Silizium

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Hochschule für Technik und Wirtschaft Dresden (HTW)
Belegarbeit
Thema:
Verfahren zur Herstellung von metallurgischem und gereinigtem
Silizium. Verwendungsmöglichkeiten in der Elektronikindustrie und
bei Solarzellen. Perspektiven.
Bearbeiter:
Stefan Bosse ,02/054 UmT
Erstellt am:
Unterschrift:
Technische Chemie 5.Semester Beleg
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Inhaltsverzeichnis:
Tabellen und Abbildungsverzeichnis:
1.
Einleitung
1.1. Allgemein
1.2. Zielstellung
2.
Darstellung von technischem Silizium
3.
Darstellung von Reinsilizium
3.1. Trichlorsilanpyrolyse
3.2. Silanpyrolyse
3.3. Zonenreinigung
4.
Einkristallzüchtung
4.1. Czochralski-Verfahren
4.2. Tiegelfreies Zonenziehen
5.
Verwendung
5.1. Elektrotechnik
5.1.1 Silizium als Basismaterial
5.1.2. Dotierungen
5.1.3 Elektronische Bauelemente
5.1.4. Herstellung von komplizierten Schaltungen
5.2. Solarzellen
6.
Perspektiven
7.
Fazit
Quellenverzeichnis
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Tabellen und Abbildungsverzeichnis:
Tabellen:
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Tabelle 1: Spezifikationen von Quarz für die
Herstellung von techn. Si.
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Abbildungen:
Seite
Abbildung 1:
Abbildung 2:
Abbildung 3:
Quarzsand SiO2
Lichtbogenofen für die Siliziumherstellung
Reaktor zu Herstellung polykristalliner
Si-Stäbe aus SiHCl3
Abbildung 4: Prinzip des Czochralski-Verfahren
Abbildung 5: Aufbau eines Reaktors zur Einkristallzüchtung
nach Czochralski
Abbildung 6: Tiegelfreies Zonenziehen
Abbildung 7,8: Siliziumeinkristalle
Abbildung 9: Aufbau einer Diode
Abbildung 10: Ablauf der Planartechnik zur Erzeugung lokaler
Dotierungen an der Oberfläche einer
homogenen Siliziumscheibe.
Abbildung 11: Aufbau einer Solarzelle
Abbildung 12: Monokristalline Solarzellen
Abbildung 13: Polykristalline Solarzellen
Abbildung 14: Pilotprojekt für Solar-Wasserstofftechnologie
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1.Einleitung:
1.1. Allgemein
In unserer modernen Gesellschaft ist heute ein Leben ohne elektronische
Hilfsmittel schier undenkbar sei es nun eine lebenswichtige Maschine zum
Überwachen von Lebensfunktionen im Krankhaus oder einfach nur der
Fernseher bei jedem daheim.
All diese Errungenschaften sind nur möglich gewesen weil Wissenschaftler sich
intensiv mit dem Phänomenen Elektrizität auseinnandergesetzt haben.
So kam es das ausgehend von einfachen Schaltungen die Entwicklung
voranschritt bis zu Computern die Aufgaben lösen können für die Menschen
Jahre brauchen würden.
All diese Fortschritte verdanken wir zu einem großen Teil der Halbleitertechnik,
welche immer komplexere Schaltungen auf kleinsten Raum ermöglichte.
Halbleitertechnik das bedeutet heute zumeist Silizumtechnik, weil es als
zweithäufigstes Element in der Erdkruste reichlich vorhanden und leicht zu
bearbeiten ist.
Silizium besitzt einen Schmelzpunkt von ca. 1413°C und besitzt eine große
Affinität zum Sauerstoff, daher liegt es in der Natur oft in Form von Silikaten
oder als SiO2(Sanden) vor.
Halbleitereigenschaften besitzt Silizium nur bei sehr großer Reinheit daher
kommt der Aufbereitung von Silizium zum Nutzbarmachen der
Halbleitereigenschaften ein großer Stellenwert zu.
Abbildung 1: Quarzsand SiO2
(/1/)
1.2. Zielstellung
Zielstellung dieses Belegs ist es, den Prozess der Herstellung von Reinsilizium
zu erläutern und die zurzeit gängigen Verfahren dafür vorzustellen.
