und Ausgangskennlinienfeld eines Feldeffekttransistors

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Robert-Bosch-Gymnasium
Physik (2-/4-stündig), NGO
Praktikum
Versuch Nr.: 1.12
Block 1 / E-Lehre
Kennlinien eines Feldeffekt-Transistors
8.1.2017
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Feldeffekttransistoren
1. Theoretische Grundlagen / Einführung
npn-Transistor
n-Kanal-FET (Sperrschicht-FET)
C
D
B
I CE
e-
G
I BE
ID
e-
S
E
Leistungslose Steuerung
Damit bei einem bipolaren Transistor (npn oder pnp) ein Strom von C nach E fließen (Kollektor-Emitter-Strom)
kann, muss ein (kleiner) Basis-Strom fließen. (Er ist um den Stromverstärkungsfaktor kleiner als der KollektorEmittel-Strom). Dabei liegt die Basis-Emitter-Spannung an. Strom und Spannung fühen dazu, dass zur Steuerung des bipolaren Transistor eine, wenn auch kleine, Leistung notwendig ist (UBE  IB).
Bei Feldeffekttransistor reicht dasAnlegen einer mehr oder weniger großen Spannung aus, den Strom zwischen
Drain und Source (D und S) zu steuern; es ist eine (nahezu) leistungslose Steuerung möglich. Das ist immer von
großen Bedeutung, wenn die Quelle, die den Transistor steuern soll, keine großen Ströme liefern kann. Die
Quelle wird durch einen FET nicht bzw. kaum belastet.
PrinzipiellerAufbau eines Sperrschicht-Feldeffekt-Transistor (n-Kanal).
Während beim npn-Transistor zwei pn-Übergänge auftreten, die entgegengesetzt gepolt sind, gibt es beim Sperrschicht-FET nur einen Übergang von n nach p; siehe dazu die Zeichnung auf der Folgeseite.
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Zunächst denken wir uns G mit S verbunden; dann
sind beide Anschlüsse auf demselben Potential; die
Sperrschicht zwischen p und n hat deshalb die
Ausdehnung des spannungslosen Zustandes (ist also sehr schmal).
Legt man nun eine Spannung zwischen D und S
an, so fließt in der n-Schicht ein Strom, verursacht
durch die freien Elekronen im n-dotierten Halbeiter. Ist D positiv ind S negativ gepolt, fließt der
technische Strom von D nach S. Während bei einem bipolaren Transistor außer freien Elektronen
auch Elektronenlöcher am Stromfluss beteiligt
sind, nehmen hier nur Ladungsträger einer Sorte
teil: daher spricht man auch von einem unipolaren
Transistor.
Der n-dotierte Bereich heißt dabei Kanal. Im vorliegenden Fall haben wir es mit einem n-KanalFET zu tun (man spricht auch von einem
Unijunctions-Transistor).
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D
Drain (Abfluss)
+
n
G
Gate (Tor)
p
p
S
-
Source (Quelle)
Bei einem pe-Kanal-Typ ist der Kanal p-dotiert
und Elektronenlöcher stellen quasi die Ladungsträger dar (eigentlich: die Elektronen, die in entgegengesetzte Richtung die Löcher durchwandern).
Wenn zwischen S und D ein Strom fließt, wirkt der Kanal wie ein ohm’scher Widerstand; längs des Kanals tritt
demnach ein Spannungsgefälle (zwischen D und S) auf. Die Stromstärke des so genannten Drainstromes IDS
wird dabei bestimmt von:


der angelegten Spannung (IDS ist proportional zu UDS)
dem Widerstand des n-Kanals zwischen D und S (und dieser hängt außer von der Länge und der Querschnittsfläche des Kanals hauptsächlich von dessen Dotierungsgrad ab).
Das bedeutet auch, dass der Widerstand des Kanals durch dessen Querschnitt veränderbar ist; und genau dies
geschieht bei der Steuerung des Transistors.
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Längs des n-Kanals gibt es durch die angelegte
Spannung UDS ein Potentialgefälle; das Potential
steigt von 0 V am Minospol auf 12 V am Pluspol.
Liegt G auf gleichem Potential wie S, so sind die
Übergänge zwischen p und auf beiden Seiten in
Sperr-Richtung gepolt (p ist auf dem Potential 0 V,
n auf einem Potential zwischen 0 V und 12 V).
Die in Sperr-Richtung angelegte Spannung wächst
also entlang des Kanals von S nach D; die Sperrschicht ist demnach unten relativ schmal und wird
nach oben hin immer breiter.
D
12V
12V
n
G
pp
p
9V
6V
Die Verbreiterung der Sperrschicht zu D hin verringert umgekehrt den Querschnitt des n-Kanals
und erhöht damit seinen Widerstand. Die Stromstärke IDS sinkt dadurch. Elektronen können nur im
n-Kanal fließen.
3V
0V
S
Im p-dotierten Bereich der Sperrschicht liegen negative Ionen vor (z. B. Gallium-Anionen), im ndotierten Bereich dagegen positive Ionen (z. B.
Arsen-Kationen).
Steuerung des FET
Legt man nun zusätzlich zur Spannung UDS eine Spannung UGS zwischen Gate und Source an, so dass das Gate
negativ gegenüber Source ist, werden die Sperrschichten zwischen den p-Schichten und dem n-Kanal noch breiter, der Kanal dafür umso schmaler, der Widerstand größer; in der Folge sinkt IDS noch mehr: eine leichte Änderung der Gate-Spannung UGS änderden Gate-Strom IDS bereits sehr stark.
