1 Grundbegriffe

Tschechisches Metrologisches Institut
Okružní 31, 638 00
Brno
1. ------IND- 2014 0400 CZ- DE- ------ 20140829 --- --- PROJET
Managerzusammenfassung für die EK (kein Bestandteil dieser Rechtsvorschrift)
Luxmeter werden in der Tschechischen Republik als definierte Messgeräte gemäß Gesetz GBl. Nr.
505/1990 über die Metrologie mit Typengenehmigung und Ersteichung in Verkehr gebracht und in
Betrieb genommen. Gegenstand dieser notifizierten Vorschrift ist die metrologische Regulierung
mittels Typgenehmigung und Eichung von Messgeräten zur Messung der Beleuchtungsstärke.
Diese Vorschrift legt das geforderte metrologische Niveau für die Anerkennung von im Ausland
ausgestellten Typgenehmigungsbescheinigungen und im Ausland durchgeführten Eichungen von
Messgeräten fest.
(Ende der Zusammenfassung.)
GeschZ.: 0313/043/14/Pos.
Bearbeiter: Ing. Miroslav Pospíšil
Telefon: 545 555 135, -131
Das Tschechische Metrologische Institut (nachstehend nur „ČMI“) als sachlich und örtlich zuständiges
Organ für die Festlegung von metrologischen und technischen Anforderungen an definierte
Messgeräte sowie für die Festlegung von Prüfmethoden bei der Typenzulassung und Eichung
definierter Messgeräte gemäß § 14 Absatz 1 des Metrologiegesetzes GBl. Nr. 505/1990 in der jeweils
geltenden Fassung (nachstehend nur „Metrologiegesetz“), und gemäß der Bestimmung von § 172 des
Gesetzes GBl. Nr. 500/2004, Verwaltungsordnung in der jeweils geltenden Fassung (nachstehend nur
„VerwO“), hat am 23.6.2014 ein Verwaltungsverfahren gemäß § 46 VerwO eingeleitet und gibt auf
Grundlage der Unterlagen diese:
I.
ALLGEMEINVERFÜGUNG
Nummer: 0111-OOP-C043-14
GeschZ. 0313/005/14/Pos.,
zur Festlegung der metrologischen und technischen Anforderungen an definierte Messgeräte,
einschließlich der Prüfmethoden bei der Typgenehmigung und bei der Eichung definierter
Messgeräte:
„Luxmeter“ heraus.
Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
1 Grundbegriffe
Für die Belange dieser Allgemeinverfügung gelten die Ausdrücke und Definitionen gemäß VIM und
VIML1 und ferner die folgenden Begriffe und Definitionen.
1.1 Luxmeter
Gerät zur Messung der Beleuchtungsstärke, das aus einem Detektor der optischen Strahlung und einer
elektronischen Einheit besteht, welche das Signal des Detektors in eine Messgröße, welche das Signal
des Detektors in eine Messgröße zur Charakterisierung der auf den Detektor einfallenden Strahlung
umwandelt
ANMERKUNG: Ein Luxmeter ist eine spezielle Art eines integralen Radiometers, bei dem der Detektorteil eine
relative spektrale Empfindlichkeit hat, die an die wirksame Massenfunktion V (λ) angepasst ist.
1.2 Photoelektrischer Sensor
Umwandler der Strahlung im sichtbaren Bereich des Spektrums von 380 nm bis 830 nm, durch den
der äußere oder innere photoelektrische Effekt genutzt wird, in ein elektrisches Signal
1.3 CIE-Strahlung der Normlichtquelle A
Strahlung eines absolut schwarzen Körpers bei einer Temperatur von 2 856 K
1.4 Photopisches Sehen
Tagsehen mit Hilfe von Zapfen, beim dem Farben erkannt werden können; entsteht bei der Anpassung
des Auges an eine Leuchtdichte von größer als 3 cd × m-2
ANMERKUNG: Die spektrale Empfindlichkeit des Sensors der Strahlung ist beim photopischen Sehen durch
die Funktion V (λ) definiert. Die Funktion V (λ) ist eine konventionelle Funktion und wird in Tabellenform
dargestellt.
1.5 Relative spektrale Empfindlichkeit / relative spektrale Empfindlichkeit des Luxmeters srel (λ)
Quotient des Strahlungsstroms bei der Wellenlänge λ m zum Wert des Strahlungsstroms bei der
Wellenlänge λ, der im menschlichen Auge unter festgelegten Bedingungen eine Wahrnehmung
hervorruft
ANMERKUNG: λ m = 555 nm ist die Wellenlänge, bei der beim photopischen Sehen die spektrale
Empfindlichkeit des menschlichen Auges maximal ist.
1.6 Integrale Charakteristik f1'
beschreibt die Eignung der spektralen Anpassung des Detektors an die geforderte spektrale
Massenfunktion V (λ)
1.7 Richtungsfehler des Luxmeters
Fehler, der durch eine ungenaue Auswertung der Wirkungen des auf den Photometerkopf aus einer
anderen Richtung als der Senkrechten einfallenden Lichts verursacht wird
1.8 Linearität
Eigenschaft des Detektors, auf deren Grundlage die Ausgangsgröße zur Eingangsgröße direkt
proportional ist; die Abweichung von der Linearität ist die Nichtlinearität
Das Internationale metrologische Wörterbuch – Grundbegriffe und allgemeine Begriffe und zugeordnete
Termini (VIM) und das Internationale Terminologiewörterbuch in der gesetzlichen Metrologie (VIML) sind
Bestandteile des Sammelbands der technischen Harmonisierung „Terminologie auf dem Gebiet der Metrologie“
und stehen unter www.unmz.cz öffentlich zur Verfügung.