Des Weiteren werden die grundlegenden Verwendungsmöglichkeiten von
Reinstsilizium beschrieben, wobei besonderes Augenmerk auf die
Elektrotechnik und den Bau von Solarzellen gelegt wird. Den Abschluss bildet
ein Ausblick auf zukünftige Verwendungsmöglichkeiten.
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2. Darstellung von technischem Silizium:
Technisches Silizium meist auch als metallurgisches Silizium bezeichnet wird
durch Reduktion von Quarziten mit Koks im Lichtbogenofen dargestellt.
Bruttogleichung: SiO2  2C  Si  Co
Der SiO2 Gehalt der verwendeten Quarzite sollte min 98% betragen.
Für die Herstellung von Ferrosilizium, einer Siliziumlegierung mit Eisen, genügt
eine 96% Reinheit zur Darstellung des Siliziums.
Tabelle 1: Spezifikationen von Quarz für die Herstellung von techn. Si.
(/2/,S. 280)
Bestandteil
Gehalt: (%)
SiO2
min. 98
Fe2O3
max. 1,5
Al2O3
max. 1,0
CaO
max. 0,2
MgO
max. 0,2
Schwefel-, Phosphor- und Arsengehalte können giftige Ofenabgase entwickeln
und sind daher unerwünscht. Ein zu hoher Anteil von Al2O3 kann zur Bildung
klebriger Schlacken führen welche das Endprodukt verunreinigen könnten.
Bei der Produktion von Ferrosilizium wird Schreddermaterial oder Alteisen dem
Möller zugesetzt.
Für die Gewinnung des Silizium werden Elektroniederschachtöfen mit 8-40
MW Leistung eingesetzt, welche mit Dreiphasenstrom betrieben werden der
über 2 Elektroden (bei techn. Silizium Graphit) zugeführt wird.
Zur Vermeidung der Bildung von SiC rotiert der und oszilliert der Ofen welcher
mit Kohlesteinen ausgekleidet ist ständig.
Für die Herstellung von 1t Si werden ca. 11-14MWh elektrische Energie
benötigt. Die Ausbeute bezogen auf das in den Quarziten vorliegende Silizium
beträgt 80%.
Die Herstellkosten von techn. Silizium belaufen sich somit zu 28% nur auf den
Einsatz von elektrischer Energie.
Schema des Ofens:
a) Ofengehäuse
b) Elektroden
b) sekundäre Energieversorgung
f) Chargierrohre
g) Stochermaschine
i) Aufnahmepfanne
c)Transformatoren
e) Rohstoffbunker
h) Absticheinheit
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Abbildung 2: Lichtbogenofen für die Siliziumherstellung (/2/,S.279)
Die Reduktion selbst erfolgt in den Teilschritten:
SiO2  C  SiO  CO
SiO  C  SiC  CO
SiC  SiO  2Si  CO
Für diese Reaktion sind Temperaturen oberhalb von 2000°C nötig.
Der Abstich erfolgt nach ca. 1-2h durch eine Hilfselektrode in Auffangbehälter
für das flüssige Silizium.
Im weiteren Verlauf können sich weitere metallurgische Verfahren zur
Aufbereitung(z.B. Schlackeextraktion) anschließen bis das Silizium in brüchigblockiger Form erstarrt.
(/2/,S279-281)
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3.
Darstellung von Reinsilizium
Technisches Silizium besitzt eine Reinheit von maximal bis 98,99 % (technisch
machbar). Verunreinigungen sind hauptsächlich Kohlenstoff, Eisen, Aluminium,
Bor und Phosphor.
Der spez. Widerstand des Siliziums sinkt bereits bei kleinsten
Verunreinigungen, d.h. das Silizium verliert seine Halbleitereigenschaften.
Um diese Fremdstoffe aus dem Silizium zu entfernen werden heute 2
pyrolitische Verfahren angewandt.
3.1. Trichlorsilanpyrolyse
Dieses Verfahren wurde 1953-56 bei Siemens entwickelt und deckt heute ca.
78% der Produktion(Stand 1999, /2/, S.281)
Die Trichlorsilanpyrolyse beruht auf der Reaktion des technischen Siliziums mit
HCl in einem Wirbelbettreaktor zu Trichlorsilan.