Dabei muss kein Gate-Strom zwischen Source und Gate fließen. Es genügt das Anlegen der Spannung; wenn
zwar eine Spannung anliegt, jedoch kein Strom fließt, wird auch keine elektrische Leistung umgesetzt. Die Steuerung des FET geschieht als leistungslos. Das ist wichtig, wenn die steuernde Quelle auch keinen großen Strom
liefern kann (hochohmige Quellen).
Hinweis: bei genügend großer Spannung UDS berühren sich irgendwann beide Sperrschichten wegen des hohen
Potentials („Abschnürung“ / „Pinch-Effekt“). Dann hat eine Erhöhung der Drain-Source-Spannung keine Erhöhung der Stromstärke IDS mehr zur Folge; der Transistor geht in den Sättigungsbereich. Der Grenzwert ist gegeben durch die Abschnür- oder Pinchsspannung UDS(Pinch) Die Abschnürspannung ist umso niedriger, je breiter die
Sperrschichten schon waren, je höher also die (negative) Gate-Spannung ist. Stoßen die Sperrschichten auf der
ganzen Länge imn-Kanal zusammen, sperrt der Transistor komplett; es fließt gar kein Drain-Strom mehr.
Grundsätzlicher Aufbau der Stromversorgung für einen bipolaren Transistor und einen Feldeffekttransistor:
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n-Kanal-FET (Sperrschicht-FET)
npn-Transistor
15 V
15 V
C
D
B
G
S
Steuerspannung
E
Steuerspannung
0V
0V
2. Versuchsaufbau, Durchführung der Messung / Sicherheitshinweise / Messaufgaben
1. Ausgangskennlinienfeld eines n-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistors (n-Kanal-FET)
Wir untersuchen einen n-Kanal-Sperrschicht-FET und erstellen für ihn ein Ausgangskennlinienfeld. Dabei
wird der Drain-Strom als Funktion der Drain-Source-Spannung aufgetragen mit der Gate-Spannung als weiterem Parameter. D. h. für jede Gate-Spannung wird eine ID-UDS-Kennlinie aufgenommen; insgesamt entsteht ein
Kennlinienfeld (eine Kennlinienschar).
Aufbau / Schaltung /Spannungsversorgung
Dazu wird zunächst die auf der Folgeseite dargestellte Schaltung aufgebaut. Zur Spannungsversorgung benutzt
man am besten eine Spannungsquelle mit zwei symmetrischen Spannungen z. B.  15 V. Alternativ benötigt
man zwei erdfreie Spannungsquellen, bei denen man den Plus-Pol der einen mit dem Minuspol der anderen verbindet.
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BF245
15 V
D
1 M
G
S
15 V
200 
200 
Messaufgabe
Es werden Gate-Spannungen (von 0 V aus) im Halb-Volt-Abstand eingestellt. Bei jeder Gatespannung UGS
nimmt man punktweise eine IDS-UDS-Kennlinie auf. Ist die Gate-Spannung einmal mit Hilfe der Potentiometerschaltung eingestellt, darf sie während des Versuchs nicht mehr verändert werden. Am besten während der Messung ab und zu den Wert kontrollieren!
2. Eingangskennlinienfeld eines n-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistors (n-Kanal-FET)
Wir untersuchen nun die Eingangskennlinie des FET. Dazu bauen wir wieder die oben benutzte Schaltung auf.
Jetzt wird aber eine konstante Drain-Source-Spannung eingestellt (und konstant belassen), z. B. UDS = 12 V. Bei
dieser Spannung variiert man nun die Gate-Soucespannung UGS zwischen 0 V und -10,0 V und liest die Stromstärkewerte des Drain-Source-Stromes ab. Wer noch Zeit hat, kann weitere Eingangskennlinien bei anderen
Drain-Source-Spannungen (z. B. 14 V, 10 V, 8 V,...) aufnehmen.
Sicherheitshinweise
Es wird nur mit den ausgegebenen Netzgeräten gearbeitet. Die Spannungen liegn
im nicht-berührungsgefährlichen Bereich. Bei Fehlern / Defekten Netzgerät abschalten bzw. Not-Aus-Taster im Saal betätigen. Es wird daran erinnert, dass Essen
und Trinken im Labor, insbesondere, wenn elektrische Aufbauten benutzt werden,
nicht erlaubt ist. (Gefahr des Verschüttens.)
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3. Auswertung
In der Auswertung befindet sich das Originalmessprotokoll. Sodann sind die oben genannten Messaufgaben entsprechend auszuwerten (Tabellen, Diagramme). Alle Ergebnisse sind verbal zu beschreiben, d. h. außer den Tabellen und Diagrammen muss zu den Messaufgaben noch mindestens ein Ergebnissatz formuliert werden.
Es sind mindestens zwei Diagramm zu erzeugen: die Eingangskennlinie des FET und dasAusgangskennlinienfeld. Wer mehrere Eingangskennlinien gemessen hat, kann auch für die Eingangskennlinien ein Kennlinienfeld
als Diagramm erstellen.
5. Fehlerbetrachtung
Zu allen Messungen ist eine Größtfehlerbetrachtung durchzuführen.
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