1)
2
Entwurf der Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
1.9 Temperaturabhängigkeit
die Änderung der Empfindlichkeit in Abhängigkeit von der Temperatur wird quantitativ durch den
Wärmekoeffizienten beschrieben
1.10 Empfindlichkeit im UV-Bereich fUV
unerwünschte Empfindlichkeit gegenüber Strahlung im UV-Spektralbereich, Luxmeter sollten nicht
gegenüber UV-Strahlung empfindlich sein, die Empfindlichkeit gegenüber UV-Strahlung kann durch
nicht vollständige Filterung der UV-Strahlung oder Einflüsse der Fluoreszenz verursacht werden
1.11 Empfindlichkeit im Infrarot-Bereich fIČ
unerwünschte Empfindlichkeit gegenüber Strahlung im Infrarot-Spektralbereich, Luxmeter sollten
nicht empfindlich gegenüber Infrarot-Strahlung sein
1.12 Basisfehler (des Messgeräts)
vor Beginn der Prüfungen zur elektromagnetischen
Referenzbedingungen bestimmter Messfehler des Messgeräts
Verträglichkeit
(EMV)
unter
1.13 Schwerwiegender Fehler (bei EMV-Prüfungen)
bei EMV-Prüfungen festgestellter Zustand, bei dem die Differenz zwischen dem bei den EMVPrüfungen festgestellten Messfehler und dem Basisfehler (des Messgeräts) größer ist als:
a) ein Drittel des Wertes des höchstzulässigen Fehlers für Luxmeter mit digitaler Anzeige;
b) der Wert des höchstzulässigen Fehlers für Luxmeter mit analoger Anzeige
2 Metrologische Anforderungen
2.1 Betriebsbedingungen
Die Betriebsbedingungen werden vom Hersteller der Luxmeter festgelegt.
2.2 Messbereich
Der Hersteller muss den Messbereich der Luxmeter spezifizieren.
Der Grundmessbereich der Luxmeter ist von 10 lx bis 10 000 lx.
2.3 Metrologische Parameter
Die entsprechenden Werte für die spezifizierten metrologischen Eigenschaften der Luxmeter sind in
Tabelle 1 angegeben.
Tabelle 1 – Festgelegte Werte für spezifizierte metrologische Eigenschaften
Beschreibung
Zeichen
Entsprechender Wert
Abweichung des Korrekturkoeffizienten kA vom Wert 1, ermittelt für
Messungen bei der Standardlichtquelle A
│kA-1│
8%
Abweichung des Korrekturkoeffizienten kj vom Wert 1 für andere
Lichtquellen
│kj-1│
 12 %
Integrale Charakteristik*)
f1'
9%
Empfindlichkeit im UV-Bereich*)
fUV
4%
Empfindlichkeit im Infrarot-Bereich
fIČ
4%
Nichtlinearitätsindex
f3
5%
f6
 20 %
*)
Index der Temperaturabhängigkeit
*)
3
Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
Index der Richtungsabhängigkeit*)
*)
f2
6%
Nur für Typenzulassung.
2.4 Relative spektrale Empfindlichkeit
2.4.1 Der Verlauf der relativen spektralen Empfindlichkeit srel (λ) muss so weit wie möglich an die
Funktion V (λ) angepasst sein. Um die Qualität eines Luxmeters gegenüber Quellen mit
unterschiedlicher Spektraldichte charakterisieren zu können, ist die Kenntnis der spektralen
Empfindlichkeit des Luxmeters erforderlich. Diese Empfindlichkeit muss im gesamten
Spektralbereich der vorgeschriebenen spektralen Massenfunktion (von 360 nm bis 830 nm), die in
Tabellenform, optimal mit einer Schrittweite von 5 nm, dargestellt werden sollte, spezifiziert werden.
Ist der spektrale Schritt größer, muss eine geeignete mathematische Form der Interpolierung gewählt
werden. Die Empfindlichkeit der Luxmeter gegenüber Strahlung außerhalb des Bereichs des
sichtbaren Spektrums muss unterdrückt werden (siehe Artikel 1.10 und 1.11).
2.4.2 Die Qualität der spektralen Anpassung von Luxmetern lässt sich mit verschiedenen Parametern
beschreiben. Allgemein wird die Nichtanpassung der relativen spektralen Empfindlichkeit des
Luxmeters srel (λ) an die Massenfunktion V (λ) in Form der integralen Charakteristik der spektralen
Nichtanpassung f1' charakterisiert. Für die Bewertung der integralen Charakteristik f1' ist eine Messung
der relativen spektralen Empfindlichkeit im Bereich von 380 nm bis 780 nm ausreichend.
2.5 Richtungsabhängigkeit
Die Richtungsabhängigkeiten für Luxmeter und deren Abweichungen vom verlangten Verlauf werden
im Bereich eines Einfallswinkels von 0° bis 85° bewertet.
Infolge der nicht ganz perfekten optisch-mechanischen Bauweise des Sensors des Luxmeters entsteht
beim Einfall des Lichts auf die Ebene des Sensors unter dem Winkel β ein Richtungsfehler.
Vom Hersteller muss der höchstzulässige Richtungsfehler als Differenz der Angabe des Luxmeters bei
Einfall einer Strahlung unter dem Winkel β und dem beim senkrechten Einfall gemessenen Wert,
multipliziert mit dem Wert cos β, angegeben werden. Bei der Eichung der photometrischen Skala wird
immer ein senkrechter Einfall verwendet, da in diesem Falle ein Einfluss des Richtungsfehlers nicht
geltend zu machen ist. In der Praxis kann jedoch das Licht unter verschiedenen Winkeln auf den
Sensor des Luxmeters einfallen, daher ist es erforderlich, diesen Einfluss zu quantifizieren.
Luxmeter, die zur Messung der Beleuchtungsstärke im Gelände vorgesehen sind, müssen mit einem
optischen Korrekturelement für die Korrektur des Richtungsfehlers, einem sog. Kosinus-Aufsatz,
versehen sein.
2.6 Linearität
Vom Hersteller muss die Reaktionslinearität im spezifizierten Messbereich festgelegt werden.
2.7 Temperaturabhängigkeit
Vom Hersteller muss die Temperaturabhängigkeit des Messgeräts spezifiziert werden.
Die Prüfung der Temperaturabhängigkeit erfolgt, sofern vom Hersteller nicht anders festgelegt, durch
Messungen des Luxmeters bei Temperaturen von 5 °C, 25 °C (Referenztemperatur) und 40 °C.
2.8 Weitere ergänzende Charakteristika
Als ergänzende Charakteristika können die Empfindlichkeit des photometrischen Kopfes auf UVStrahlung, die Empfindlichkeit des photometrischen Kopfes auf Infrarotstrahlung, die
Polarisationsempfindlichkeit des Luxmeters und der Einfluss modulierter Strahlung festgelegt werden.