Si  3HCl  SiHCl 3  H 2 (300°C)
Trichlorsilan hat einen Siedepunkt von ca. 31,8°C und kondensiert damit eher
als die meisten gebildeten Chlorverbindungen der Verunreinigungen und kann
somit destillativ (fraktionierte Destillation) von diesen abgetrennt werden.
Die Chlorverbindungen von Verunreinigungen welche einen geringeren
Siedepunkt als Trichlorsilan besitzen werden durch Verdampfung bei ca. 30°C
(Siedepunkt SiHCl3 31,8°C) entfernt.
Die noch verbleibenden Hauptverunreinigungen sind Bor und Phosphor sowie
Kohlenstoff in Pentanform aufgrund ihrer Siedetemperaturen die der des
Trichlorsilans sehr nah sind.
Durch Umkehrung dieses Prozesses lässt sich aus dem so gereinigten SiHCl3 das
Silizium zurückgewinnen.
Abbildung 3: Reaktor zu Herstellung polykristalliner Si-Stäbe aus SiHCl3 (/3/, S.8)
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Ein Gasgemisch aus dem gereinigten SiHCl3 und H2 wird in eine Quarzglocke
(inertes Material, Abbildung 3) geleitet.
Dort befinden sich dünne Siliziumstäbe (ca. 1500mm Länge, 2-5mm
Durchmesser) die so genannten Siliziumseelen welche widerstandbeheizt auf ca.
1100°C erhitzt werden.
Dabei zersetzt sich das Trichlorsilan und dissoziiert bei einem eingesetzten
Verhältnis von SiHCl3 zu H2 von 1:10 (bessere Ausbeute) zu Silizium und HCl.
SiHCl 3  H 2  Si  3HCl (1100°C)
Nebenreaktion: 4SiHCl 3  Si  3SiCl 4  2H 2
Das entstehende Silizium setzt sich in polykristalliner Form an der Siliziumseele
nieder, welche dabei auf bis 150 mm anwachsen kann.
Das gewonnene Silizium weist einen Borgehalt von unter 5*1012 *cm-3 und eine
Phosphordotierung von weniger als 1*1013*cm-3 auf.
Die Reinheit des Siliziums ist für die Herstellung von Bauelementen allerdings
nur bedingt ausreichend.
Das entstehende Begleitprodukt SiCl4 wird mit dem HCl ausgeschleust und zu
pyrogener Kieselsäure sowie Kieselsäureestern weiterverarbeitet.
Als Alternative zu den Siliziumstäben im Reaktor kann auch Siliziumgranulat in
einer Wirbelschicht eingesetzt werden, wobei polykristalline Kugeln entstehen.
(/3/, S. 7-9),(/2/, S. 281-S. 282)
3.2. Silanpyrolyse
Das zur Pyrolyse benötigte Silan wird durch Umsetzung von SiF4 mit
Natriumaluminiumhydrid dargestellt.
3SiF4  2 Na3 AlH 6  3SiH 4  2 Na3 AlF6
Das als Begleitprodukt erzeugte Na3AlF6 (Kryolith) wird an die
Aluminiumindustrie abgegeben.
Das Silan wird nach Feinstreinigung in einem Wirbelbettreaktor an vorgelegten
Keimen aus elementaren Silizium pyrolytisch zu Reinstsilizium und H2 zersetzt.
SiH 4  Si  2H 2 (800°C)
Es entstehen Kugeln von Reinstsilizium welche ca. 1-3mm groß und gut schüttund dosierfähig sind. Die Prozesstemperaturen sind niedriger als bei der
Trichlorsilanpyrolyse und die korrosiven Begleitprodukte fallen weg.
Aufgrund der Selbstentzündlichkeit des Silans erfordert dieses Verfahren jedoch
einen hohen sicherheitstechnischen Aufwand.
(Produktion Stand 1997: ca. 1500t Reinstsilizium)
(/2/, S. 283)
3.3. Zonenreinigung
Die Zonenreinigung dient der zusätzlichen Entfernung von Verunreinigungen im
Silziumkristall. Dazu wird entlang des Kristalls eine Hochfrequenzspule bewegt
welche den Kristall lokal durch Wirbelsröme bis über den Schmelzpunkt
aufheizt. Das Silizium außerhalb der Spule bleibt fest, das in der Schmelzzone
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fließt aufgrund der geringen Dicke und der damit verbundenen
Oberflächenspannung nicht herraus.
