Hochdurchsatz-Mikroskopie zur automatisierten Qualitätskontrolle Control 2017, Stuttgart 09 Mai 2017 Tobias Piotrowski, M.Sc. Bildquellen: Fraunhofer IPT © WZL/Fraunhofer IPT Einführung Warum High-Speed-Mikroskopie? Herausforderung: Viele Produkte benötigen zur Inspektion eine mikroskopischer Auflösung, wie MEMS, micro- electronics, microfluidics Viele dieser Produkte werden auf Wafer prozessiert Inspektions-kriterien: Geometrie: Abstände, Paralelität, Winkel, … Oberflächen: Defekte, Risse, Rückstände, … Bauteil Wafer scale Inspektion von großen Bauteilen in kurzer Zeit in mikroskopischer Auflösung mit Bilddatenaufnahme, Analyse und Dokumentation Image sources: NMIA, Fraunhofer IPT © WZL/Fraunhofer IPT Seite 2 Problematik Aufgrund winziger Details in den untersuchten Proben ist Vergrößerung durch Mikroskopie notwendig Je höher die Vergrößerung, desto kleiner das Sichtfeld Bei großflächigen Proben sind tausende von Einzelaufnahmen nötig, um kompletten Probenbereich zu erfassen Durch die Positionierung der Probe an jeder einzelnen Aufnahmeposition dauert der gesamte Vorgang üblicherweise sehr lange 100% Prüfungen meist aus Zeitgründen nicht möglich Bildquellen: Fraunhofer IPT © WZL/Fraunhofer IPT Seite 3 Die Lösung im Detail Stand der Technik: Mikroskoptisch bewegt sich zur Aufnahmeposition, hält an, Aufnahme erfolgt, Tisch bewegt sich zur nächsten Position („Stop-and-Go“) Innovation: Mikroskopieren des bewegten Objekts (kontinuierliche Tischfahrt) bei x-/y-/z-Synchronisation mit LED-Blitz und High-Speed Kamera bis zu 100 fps Konventionelles Mikroskop © WZL/Fraunhofer IPT Inhomogenitäten beim Stitching Seite 4 Geschwindigkeitsvorteil Maximale Kameraframerate von pco.edge 5.5: 98 fps Vollbilder (2560 x 2160 Pixel) Scangeschwindigkeiten nach Vergrößerungen: Auflösung [µm/px] Sichtfeld [mm] Max. Geschwindigkeit [mm/s] 4x 1,625 4,1 x 3,5 240 [401] 10x 0,65 1,7 x 1,4 163 20x 0,325 0,8 x 0,7 81 Objektiv Max. Tischgeschwindigkeit bei 4 mm Spindelsteigung: 240 mm/s Höhere Vergrößerungen und Einsatz schnellerer Kameras möglich (z.B. mit CoaXPress Schnittstelle) Bildquellen: kreuzberger-orthopaedicum.de © WZL/Fraunhofer IPT Seite 5 Autofokus Um während des kontinuierlichen Scans das Objekt stets im Fokus zu halten, werden HardwareAutofokusverfahren entwickelt und integriert – Entfernungsensoren (e.g. chromatic-confocal) – Coaxial eingebetete Sensoren (e.g. lowcoherence interferometry / optical coherence tomography (OCT)) Topografische Fokusmap Sensormount High-speed-Microscopie System für Halbleiter © WZL/Fraunhofer IPT Micro Epsilon IFC2451 + IFS2406 Seite 6 Bildvorverarbeitung Ziel: Große Bilder mit weichen Übergängern von Frame zu Frame Shading Korrektur Kernfragestellungen: Text © WZL/Fraunhofer IPT Histogramm Normalisierung Stitching Kernfragestellungen: Text Seite 7 Beispiele Große Bilder mit vielen Details 10X-Magnification Single images © WZL/Fraunhofer IPT Seite 8 Beispiel Mikro-Prismen-Array hergestellt durch Zwei-Photonen-Lithographie Ablösung des Polymers durch Schrumpfung © WZL/Fraunhofer IPT Größe 5 x 5 mm² Anzahl der Prismen 250 x 250 Prisma Größe 20 x 20 µm Vergrößerung 20x Anzahl der Bilder 81 Imaging time <1min Bildgröße 334MB Seite 9 Flexibilität Kompatible Aufrüstlösung für Mikroskope der Hersteller Zeiss, Nikon, Olympus und Leica Kombinierbar mit vielen Vergrößerungen Kombinierbar mit verschiedenen Beleuchtungen Nikon LV 100/150 © WZL/Fraunhofer IPT Seite 10 Anzeige und Auswertung der Bilddaten Erzeugung großer zusammengesetzter Bilder durch Stitching- Algrithmus mit effizienter Visualisierung durch Bildpyramidenbasierten Viewer Echtzeitfähiges Datenhandling (RAM-Recording) und Bildvorverarbeitungsschritte (u.a. Shading-Korrektur) Kundenspezifische Bildverarbeitung (z.B. OpenCV und Halcon) Bildpyramide Erkennung von Leiterbahnunter- und Ausbrüchen © WZL/Fraunhofer IPT Seite 11 High speed at work Source: PI Control 2016 © WZL/Fraunhofer IPT Seite 12 100% Kontrolle – Integration in die Fertigung Mikroskopische Kontrolle im Takt der industriellen Fertigung High-Speed Mikroskopie für großflächige Proben Bildquellen: http://www.ims.fraunhofer.de, ingenieur.de, Fraunhofer IPT © WZL/Fraunhofer IPT Seite 13 Kontakt Dipl.-Phys. Niels König Abteilungsleiter Produktionsmesstechnik Tel.: +49 241 8904-113 Fax: +49 241 8904-6113 Mail: [email protected] Tobias Piotrowski, M.Sc. High-Speed-Mikroskopie Tel.: +49 241 8904-218 Fax: +49 241 8904-6218 Mail: [email protected] © WZL/Fraunhofer IPT Seite 14