4
Entwurf der Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
3 Technische Anforderungen
3.1 Allgemeines
Luxmeter müssen über eine feste Konstruktion verfügen und aus Werkstoffen der entsprechenden
Stabilität und Festigkeit hergestellt sein, damit sie ohne Funktionsstörungen und unerwünschte
Zeitänderungen ihrer metrologischen Parameter beständig gegenüber den üblichen Verwendungs- und
Umweltbedingungen, denen sie ausgesetzt sind, sind.
3.2 Photoelektrische Sensoren
Die bauliche Ausführung des photoelektrischen Sensors muss so sein, dass er bei der üblichen
Reinigung nicht beschädigt werden kann.
Bei Luxmetern, bei denen die Schutzhülle des Sensors aus elektrisch leitenden Teilen besteht und der
Wert des Isolierwiderstands (Widerstand zwischen der Innenleitung und der Hülle des Sensors) die
metrologischen Eigenschaften des Luxmeters beeinflussen kann, muss der Wert des Isolierwiderstands
vom Hersteller in der technischen Dokumentation angegeben werden.
3.3 Anzeigevorrichtungen
Analoge Anzeigevorrichtungen der Luxmeter müssen eine Skaleneinteilung von ≤ 5 lx haben.
Digitale Anzeigevorrichtungen der Luxmeter müssen eine Auflösung von 1 lx und besser haben. Die
Ziffernhöhe bei Digitalanzeigen muss mehr als 4 mm betragen.
Die Maßeinheit für die Messung der Beleuchtungsstärke ist lx.
Durch das Außengehäuse muss die Anzeigeeinrichtung sicher vor äußeren Einflüssen, die bei der
Messung der Beleuchtungsstärke auftreten (vor allem vor Kondensationsfeuchtigkeit), geschützt
werden.
Bei Handgeräten müssen alle technischen Daten bezüglich des Geräts klar erkennbar und verständlich
an der Skala des Geräts bzw. in deren Umgebung angegeben sein.
3.4 Zusatzeinrichtungen
Luxmeter können mit einer Aufzeichnungsvorrichtung zur Überwachung des zeitlichen Verlaufs der
Beleuchtungsstärke ausgestattet sein.
Luxmeter können mit einer Kommunikationsschnittstelle ausgestattet sein, die den Anschluss von
Zusatzeinrichtungen gestattet.
3.5 Software
Bei elektronischen Luxmetern muss eine vom Gerät identifizierbare Software verwendet werden
(unter Ausnahme von Fällen, wo ausschließlich Messgrößen angezeigt werden und keine weiteren
Funktionen verfügbar sind). Die Software muss gegen zufällige oder vorsätzliche Beeinflussung bzw.
Beschädigung gesichert sein und dem Dokument der technischen Normung WELMEC 7.22)
entsprechen.
3.6 Stromversorgung
Luxmeter können aus einer unabhängigen Stromversorgungsquelle oder mit Hilfe eines Adapters aus
dem Netz gespeist werden.
Luxmeter mit äußerer Stromversorgung müssen an eine Versorgung mit einem Nennwert (Wechseloder Gleichspannung) angeschlossen werden können. Die Luxmeter müssen mit einem
entsprechenden Stecker versehen sein.
2)
WELMEC 7.2 Software Guide; öffentlich zugänglich auf www.welmec.org
5
Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
Eine unabhängige Stromversorgungsquelle muss in der Herstellerspezifikation definiert sein und das
Luxmeter muss eine Neuaufladung der Stromversorgungsquelle oder deren Austausch signalisieren
und sich beim Absinken der Versorgungsspannung unter die vom Hersteller festgelegten Grenzen
selbst sperren oder abschalten.
Bei batteriebetriebenen Luxmetern muss eine Möglichkeit für die Anzeige des Batteriestands
bestehen.
3.7 Störfestigkeit gegen äußere Umgebungseinflüsse
3.7.1 Mechanische Störfestigkeit
Die Konstruktion der Luxmeter und die verwendeten Werkstoffe müssen eine ausreichende Festigkeit,
Stabilität und Störfestigkeit gegen mechanische Stöße und freien Fall besitzen, sofern eine solche
Störfestigkeit vom Hersteller in der technischen Dokumentation des Geräts angegeben ist.
3.7.2 Störfestigkeit gegen Grenzbedingungen für Lagerung und Transport
Die Luxmeter und ihre Teile müssen ohne Beschädigung und ohne Verschlechterung der
metrologischen Eigenschaften den vom Hersteller in der technischen Dokumentation des Geräts
(deklarierte Schutzstufe des Gehäuses) angegebenen Grenztemperaturen für die Lagerung von -30 °C
und +70 °C standhalten.
3.8 Elektromagnetische Verträglichkeit
Luxmeter, die elektronische Komponenten enthalten, dürfen durch elektrische oder
elektromagnetische Störungen nicht beeinflusst werden oder müssen auf solche Störungen auf
festgelegte Weise (z. B. durch Fehlermeldung, Blockierung der Messung u. Ä.) reagieren. Sie dürfen
auch keine unerwünschten elektromagnetischen Felder abstrahlen.
Für Luxmeter, die elektronische Komponenten enthalten, ist die elektromagnetische Umgebungsklasse
E1 (d. h. Wohn- oder Geschäftsräume oder Leichtindustrieumgebung) definiert.
3.9 Beständigkeit gegen unbefugte Manipulation
Die Luxmeter dürfen keine Eigenschaften haben, die eine betrügerische Verwendung erleichtern,
ferner müssen die Möglichkeiten einer unbeabsichtigten fehlerhaften Verwendung minimal sein.
Komponenten, die der Benutzer nicht zerlegen oder justieren darf, müssen gegen derartige Aktivitäten
gesichert sein.
Die Einstellelemente der Luxmeter müssen so gesichert sein, dass es bei üblicher Handhabung nicht
zu einer Änderung der Einstellungen ohne Beschädigung der amtlichen Marken kommen kann.
4 Kennzeichnung der Messgeräte
4.1 Allgemeines
Sämtliche Aufschriften und Zeichen müssen unter üblichen Bedingungen leicht sichtbar, leicht lesbar
sowie unauslöschbar sein.
Luxmeter müssen mindestens mit den folgenden Angaben gekennzeichnet sein:
–
Bezeichnung des Herstellers,
–
Typbezeichnung,
–
Herstellungsnummer des Messgeräts und des Fühlers, sofern abnehmbar,
–
Messbereiche und verwendete Maßeinheit,
–
Stromversorgung,
–
Typgenehmigungszeichen.