Dieser Prozess findet im Hochvakuum statt um eine Anreicherung von
Verunreinigungen durch Gefäßwände zu vermeiden.
Wegen der hohen Schmelztemperaturen (Fp. Si bei 1413°C) dampfen bereits
viele Verunreinigungen aus der Schmelzzone ab.
Des weiteren sind viele metallische Verunreinigungen sowie Bor und Phosphor
in der Schmelze besser löslich als im Feststoff und wandern so mit der Schmelze
bei der Abwärtsbewegung der HF-Spule mit.
So lässt sich die Gesamtkonzentration der Verunreinigung bei mehrmaligen
Zonenreinigen unterhalb der Eigenleitkonzentration ( 5*10*cm-3) senke.
(/3/, S. 9-10)
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4.
Einkristallzüchtung
Um in der Halbleiterindustrie Verwendung zu finden muss das Silizium in
einkristalliner Form vorliegen, d.h. die Atomstruktur muss regelmäßig sein.
Das Gitter von elementaren einkristallinen Silizium ist kubisch flächenzentriert
und entspricht daher der Diamantstruktur. Die Ausrichtung des Kristalls hat eine
wichtige Bedeutung für die spätere Bearbeitung des Siliziums, z.B. auf die
Dichte der Oberflächenladungen und auf die Ladungsträgerbeweglichkei an der
Kristalloberfläche als Parameter möglicher Halbleiterschaltungen.
Das Züchten von Einkristallen aus den polykristallinen Ausgangsstoff des
gereinigtem Silizium ist daher ein wichtiger Schritt auf den Weg zum Wafer für
die Chip Herstellung.(/3/, S. 10-12)
4.1. Czochralski-Verfahren
Mit dem Czochralski-Verfahren ist das Züchten von Einkristallen mit einem
Durchmesser bis zu 300mm derzeit möglich.
Dafür wird das polykristalline Silizium in einem drehbaren Quarztiegel
aufgeschmolzen zunächst bei 1440°C um Kristallisationskeime zu zerstören.
Die Temperatur wird danach dann geringfügig über den Schmelzpunkt des
Siliziums gehalten.(ca. 1425°C).
Von oben wird ein Stab in die Schmelze getaucht an dessen Spitze sich ein
Siliziumeinkristall(Impfkristall) befindet, welcher durch seine Ausrichtung in
der Halterung die spätere Ausrichtung des Einkristalls festlegt.
Beim Eintauchen wird die Schmelze um den Keim herum aufgrund der nur
geringfügig über der Schmelztemperatur liegenden Prozesstemperatur
unterkühlt, wodurch der Keim zu wachsen beginnt.
Der Stab mit dem Impfkristall wird nun langsam nach oben herrausgedreht,
wobei der Kristall ständig in Kontakt mit der Schmelze bleibt und so weiter
wächst.
Das Endprodukt ist ein stabförmiger Einkristall(„Ingot“), dessen Durchmesser
durch die Ziehgeschwindigkeit maßgeblich bestimmt wird.
Sie beträgt ca. 3-20cm/h, je schneller desto dünner.
Abbildung 4: Prinzip des Czochralski-Verfahren (/5/)
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Abbildung 5: Aufbau eines Reaktors zur Einkristallzüchtung nach Czochralski (/4/)
Für fehlerfreie Einkristalle ist eine exakt kontrollierte Temperaturstabilisierung
nötig um eine möglichst konstante Temperatur in der Wachstumszone
einzuhalten, wobei bereits kleinste Differenzen zu Spannungen und somit
Gitterfehler führen können.
Deshalb wird zur Homogenisierung der Temperaturverteilung der Tiegel
entgegen der Drehrichtung des Zugstabes gedreht.
Des weiteren wird dieser mit zunehmenden Verbrauch der Schmelze angehoben
um die Kontaktfläche Kristall-Schmelze möglichst konstant zu halten.
Für eine Verhinderung der Oxidation der Schmelze wird unter einer
Schutzgasatmosphäre bzw. Hochvakuum gearbeitet.
