TECHNOLOGIE-ANGEBOT Hessische Intellectual Property Organisation Vorrichtung und Verfahren zur interferometrischen Abstandsbestimmung Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Abstandsbestimmung mittels eines interferometrischen Sensors. Der Sensor fokussiert Licht auf einen Punkt des Messobjektes. Dieses Licht wird zumindest teilweise in den Sensor zurückreflektiert, hinsichtlich seiner Phasenlage analysiert und in einen Abstandswert umgerechnet. Durch laterales Scannen des Messobjektes relativ zum Sensor lassen sich Mikrostrukturen und Formen mit hoher Genauigkeit erfassen. Da mehrere hunderttausend Abstandsmesswerte pro Sekunde ermittelt werden, können sehr hohe Messgeschwindigkeiten erzielt werden. Markt und technisches Umfeld: Die Geometrien anspruchsvoller technischer Objekte (z.B. optische Komponenten wie Linsen, mechanische Dicht- und Passflächen) werden in der industriellen Fertigung häufig durch taktile Messgeräte überwacht. Dabei wird ein Taster über die Oberfläche des Messobjektes geführt und der Tasterausschlag als elektrisches Signal gemessen. Um diesen langwierigen Messprozess zu beschleunigen, werden seit einiger Zeit optische Sensoren eingesetzt, die berührungslos, zerstörungsfrei und mit Genauigkeiten im Nanometerbereich Abstandsänderungen erfassen können. Die erreichbare Messgeschwindigkeit ist dabei durch die Datenrate, mit der der optische Sensor Abstandswerte liefert, begrenzt. Typische Datenraten heutiger optischer Sensoren liegen im Bereich von einigen Kilohertz. Durch eine Steigerung der Datenrate lässt sich folglich das Potential der optischen Messtechnik noch weitaus besser nutzen als bisher. Innovation: Zur interferometrischen Messung wird neben dem am Messobjekt reflektierten Licht zusätzlich Referenzlicht benötigt. Im vorliegenden Fall wird das Referenzlicht durch sogenannte SchwingFoto und schematische Darstellung eines Sensors mit einem spiegel erzeugt, d. h. Referenzspiegel der Referenzspiegel befindet sich auf einem Aktor der elektrisch angetrieben wird und den Spiegel periodisch bewegt. Durch zwei bei Ultraschallfrequenzen um 90° phasenversetzt schwingende Spiegel lässt sich die Datenrate auf mehrere hundert kHz erhöhen. Dadurch ist der Grundstein für neuartige, präzise messende High-Speed-Systeme gelegt. Vorteile: Hohe Sensordatenrate erlaubt hohe Mess- bzw. Scangeschwindigkeiten Interferometrische Messung mit Nanometer-Auflösung Robuste, kostengünstige Messsysteme durch Verwendung von Infrarotlicht und Komponenten aus der Telekommunikationsindustrie Kontakt: GINo Gesellschaft für Innovation Nordhessen mbH Ute Emde Universitätsplatz 12 34127 Kassel Tel: 0561/804-1985 Fax: 0561/804-1986 E-Mail: [email protected] Einsatzgebiete: Messtechnik Stand der Entwicklung: Labormuster zum Funktionsnachweis Schutzrechte/ Patente: Erteiltes Deutsches Patent DE 10 2014 108 886 B3 Weitere Angebote finden Sie unter: www.gino-innovativ.de www.inventionstore.de Kostenloser E-Mail-Service zu neuen patentierten Spitzentechnologien 282/2 GINo mbH ist die Patentvermarktungsagentur der Universität Kassel und der Hochschule Fulda. Copyright © GINo mbH • Universitätsplatz 12 • D-34127 Kassel