6
Entwurf der Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
4.2 Kennzeichnung mit amtlichen Marken
Es müssen geeignete Stellen für die Anbringung der Typgenehmigungsmarke und der amtlichen
Marke (der amtlichen Marken) sichergestellt werden, die folgende Anforderungen erfüllen:
–
untrennbarer Bestandteil des Messgeräts,
–
verdeckt keine anderen Kennzeichnungen am Gerät,
–
Stelle, an der die Marke durch die übliche Nutzung des Geräts nicht beschädigt werden kann.
Ist ein Luxmeter mit einer Öffnung für den Zugang zum Justierungselement versehen, wird diese
Öffnung mit einer kleinen Marke überklebt. Ebenso auch mindestens eine Schraube des Gehäuses des
Geräts, nach deren Lösen der Zugang zu den Justierungselementen möglich wird.
5 Typenzulassungen der Messgeräte
5.1 Allgemeines
Das Verfahren der Typenzulassung besteht aus folgenden Prüfungen:
–
äußere Prüfung,
–
vorläufige Funktionsprüfung,
–
Genauigkeitsprüfung,
–
Prüfung der Linearität,
–
Prüfung der relativen spektralen Empfindlichkeit,
–
Prüfung der Empfindlichkeit auf UV- und Infrarot-Strahlung,
–
Prüfung der Temperaturabhängigkeit,
–
Prüfung der Richtungsabhängigkeit,
–
Prüfungen der Störfestigkeit gegen äußere Einflüsse:
–
–
Prüfung der Störfestigkeit gegen Grenztemperaturen für Lagerung und Transport,
–
Prüfung des Schutzes gegen das Eindringen von Wasser und Fremdkörpern (Schutzgrad
des Gehäuses),
Prüfungen der elektromagnetischen Verträglichkeit:
–
Prüfung der Störfestigkeit gegen abgestrahlte hochfrequente elektromagnetische Felder,
–
Prüfung der Störfestigkeit gegen elektrostatische Entladungen.
5.2 Äußere Prüfung
Bei der äußeren Prüfung der Luxmeter werden beurteilt:
–
Vollständigkeit der vorgeschriebenen technischen Dokumentation,
–
Übereinstimmung der vom Hersteller in der Dokumentation spezifizierten metrologischen und
technischen Eigenschaften mit den in den Kapiteln 2, 3 und 4 genannten Anforderungen dieser
Vorschrift,
–
Vollständigkeit und Funktionszustand der Luxmeter gemäß der vorgeschriebenen technischen
Dokumentation,
–
Übereinstimmung der Softwareversion des Luxmeters mit der vom Hersteller spezifizierten
Version.
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Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
5.3 Vorläufige Funktionsprüfung
Wegen des Temperaturausgleichs muss das Gerät ausreichend lange Zeit vor der Messung in ein
temperaturstabilisiertes Labor (auf 25 ± 2) °C gebracht werden.
Der photoelektrische Sensor wird in einem Halter in der optischen Null der photometrischen Bank
befestigt, die Anzeigeeinheit wird in die vorgeschriebene Position gebracht.
In einem nicht abgedunkelten photometrischen Labor erfolgt die vorläufige Überprüfung der Funktion
des Luxmeters durch Messung des Lichthintergrunds in der Mitte des Labors.
Nach Abdunklung des photometrischen Labors wird die Nullauslenkung des Geräts überprüft bzw.
eingestellt, sofern das Luxmeter dies gestattet.
5.4 Genauigkeitsprüfung
5.4.1 Allgemeines
Die Genauigkeitsprüfung kann wie folgt durchgeführt werden:
–
entweder unter Verwendung eines Eichmaß-Luxmeters als Referenz; oder
–
unter Verwendung eines Satzes photometrischer Eichmaß-Glühbirnen der Leuchtkraft mit
definierten Werten der Farbtemperatur.
5.4.2 Genauigkeitsprüfung unter Verwendung eines Eichmaß-Luxmeters als Referenz
Die photometrischen Sensoren des Eichmaß-Luxmeters und des zu prüfenden Luxmeters werden
abwechselnd so eingestellt, dass die optische Achse der photometrischen Bank durch die Mitte des
photometrischen Sensors der Luxmeter verläuft und parallel zum Normal der empfindlichen Fläche
des photometrischen Sensors ist. Die gegenseitige Lage der photometrischen Sensoren des zu
prüfenden Luxmeters und des Eichmaß-Luxmeters wird so eingestellt, dass beide Sensoren die
Beleuchtungsstärke in der gleichen Messebene messen. Handelt es sich um einen photometrischen
Sensor mit sphärischem Gehäuse, sollte er mit einer „Kante“ für die genaue Festlegung der Ebene
versehen sein.
Als Lichtquelle wird eine photometrische Glühbirne mit einem Wert der Farbwärme der emittierten
Strahlung entsprechend einer Temperatur von 2 856 K (CIE-Normlichtquelle A) verwendet. Die
Glühbirne wird so eingestellt, dass die Mitte des Glühfadens der Glühbirne sich in der optischen
Achse der Bank befindet und die Ebene des Glühfadens der Glühbirne zur optischen Achse der Bank
senkrecht ist. Alle Messungen erfolgen für eine Leuchtdauer von zehn Minuten bei einer
Stromversorgung der Glühbirnen mit einer stabilisierten Gleichspannung in senkrechter Lage des
Sockels nach unten. Durch Verschiebung der Glühbirne über die photometrische Bank wird der
jeweilige Wert der Beleuchtungsstärke in der Ebene der photometrischen Sensoren eingestellt, die
Daten des Eichmaß-Luxmeters und des zu prüfenden Luxmeters werden abwechselnd abgelesen. Die
Eichung des Luxmeters erfolgt laut Methodik in fünf Punkten jedes Bereichs und zwar bei den
Werten 10 %, 30 %, 50 %, 70 % und 90 % des Messbereichs.