Der Nachteil des Czochralski Verfahrens ist das aus den Tiegelwänden
Verunreinigungen in die Schmelze und somit in den Kristall gelangen können.
(O2,B,C)
Zur Einstellung gewünschter elektrischer Eigenschaften des Einkristalls (n,pTyp Substratmaterial) können die gewünschten Dotierstoffe zur Schmelze
zugegeben und so beim Ziehen eingebaut werden.
Typische Widerstandswerte liegen im Bereich von 50 Ohm*cm bis zu
0,01Ohm*cm.
4.2. Tiegelfreies Zonenziehen
Das auch als Float-Zone bezeichnete Verfahren dient der Züchtung von
Einkristallen ohne den Nachteil des Verunreinigens des Kristalls durch den
Schmelztiegel. Es ist der oben angesprochenen Zonenreinigung ähnlich ,weil
bereits dort brauchbare Einkristall entstehen können.
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Für höhere Ansprüche jedoch ist ein Keim zur Vorgabe der Kristallorientierung
unbedingt nötig.
Hiefür wird ein polykristalliner Stab vertikal so gehaltert, das sein oberes Ende
einen Impfling an einem Zugstab fast berührt.
Durch Herrabführen einer Hochfrequenzspule entlang des Kristalls schmilzt
dieser dort auf wobei sich die Schmelze etwas auf wölbt und den Impfkristall
berührt, weshalb diese unterkühlt und am Kristall je nach Ausrichtung zu
wachsen beginnt. Während die Spule sich langsam nach unten bewegt. (ca. 1020cm/h) wächst der Einkristall in der Schmelzzone mit. Wie beim Czochralski
Verfahren rotieren Zugstab und Kristallhalterung zur Homogenisierung der
Temperaturverteilung gegensinnig. (Drehzahl ca. 25-75U/min)
Die Länge der Schmelzzone beträgt abhängig von der Dicke des Kristalls nur
wenige Milimeter.
Durch ein Beimischen von Dotierstoffen in Form von z.B. Phosphin (PH3) bzw.
Diboran(B2H6) zum Schutzgas können diese in der Schmelzzone durch
pyrolitische Zersetzung direkt eingebaut werden.
Wie bei der Zonenreinigung lösen sich eventuell vorhandene Verunreinigungen
besser in der Schmelze als im Feststoff womit diese mit der Schmelzzone
mittransportiert werden und sich erst im Endbereich anreichern.
Dadurch können mit dem tiegelfreien Zonenziehen extrem reine SiliziumEinkristalle gezüchtet werden. (>1000 Ohm*cm).
Da der Polykristall aus der Pyrolyse mit maximal 150mm Durchmesser für
dieses Verfahren benutzt wird können auch nur Einkristalle mit ca. 150mm
Durchmesser gezüchtet werden. (/3/, S. 14-16)
Abbildung 6: Tiegelfreies Zonenziehen (/4/)
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5.
Verwendung
1997 wurden weltweit ca. 1,8*106t Ferro-, 0,92*106t Technischens- und ca.
20.000t Reinstsilizium produziert.
Das Ferrosilizium wird in großen Mengen als Desoxydationsmittel in der
Stahlerzeugung eingesetzt. Als Legierungsbestandteil (Si 10 bis Si 90) verleiht
es dem Eisen weichmagnetische Eigenschaften (z.B. für die Herstellung von
Dynamo- und Transformatorenblechen).Es dient zur Herstellung von Werkzeugund Federstählen sowie von korrosionsbeständigen Gusslegierungen.(/2/,
S.287)
Zusätze von technischem Silizium(Si 98,99) bei der Aluminiumherstellung
verbessern die Gießbarkeit bei der Herstellung von Gussteilen. Es spielt zudem
eine große Rolle als Legierungsbestandteil in Aluminiumwerkstoffen. Des
weiteren dient es der Reinstsiliziumherstellung sowie der Synthese von
Siliconen nach dem Rochow-Verfahren.(/2/,S.287)
Reinstsilizium(Si>99,999%) wird zur Herstellung von Mikro- und
Leistungselektronik verwendet. Es beherrscht heute mehr als 90% des
Halbleitermarktes.
Grundlage ist hierfür die große Verfügbarkeit des Rohstoffes sowie die
Eigenschaft des Siliziums mit Sauerstoff ein stabiles Oxid zu bilden welches
aber relativ leicht mittels Ätzen oder anderer Methoden zu entfernen ist.
