basis von entsprechenden AFM-Messungen
ist eine gezielte Fehlersuche möglich. Wie in der unteren Abbildung dargestellt, wird dabei u.a. die PitTiefe vermessen. Diese darf nur in einem bestimmten
Toleranzbereich liegen, da sowohl zu tiefe als auch
zu flache Pits später zu Abspielfehlern führen könnten. Weitere mögliche Fehlerquellen sind Variationen
im Spurabstand sowie unsauber abgeformte Pits.
Mit Hilfe des Rasterkraftmikroskops können solche
Abweichungen ermittelt werden.
Bildbereich: 32 µm x 32 µm x 180 nm
Bildbereich: 8 µm x 8 µm x 180 nm
Bildbereich: 2 µm x 2 µm x 180 nm
Heisenbergstraße 11
48149 Münster, Germany
fon: +49.(0)251.53406300
fax: +49.(0)251.53406310
[email protected]
www.nanoanalytics.de
Rev140308
Ist ein durch die DAkkS nach DIN EN ISO/IEC 17025 akkreditiertes Prüflaboratorium.
Die Akkreditierung gilt für die in der Urkunde aufgeführten Prüfverfahren.
Herunterladen