Aus den Messwerten wird der Korrekturkoeffizient des zu prüfenden Luxmeters kA für den gegebenen
Wert der Beleuchtungsstärke wie folgt berechnet:
kA 
Eet
Ezk
(1)
wobei
Eet die mit dem Eichmaß-Luxmeter gemessene Beleuchtungsstärke bei Beleuchtung durch die
Lichtquelle A ist,
Ezk die mit dem zu prüfenden Luxmeter gemessene Beleuchtungsstärke bei Beleuchtung durch die
Lichtquelle A ist.
8
Entwurf der Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
Die ermittelte Abweichung des durchschnittlichen Korrekturkoeffizienten kA vom Wert 1 bei der
Prüfung muss den in Artikel 2.3 angegebenen Parametern entsprechen.
5.4.3 Genauigkeitsprüfung unter Verwendung eines Satzes photometrischer EichmaßGlühbirnen der Leuchtkraft
Am Eichmaß der Leuchtkraft werden Spannung und Strom nach dem Kalibrierblatt des Eichmaßes
stetig eingestellt und die Stabilisierung abgewartet. Dann wird das Eichmaß nacheinander in
Abständen von 1 m, 2 m, 3 m, 4 m und 5 m vom Fotoelement des zu prüfenden Luxmeters aufgestellt.
Bei jeder Änderung des Abstands lässt man die Eichmaß-Glühbirne sich mindestens 15 s stabilisieren,
anschließend wird der Messwert abgelesen. Der gesamte Zyklus wird für weitere zwei EichmaßGlühbirnen wiederholt. Die Werte der Beleuchtungsstärke Ei in den einzelnen Punkten werden nach
der Formel (2) wie folgt berechnet:
Ei 
Iv
ri 2
(2)
wobei
ri
der Abstand des Fotoelements von der Eichmaß-Glühbirne in Metern im i-tem Punkt ist,
Iv
die im Kalibrierblatt der Eichmaß-Glühbirne angegebene Leuchtkraft ist.
Die bei der Prüfung ermittelten Abweichungen müssen den in Artikel 2.3 angegebenen Parametern
entsprechen.
5.5 Prüfung der Linearität
Die Linearität der Reaktion des zu prüfenden Luxmeters wird bei der oben beschriebenen eigentlichen
Prüfung der Genauigkeit des Luxmeters an einem Eichmaß der Linearität mindestens für fünf
Beleuchtungswerte für jeden Messbereich des Luxmeters geprüft. Die Messung wird mindestens
dreimal wiederholt.
Der Index der Nichtlinearität f3 wird nach folgender Formel (3) berechnet, bei der Prüfung muss er den
in Artikel 2.3 angegebenen Parametern entsprechen:
f  (Y ) 


X
Y
 max  1 a f 3  max f 3 Y 
Ymax
X
(3)
wobei
Y
das Ausgangssignal des Luxmeters beim Eingangswert X ist,
Xmax
der Eingangswert ist, der dem maximalen Ausgangssignal des Luxmeters Ymax entspricht.
5.6 Prüfung der relativen spektralen Empfindlichkeit
Die relative spektrale Empfindlichkeit von Luxmetern wird immer in einem quasi-monochromatischen
Bündel gemessen, das in der gesamten empfindlichen Fläche des photometrischen Sensors des
Luxmeters ausreichend homogen sein muss. Für einen gewählten Wert der Wellenlänge der
Ausgangsstrahlung des Monochromators wird die Angabe des Luxmeters mit dem am ArbeitsEichmaß der spektralen Empfindlichkeit der Detektoren im betreffenden Spektralbereich gemessenen
Wert des Fotostroms verglichen. Die aktuellen Werte der spektralen Empfindlichkeit des ArbeitsEichmaßes müssen zusammen mit den entsprechenden Unsicherheiten im Kalibrierblatt des ArbeitsEichmaßes angegeben sein.
9
Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
Für die Bestimmung des Werts der integralen Charakteristik f1' wird die genormte Funktion der
spektralen Empfindlichkeit wie folgt berechnet:
780nm
 S A ( )  V ( ) d ( )
*
s rel (
 )  s rel ( ) 
380nm
(4)
780nm
 S A ( )  s rel ( ) d ( )
380nm
wobei SA (λ) die Funktion der spektralen Dichte der Normlichtquelle A ist.
Der Indexwert der integralen Charakteristik f1' ist wie folgt definiert:
780nm
 s rel( )  V ( ) d ( )
*
f ´1 
380nm
(5)
780nm
 V ( ) d ( )
380nm
Die Werte der integralen Charakteristik f1' bei der Prüfung müssen den in Artikel 2.3
angegebenen Parametern entsprechen.
5.7 Prüfung der Empfindlichkeit auf UV- und Infrarot-Strahlung
Eine Empfindlichkeit auf UV- und Infrarot-Strahlung ist kritisch für Messungen, bei denen von einem
Vorhandensein von Infrarot- und/oder UV-Strahlung ausgegangen werden muss, z. B. bei Tageslicht
oder bei manchen Entladungen oder Glühbirnen. Luxmeter sollten nicht empfindlich gegenüber UVund Infrarotstrahlung sein.
Die Empfindlichkeit gegenüber UV-Strahlung wird durch Bestrahlung des Luxmeters mit einer UVStrahlungsquelle, die Strahlung vor allem im UV-Spektralbereich abstrahlt, bestimmt. Das Verhältnis
der Beleuchtung im Spektralbereich der sichtbaren Strahlung zur Intensität der Bestrahlung im UVSpektralbereich sollte 35 lx∙(W ∙ m-2)-1 betragen. Die Strahlungsquelle sollte eine spektrale
Charakteristik ähnlich der Charakteristik auf Abbildung 1 haben. Die Empfindlichkeit ist als
Verhältnis des Signals des Luxmeters Yuv bei Bestrahlung durch eine UV-Strahlungsquelle in
Kombination mit einem UV-Filter und dem Signal des Luxmeters Y bei Bestrahlung mit der gleichen
Strahlungsquelle ohne Filter, nach der Formel (6) definiert. Die empfohlene Charakteristik des Filters
ist in der Grafik auf Abbildung 2 dargestellt.