So können auf den Silizium mit Oxidierung, Ätz- und Dotiertechniken relativ
einfach komplexe Schaltungen erzeugt werden
Ein weiterer Anwendungszweig des Reinstsiliziums ist die der
Solarzellentechnik sei aus nun aus poly- oder einkristallinen Silizium, welche
als regenerative Energieerzeugungsmethode immer stärker an Bedeutung
zunimmt.
Der Preis für 1kg polykristallines Reinstsilizium aus der Pyrolyse von
Trichlorsilan betrug 1997 ca. 80DM(39 Euro), Siliziumeinkristalle ca. 60
DM/kg und eine für die Halbleitertechnik hergestellte Siliziumscheibe
(„Wafer“) ca. 1700DM/kg. (/2/, S. 279)
5.1. Elektrotechnik
5.1.1 Silizium als Basismaterial:
Andere Halbleitermaterialien wie zum Beispiel Germanium und insbesondere
Gallium-Arsenid weisen weitaus höhere Ladungsträgerbeweglichkeiten auf als
Silizium. (3900[Ge] bzw. 8500[Ga-As] Elektronenbeweglichkeit in cm2Vs zu
1350 für Silizium) und wären somit aus diesem Gesichtspunkt besser geeignet.
Was ist also der Vorteil von Silizium?
Das ist erstens das Silizium im Vergleich zu anderen Halbleitern fast unbegrenzt
als eines der häufigsten Elemente der Erde vorhanden ist.
Daher ist es ein kostengünstiges Ausgangsmaterial was erst durch die nötigen
Aufarbeitungsschritte so teuer wird.
Das vom Silizium bereits bei Zimmertemperatur gebildete SiO2 ist ein
hochwertiger, mechanisch und elektrisch stabiler Isolator, welches als
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Passivschutzschicht wirkt und sich gezielt und reproduzierbar durch
Temperaturbehandlungen auf den Halbleiter aufbringen lässt.
Dieses „arteigene“ Oxid ist besonders geeignet für die Isolation und zur lokalen
Maskierung von Silizium während der Herstellung von integrierten Schaltungen.
Im Gegensatz ist es relativ schwierig und kostenintensiv, auf den anderen
benannten Materialien einen hochwertigen Isolator aufzubringen, da deren
Oxide entweder von geringer Qualität oder nicht herstellbar sind.
Die meisten Schaltungen werden heutzutage meist auf planaren Oberflächen von
Silizium aufgetragen. Dazu werden aus den gezüchteten Einkristallen
Siliziumscheiben durch Innenloch- bzw. Drahtsägen geschnitten, welche nach
dem Abrunden der spröden Außenkante auf eine planare Oberfläche von max.
3nm geläppt, geätzt und poliert werden.
Bei der Herstellung eines Wafers ist ungefähr die gleiche Menge als Verlust bei
den Bearbeitungsschritten anzunehmen.
Abbildung 7 und 8: Siliziumeinkristalle (/6/)
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5.1.2. Dotierungen
Im reinsten Zustand besitzt Silizium einen elektrischen Widerstand irgendwo
zwischen dem eines schlechten Leiters und eines Isolators.
Der Widerstand lässt sich durch gezielte Verunreinigungen(Dotierungen) mit
Fremdatomen über mehrere Größenordnungen hinweg beeinflussen.
Dazu werden in das Atomgitter des Siliziums mit jeweils 4 Außenelektronen
(Tetraeder/Diamantstruktur) 3 bzw. 5-wertige Atome eingebracht wodurch
entweder ein Elektronenmangel oder ein Elektronenüberschuss im Gitter erzeugt
wird. Diese Elektronenlöcher bzw. freien Elektronen können dann im
Leitungsband wandern.
Werden 3-wertige Atome(z.B. Bor) eingebracht, wodurch ein Bindungselektron
unbesetzt bleibt(„Loch“) spricht man von Akzeptoren d.h. durch die leere Stelle
kann ein Elektron aus dem Leitungsband aufgenommen werden.(positiv[p]leitend).