f UV 
YUV
Y
(6)
10
Entwurf der Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
Abbildung 1 – Empfohlene spektrale Charakteristik einer UV-Strahlungsquelle
Abbildung 2 – Empfohlene spektrale Charakteristik eines UV-Filters
Die Empfindlichkeit auf Infrarot-Strahlung wird durch Bestrahlung des Luxmeters mit einer Glühbirne
(CIE-Normlichtquelle A) bestimmt. Die Empfindlichkeit ist als Verhältnis des Signals des
Luxmeters YIČ bei Bestrahlung durch die Quelle A in Kombination mit einem Infrarot-Filter und dem
Signal des Luxmeters Y bei Bestrahlung mit der gleichen Strahlungsquelle ohne Filter, nach der
Formel (7) definiert. Die empfohlene Charakteristik des Filters ist in der Grafik auf Abbildung 3
dargestellt.
f IR 
YIR
Y
(7)
11
Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
Abbildung 3 – Empfohlene Charakteristik eines Infrarot-Filters
5.8 Prüfung der Temperaturabhängigkeit
Der photometrische Sensor wird in einer geeigneten Klimakammer auf einem verschiebbaren Wagen
der photometrischen Bank angebracht. Bei einer stabilisierten Temperatur von 5 °C (in der Regel nach
einer Stunde) leuchtet in der Kammer eine photometrische Glühbirne auf und die Beleuchtungswerte
für 5 unterschiedliche Abstände des photometrischen Sensors werden gemessen.
Anschließend wird die Temperatur in der Klimakammer auf 40 °C erhöht und nach einer
Stabilisierungszeit (in der Regel nach einer Stunde) leuchtet erneut die photometrische Glühbirne auf
und die Beleuchtungswerte für 5 unterschiedliche Abstände des photometrischen Sensors werden
gemessen.
Die Beleuchtungswerte werden auch bei der Referenztemperatur T0= 25 °C gemessen. Der Index der
Temperaturabhängigkeit f6 wird nach der Formel (8) berechnet und muss bei der Prüfung den in
Artikel 2.3 angegebenen Werten entsprechen.
f 6,T 
Y (T2 )  Y (T1 )
T

1
Y (T0 )
T2  T1
(8)
wobei
Y(T)
das Ausgangssignal bei der Temperatur T, ist.
T0 = 25 °C; T1 = 5 °C; T2 = 40 °C; T = 10 °C.
5.9 Prüfung der Richtungsabhängigkeit
Bei der Prüfung wird der Sensor an einem drehbaren Tischchen mit Möglichkeit der Rotation längs
zweier gegenseitig senkrechter Achsen befestigt. Für die Prüfung wird eine Normlichtquelle A
verwendet. Für die Messung wird ein kollimiertes Bündel mit einer Divergenz kleiner als 1°
verwendet. Der Sensor wird so eingestellt, dass die Achse des Drehtischchens durch die Mitte der
empfindlichen Fläche des Sensors verläuft und senkrecht zur optischen Achse der photometrischen
Bank ist. Der Index der Richtungsabhängigkeit f2 wird in zwei orthogonalen Ebenen gemessen. Die
Richtungsabhängigkeit wird im Bereich ε von 5° bis 85° mit einem Schritt von 5° bzw. einem
kleineren Schritt je nach Herstelleranforderungen gemessen.
Der Index der Richtungsabhängigkeit f2 von Luxmetern mit ebenem Sensor wird nach Formel (9)
berechnet, bei der Prüfung muss er den in Artikel 2.3 angegebenen Parametern entsprechen:
12
Entwurf der Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
f 2 ( ,  ) 
Y ( ,  )
1
Y (0,  )  cos 
(9)
wobei
Y(ε, φ) das Ausgangssignal in Abhängigkeit vom Einfallswinkel ist,
ε
der in Bezug zum Normal / der Senkrechten der Messfläche oder der in Bezug zur optischen
Achse gemessene Winkel ist,
φ
der Azimutwinkel ist.

Abbildung 4 – Koordinaten zur Definition der Funktion f2 (ε, φ)
5.10 Prüfungen der Störfestigkeit gegen äußere Einflüsse
5.10.1 Prüfung der Störfestigkeit gegen Grenztemperaturen für Lagerung und Transport
Das komplette Luxmeter muss im außer Betrieb befindlichen Zustand (ausgeschaltet, sofern relevant)
bei beiden Grenztemperaturen der Lagerung gemäß den vom Hersteller festgelegten technischen
Bedingungen für einen Zeitraum von drei Stunden in eine Klimakammer gebracht werden.
Unmittelbar nach Abschluss der Prüfung werden Veränderungen im Aussehen kontrolliert. Das
Messgerät darf sein Aussehen nicht verändern, Material und Oberfläche dürfen nicht rissig geworden
sein und keine Blasen oder Farbveränderungen aufweisen.
Nach Ablauf von zwei Stunden nach Abschluss der Prüfung muss das Luxmeter bei
Referenztemperatur den in Artikel 2.3 aufgeführten Parametern entsprechen.
5.10.2 Prüfung des Schutzes gegen das Eindringen von Wasser und Fremdkörpern (Schutzgrad
des Gehäuses)
Hat der Hersteller in den technischen Bedingungen festgelegt, dass das Luxmeter beständig gegen das
Eindringen von Wasser und Fremdkörpern durch das Schutzgehäuse ist, wird bei der Prüfung
überprüft, ob das Messgerät dem spezifizierten Schutzgrad entspricht.
5.11 Prüfungen der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV)
5.11.1 Störfestigkeit gegen elektrostatische Entladungen
Die Störfestigkeit gegen elektrostatische Entladungen wird an Luxmetern in eingeschaltetem Zustand
vorzugsweise durch eine Spannung von ± 6 kV für Kontaktentladungen und ± 8 kV für
Luftentladungen, sofern keine Kontaktentladungen angewendet werden können, geprüft. Die
Entladungen werden auf die Gehäuse der Luxmeter und auf Anschlussplatten in der Nähe der
Luxmeter appliziert.
Bei dieser Prüfung müssen die Luxmeter die normale Funktion in den Grenzen der in Artikel 2.3
angegebenen Parameter aufweisen oder einen schwerwiegenden Fehler erkennen und auf die
festgelegte Weise reagieren.
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Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
5.11.2 Störfestigkeit gegenüber emittierten hochfrequenten elektromagnetischen Feldern
Die Störfestigkeit gegen ein abgestrahltes hochfrequentes elektromagnetisches Feld wird an
Luxmetern in eingeschaltetem Zustand in folgenden Frequenzbereichen und bei folgenden Intensitäten
des Prüffelds geprüft:
–
Frequenz 80 MHz bis 800 MHz, Intensität 3 V/m;
–
Frequenz 800 MHz bis 960 MHz, Intensität 10 V/m;
–
Frequenz 960 MHz bis 1 400 MHz, Intensität 3 V/m;
–
Frequenz 1 400 MHz bis 2 000 MHz, Intensität 10 V/m.
Die angegebenen Werte für die Intensität des Prüffelds gelten für Messungen ohne Modulation. Das
Prüffeld hat eine Amplitudenmodulation mit einer Tiefe von 80 %, das Modulationssignal hat einen
sinusförmigen Verlauf mit einer Modulationsfrequenz von 1 kHz. Der Frequenzschritt bei der
Frequenzwobbelung des Prüffelds beträgt höchstens 1 %. Die Verzögerungsdauer darf bei keiner
Frequenz kürzer sein als die für die Prüfung des Luxmeters einschließlich seiner Reaktionsfähigkeit
auf die Störung erforderliche Zeit. In keinem Fall darf sie jedoch kürzer als 0,5 s sein. Das Prüffeld
wird auf alle Seiten des Gehäuses des Luxmeters appliziert.
Bei dieser Prüfung müssen die Luxmeter die normale Funktion in den Grenzen der in Artikel 2.3
angegebenen Parameter aufweisen oder einen schwerwiegenden Fehler erkennen und auf die
festgelegte Weise reagieren.
6 Ersteichung
6.1 Allgemeines
Das Verfahren der Ersteichung besteht aus folgenden Prüfungen:
–
Sichtprüfung,
–
vorläufige Funktionsprüfung,
–
Genauigkeitsprüfung,
–
Prüfung der Linearität,
–
Festlegung von Korrekturkoeffizienten
Normlichtquelle A.
für
andere
Beleuchtungsquellen
als
die
6.2 Anforderungen an die Prüfeinrichtung
Bei Prüfungen von Luxmetern sind folgende Messgeräte mit sichergestellter metrologischer
Verknüpfung und folgende weitere Hilfsmittel erforderlich:
a) Eichmaße der Leuchtkraft können sein:
–
Eichmaß-Luxmeter als Referenz,
–
photometrische Eichmaß-Glühbirnen mit einem solchen Wert der Leuchtkraft, der es gestattet,
bei der nutzbaren Länge der photometrischen Bank den geforderten Bereich der Werte der
Beleuchtungsintensität zu erreichen,
b) photometrische Bank mit Zubehör, welches durch ein System von Blenden, einstellbaren Haltern,
Kreuzverschiebungen und Justierungshilfsmitteln gebildet wird. Die Mindestlänge der
photometrischen Bank beträgt 3 m, mit der Möglichkeit zur Ablesung des Abstands mit einer
Auflösung von 0,5 mm. Die Gesamtunsicherheit der Ablesung des Abstands darf nicht mehr als ±
2 mm betragen,
c) Eichmaß der Linearität (Referenzdetektor/Luxmeter mit definierter Linearität),
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Entwurf der Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
d) stabilisierte regulierbare Stromquelle mit Gleichspannung für die Stromversorgung der
photometrischen Glühbirnen, Labor-Voltmeter und Labor-Amperemeter zur Messung der
elektrischen Spannungen und Stromstärken der photometrischen Glühbirnen,
e) Zeitmesseinrichtung (elektronische oder mechanische Stoppuhr),
f) Thermometer mit Messbereich von 15-40 °C,
g) Messgerät für den photometrischen Strom (Nano-Amperemeter oder Wandler für Strom in
Spannung) mit einer an die Parameter des Detektors der optischen Strahlung angepassten
Empfindlichkeit und Eingangsimpedanz,
h) Reinigungsmittel für die photometrischen Glühbirnen und die photometrische Bank,
i) Normlichtquelle A, Temperatur 2 856 K – Wolfram-Glühbirnen der erforderlichen Leistungen,
j) für die künstliche Beleuchtung verwendete
Tageslichtquellen und weiße Leuchtstoffröhren),
Lichtquellen
(Natrium-Entladungslampen,
k) photometrisches „schwarzes Labor“, welches Messungen ohne Tageslichteinfluss und störenden
Hintergrund künstlicher Lichtquellen gestattet.
6.3 Sichtprüfung
Bei der Sichtprüfung wird kontrolliert, ob das zur Prüfung vorgelegte Luxmeter einschließlich der
Softwareversion dem genehmigten Typ entspricht. Besondere Aufmerksamkeit ist der Kontrolle der
Richtigkeit der Kennzeichnung im Sinne von Artikel 4.1 und ihrer Lesbarkeit zu widmen.
Ferner wird kontrolliert, ob das Luxmeter nicht mechanisch beschädigt ist und ob bei Luxmetern mit
elektronischem Display nach Anschluss an das Netz alle Zeichen auf dem Display sichtbar sind.
Luxmeter, die nicht mit dem genehmigten Typ übereinstimmen, und beschädigte Luxmeter werden
nicht weiter geprüft.
6.4 Vorläufige Funktionsprüfung
Die vorläufige Funktionsprüfung erfolgt gemäß Artikel 5.3.
6.5 Genauigkeitsprüfung
Die Genauigkeitsprüfung kann wie folgt durchgeführt werden:
–
unter Verwendung eines Eichmaß-Luxmeters als Referenz gemäß Artikel 5.4.2 oder
–
unter Verwendung eines Satzes photometrischer Eichmaß-Glühbirnen der Leuchtkraft mit
definierten Werten der Farbtemperatur gemäß Artikel 5.4.3.
6.6 Prüfung der Linearität
Die Prüfung der Linearität geeichter Luxmeter erfolgt gemäß Artikel 5.5.
6.7 Festlegung von Korrekturkoeffizienten für andere Beleuchtungsquellen als die
Normlichtquelle A
Die Prüfung der spektralen Anpassung der spektralen Empfindlichkeit von Luxmetern entsprechend
der spektralen Lichtwirkung für das photopische Sehen V (λ) erfolgt durch Vergleich des zu eichenden
Luxmeters mit dem Eichmaß-Luxmeter an anderen Betriebs-Lichtquellen als der CIENormlichtquelle A.