Bei einer Dotierung mit 5-wertigen Atomen(z.B. Phosphor, As, Sb) fließt ein
Elektron von ihnen das nicht zur Bindung beiträgt in das Leitungsbad ein. Man
spricht hierbei von Donatoren und negativ(n)-leitenden Charakter.
5.1.3 Elektronische Bauelemente
Bereits das aneinnanderfügen von einer p und einer n-leitenden Schicht stellt ein
einfache Schaltung dar nämlich die der Diode.
Abbildung 9: Aufbau einer Diode (/7/)
Ein ankommender Strom(Elektronen) in der n-Schicht kann durch Transport des
Ladungsträgers zur p-Schicht bzw. der Wanderung de „Löcher“ der p-Schicht
zur n-Schicht fließen. Tritt der Strom jedoch zuerst in die p-Schicht ein so
werden die „Löcher“ der p-Schicht und die Elektronen des Stromes rekombiniert
und können aufgrund der Sperrwirkung der n-Schicht nicht weiterfließen.
Es ist somit ein Weg des Stromes von der negativen in die positive Schicht
festgelegt Der Strom wird gleichgerichtet mit dieser Diode.
Mit Ergänzung einer weiteren p. bzw. n-Schicht zu einer pnp bzw. npn Schicht
Anordnung erzeugt man dann Transistoren mit einem Fluss und einem
Steuerstrom. So können mit immer neuer Kombination von Schichten und
Überlappungen auch komplizierteste Schaltungen produziert werden.
So hergestellte Bauelemente sind z.B. Transistoren, Thyristoren, MOSFETs,
IC’s etc.
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5.1.4. Herstellung von komplizierten Schaltungen
Komplizierte Schaltungen von IC’s bis hin zu Hochleistungsprozessoren werden
durch Aufdampfen von verschiedenen Dotierungen mittels Maskierung
hergestellt.
Dies lässt sich wie folgt vereinfacht darstellen.
Abbildung 10: Ablauf der Planartechnik zur Erzeugung lokaler Dotierungen an der
Oberfläche einer homogenen Siliziumscheibe.
(A)- Erzeugen einer Oxidschicht auf der Siliziumscheibe;
(B)- Aufbringen eines lichtempfindlichen Lackes;
(C)- Belichten des Fotolackes über eine Maske mit der Struktur einer
Entwurfsebene der integrierten Schaltung;
(D)- Entwicklung d.h. Entfernen des belichteten Fotolacks;
(E)- Ätzendes Oxids mit dem Fotolack als Maskierschicht;
(F)- Entfernen des restlichen Fotolacks in einem Ätzschritt;
(G)- Diffusion zur lokalen Dotierung der Siliziumscheibe mit Oxid als
Maskierschicht;
Diese Bearbeitungsfolge wird im Prozess mehrmals wiederholt, um die
Scheibendotierung lokal unterschiedlich und gezielt zu verändern.
Beendet wird dieses Verfahren mit der Verdrahtung zur Herstellung der
elektrischen Verbindungen.:
 Ganzflächiges Aufdampfen von Aluminium zur Erzeugung von
Leiterbahnen und Kontaktstellen.
 Strukturierung der Metallebene mittels Ätzen über eine Fotolackmaske.
Die hier dargestellte Technik ist die des Positiv-Verfahrens, d.h. beim NegativVerfahren wird die unbelichtete Fotoschicht entfernt im Gegensatz zur
Positivtechnik. Die Negativlacke besitzen meist eine größere chemische
Stabilität und thermische Belastbarkeit, jedoch ist die minimale Linienweite in
der Negativ-Lacktechnik auf 1,5µm begrenzt, weil die Strukturen während des
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Entwickelns aufquellen. Derzeit dominiert in der Serienfertigung die Positivtechnik. (/3/, S. 37-41)
5.2. Solarzellen
Solarzellen nehmen heutzutage vor allem durch immer neue Fortschritte in ihrer
Entwicklung einen hohen Stellenwert in der Energieerzeugung durch
regenerative Energiequellen ein.
Eine Solarzelle hat folgenden Aufbau:
Abbildung 11: Aufbau einer Solarzelle (/8/, /basiswissen/sb.110.htm)
Die auf der Solarzelle auftreffenden Photonen des Sonnenlichtes bewirken einen
Elektronenüberschuss bzw. Mangel in den beiden Schichten und somit eine
Ladung. Durch die oben erklärte Funktionsweise einer solchen np-Schicht wird
ersichtlich das ein Ladungsausgleich an der np-Sperrschicht nicht erfolgt und
damit ein Gleichstrom an den jeweiligen Schichten abgegriffen werden kann.
Dabei ist zu beachten das die obere Schicht min. so dünn sein muss das die
Photonen auch die untere Schicht erreichen können.
Für den Wirkungsgrad einer Silizium-Solarzelle ,dem derzeit am besten
geeigneten Halbleitermaterial zum Solarzellenbau ist auch die Reinheit und die
Kristallstruktur entscheidend.
So gibt es Solarzellen aus amorphen(ca. 7% Wirkungsgrad), polykristallinen(1013%) und monokristallinen(12 bis 15%) Silizium.
Zum Vergleich der Wirkungsgrad der Photosynthese von Pflanzen liegt bei ca.
2%.
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Amorphes Silizium weist keine Kristallstruktur auf, sondern besteht aus
ungeordneten Silizium-Atomen, die auf Glas oder ein anderes Substrat
aufgedampft werden. Solche Zellen werden zum Beispiel in Taschenrechnern
eingebaut.
Abbildung 12: Monokristalline Solarzellen
(/8/, /basiswissen/sb-110mono.jpg)
Abbildung 13: Polykristalline Solarzellen
(/8/, /basiswissen/sb-110poly.jpg)
Der von den Forschern des Max-Planck Institutes für Festkörperforschung in
Stuttgart maximale theoretisch erreichbare wirkungsgrad beträgt ca. 43%. Die
Praxis zeigt im günstigsten Fall einen Wirkungsgrad von 18% unter speziellen
Bedingungen derzeit.
Entscheidend für die abgegebene Stromstärke ist die Fläche auf die das
Sonnenlicht einstrahlen kann. Daher zielen neuere Entwicklungen darauf ab die
Zellendicke herab zusenken um die Materialkosten bei gleicher
Leistungsfähigkeit zu senken. (/8/,/basiswissen/sb-110-002.htm)
Abbildung 14: Pilotprojekt für Solar-Wasserstofftechnologie 1990-1999 in Neunburg vorm
Wald (Oberpfalz) 6000 Module ca. 280kW bei guten Wetter
(/8/, /basiswissen/sb110-002.htm)
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6.
Perspektiven
Das Halbleitermaterial Silizium wird auch weiterhin seine dominante Rolle als
Ausgangsmaterial behalten. Die Entwicklung beim Verfahren der
Reinsiliziumherstellung werden vor allem auf Kostensenkung und Züchtung
größerer Einkristalle zielen.
Weitere Entwicklungsbeispiele:
Elektronikindustrie:
 Infineon arbeitet an Elektronikbausteinen in einer GermaniumBipolar-Technologie mit ca. 110 GHz (derzeit Si-CMOS ca. 4 GHz)
 Entwicklung von Halbleitermaterialien aus Polymeren (Nobelpreis der
Chemie 2000)
 Ersatz von metallischen Leitungskontakten durch Optische Leiter
 SiC als Halbleitermaterial
Solarzellentechnologie:
 Verwendung anderer Halbleitermaterialien wie z.B. KupferindiumDiselenid oder Cadmiumtellurit
 Dünnschicht-Solarzellen (Beidseitige Nutzung einer Solarzelle)
 Organischer Anstrich der Photosynthese nachahmt
 Waffeltechnik für superdünne Schichten
(/9/)
7.
Fazit:
Silizium ist durch seine herausragenden Eigenschaften und seines großen
Vorkommens das derzeit idealste Material für die Halbleitertechnologie.
Fast alle derzeit produzierten elektronischen Bauteile oder Solarzellen basieren
auf Silizium in seiner reinsten Form.
Die derzeitigen Forschungen streben nach immer kosteneffizienteren Methoden
der Reinsiliziumherstellung in immer größeren Einkristallzüchtungen.
Auch wird der Einsatz von neuen Halbleitermaterialien bis hin zu organischen
Halbleitern bzw. neuartige Legierungen von Silizium eine wichtige Rolle in
nächster Zukunft spielen.
Technische Chemie 5.Semester Beleg
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