Betriebs-Lichtquellen, die zur Prüfung der spektralen Anpassung der spektralen Empfindlichkeit von
Luxmetern entsprechend der spektralen Lichtwirkung für das photopische Sehen V (λ) verwendet
werden, sind:
–
Lichtquellen von Natrium-Entladungslampen,
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Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
–
Lichtquellen ähnlich der Normlichtquelle D65 (mit einer Farbtemperatur von ca. 6 500 K), die
dem Tageslicht spektral ähnlich sind,
–
Lichtquellen weißer Leuchtstoffröhren mit Luminophor (Farbtemperatur ungefähr 2 800 K),
–
Lichtquellen weißer Leuchtstoffröhren mit Luminophor (Farbtemperatur ungefähr 5 500 K).
Die Korrekturkoeffizienten werden für einen einzigen Wert der Leuchtkraft der photometrischen
Glühbirne bestimmt, der Wert wird unter Berücksichtigung des Messbereichs des zu eichenden
Luxmeters gewählt. Der Wert des Korrekturkoeffizienten kj für die Lichtart j wird nach folgender
Formel (10) bestimmt:
kj 
A
EetA
Ezk

Ezkj  k A Ezkj
(10)
wobei
A
Ezk
der Wert der mit dem Eichmaß-Luxmeter gemessenen Beleuchtungsstärke bei Beleuchtung
durch die Lichtquelle A ist,
Ezkj
der Wert der mit dem zu eichenden Luxmeter gemessenen Beleuchtungsstärke bei Beleuchtung
durch die Lichtquelle j ist,
A
Ezk
der Wert der mit dem zu eichenden Luxmeter gemessenen Beleuchtungsstärke bei Beleuchtung
durch die Lichtquelle A ist.
Im Eichblatt werden die Werte der Korrekturkoeffizienten kj für die einzelnen Arten der Lichtquellen j
angegeben.
7 Nacheichung
Das Verfahren der Nacheichung entspricht dem Verfahren bei der Ersteichung gemäß Artikel 6.
8 Bekannt gegebene Normen
Das Tschechische Metrologische Institut (ČMI) gibt zwecks Spezifizierung der metrologischen und
technischen Anforderungen an Messgeräte und zwecks Spezifizierung der Prüfmethoden bei der
Eichung, die aus dieser Allgemeinverfügung folgen, tschechische technische Normen, weitere
technische Normen oder technische Dokumente internationaler beziehungsweise ausländischer
Organisationen oder andere technische Dokumente, die detaillierte technische Anforderungen
enthalten, bekannt (nachfolgend nur „bekannt gegebene Normen“). Ein Verzeichnis dieser bekannt
gegebenen Normen mit einer Zuordnung zur entsprechenden Verfügung gibt das ČMI zusammen mit
der Allgemeinverfügung in öffentlich zugänglicher Weise heraus (auf der Webseite www.cmi.cz).
Die Erfüllung von bekannt gegebenen Normen oder von Teilen dieser Normen wird in dem Umfang
und unter den Bedingungen, die in der Allgemeinverfügung festgelegt sind, als Erfüllung derjenigen in
dieser Allgemeinverfügung festgelegten Anforderungen erachtet, auf die sich diese Normen oder Teile
dieser Normen beziehen.
II.
BEGRÜNDUNG
Das ČMI erlässt zur Durchführung von § 24c des Metrologiegesetzes diese Allgemeinverfügung,
durch welche die metrologischen und technischen Anforderungen an definierte Messgeräte sowie die
Prüfmethoden bei der Typgenehmigung und Eichung dieser definierten Messgeräte festgelegt werden.
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Entwurf der Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
Die Verordnung GBl. Nr. 345/2002 in der jeweils geltenden Fassung, welche die Messgeräte festlegt,
die der Eichpflicht bzw. der Typgenehmigungspflicht unterliegen, ordnet im Anhang „Verzeichnis der
Arten von definierten Messgeräten“ unter Posten 5.1.2 Luxmeter den Messgeräten zu, die der
Typgenehmigungs- und Eichpflicht unterliegen.
Das ČMI gibt daher zur Durchführung von § 24c des Gesetzes über die Metrologie für diese konkrete
Art von Messgeräten, nämlich „Luxmeter“, diese Allgemeinverfügung heraus, durch welche die
metrologischen und technischen Anforderungen für Luxmeter und die Prüfmethoden bei der
Typgenehmigung und bei der Eichung dieser definierten Messgeräte festgelegt werden.
Diese Vorschrift (Allgemeinverfügung) wurde in Übereinstimmung mit der Richtlinie 98/34/EG des
Europäischen Parlaments und des Rates vom 22. Juni 1998 über das Informationsverfahren auf dem
Gebiet der Normen und technischen Vorschriften und der Vorschriften für die Dienste der
Informationsgesellschaft in der geltenden Fassung notifiziert.
III.
RECHTSBEHELFSBELEHRUNG
Gegen die Allgemeinverfügung kann kein Rechtsmittel eingelegt werden: § 173 Absatz 2
Verwaltungsordnung (VerwO).
Gemäß § 172 Absatz 5 VerwO kann gegen eine Entscheidung über Einwände keine Berufung und
kein Einspruch eingelegt werden.
Die Übereinstimmung der Allgemeinverfügung mit den Rechtsvorschriften kann in einem
Prüfungsverfahren gemäß den §§ 94 bis 96 VerwO beurteilt werden. Ein Beteiligter kann eine
Initiative zur Durchführung des Prüfungsverfahrens bei dem Rechtsorgan einbringen, das diese
Allgemeinverfügung erlassen hat. Falls das Rechtsorgan keine Gründe für die Eröffnung eines
Prüfverfahrens erkennt, teilt es diese Tatsache dem Antragsteller unter Angabe der Gründe innerhalb
von dreißig Tagen mit. Ein Beschluss über die Eröffnung eines Prüfungsverfahrens kann gemäß § 174
Absatz 2 VerwO innerhalb von drei Jahren ab dem Inkrafttreten der Allgemeinverfügung gefasst
werden.
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Allgemeinverfügung Nr. 0111-OOP-C043-14
IV.
INKRAFTTRETEN
Diese Allgemeinverfügung tritt mit dem fünfzehnten Tag ab dem Tag ihrer Veröffentlichung (§ 24d
des Metrologiegesetzes) in Kraft.
...…………………………..............
RNDr. Pavel Klenovský
Generaldirektor
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