Nahfeldsonden der Langer EMV-Technik GmbH Die Nahfeldsonden

EMV Messgeräte der Störaussendung - Nahfeldsonden der Langer EMV-Technik GmbH
Die Nahfeldsonden der Langer EMV-Technik zeichnen sich durch ihre bequeme
Handhabung und die für Messaufgaben unterschiedlich geformten Sondenköpfe aus.
Mit einem Vorverstärker (z.B. dem PA203) wird die Nahfeldsonde an ein Oszilloskop
angeschlossen.
Auf einer Baugruppe oder in einer Schaltung verursachen hochfrequente Ströme und
Spannungen einzelner Bauteile lokale Magnet- oder E-Felder. Diese Felder sind Nahfelder.
Der mit dem Metallsystem verkoppelte Anteil eines Nahfeldes induziert HF-Spannung in
leitfähigen Strukturen der Baugruppe und regt zur Störaussendung an. Wie gut das gesamte
Metallsystem einen bestimmten Frequenzanteil abstrahlt, hängt von seinen
Resonanzeigenschaften ab. Das Ausmessen der lokalen HF-Magnetfelder oder E-Felder mit
Hilfe von Nahfeld-Sonden bringt wichtige Erkenntnisse über die herrschenden
elektromagnetischen Verhältnisse. Für die praktische Arbeit existiert eine Vielzahl von
Sonden, die das differenzierte Messen der Feldanteile ermöglichen. Durch gezielte
Manipulation der Nahfelder auf der Baugruppe ist die treffsichere Bekämpfung der
Störaussendung für den Entwickler möglich.
Für die entwicklungsbegleitende Suche von HF Quellen auf einer Baugruppe sind folgende
Kriterien für die Auswahl einer optimalen Nahfeldsonde wichtig:
- genaue Unterscheidung zwischen H/B- und E/D-Nahfeldern
- Auswahl der passenden Sondenköpfe an die zu messenden Feldstärken und Feldstrukturen
- Möglichkeit der Richtungsbestimmung bei H/B-Nahfeldmessung
- breiter nutzbarer Frequenzbereich
- bequeme Handhabung beim Messen
Eine einzige Nahfeldsonde genügt für die Quellensuche einer Emission nicht. Es steht
vielmehr die Aufgabe an den Hardware-Entwickler, die relevanten Sonden auszuwählen und
einzusetzen.
Für die EMV Optimierung einer Baugruppe ist es wichtig, eine Messstrategie der
Nahfeldmessung zu entwickeln, um mit den ausgesuchten Nahfeldsonden die Quellen der
Emission auf dem Board zu finden.
Für die Nahfeldaufklärung auf der Baugruppe werden von Langer EMV-Technik verschiedene
H/B Nahfeldsonden und E/D Nahfeldsonden angeboten. Jede Sondenfamilie wurde unter
einer bestimmten Aufgabenstellung entwickelt.
Um sich bei der Messung mit der Nahfeldsonde weiter zu bilden, nutzen Sie bitte unser
Seminarangebot oder lesen Sie in den bereits veröffentlichten Fachartikeln.
Die Nahfeldsonden der Langer EMV-Technik zeichnen sich besonders durch ihre praktische
Stiftform aus. Sie sind klein und handlich. Das ermöglicht dem Entwickler ein wendiges und
zielführendes Messen auf seiner Elektronik.
Die Nahfeldsonden der Langer EMV-Technik eignen sich generell für alle Pre-ComplianceMessungen, die für das Messen von HF-Störungen im Frequenzbereich von 100kHz bis 10
GHz benötigt werden
Alle Nahfeldsonden sind in der Firma Langer EMV-Technik in Deutschland entwickelt,
hergestellt und kalibriert. Mit Korrekturkennlinien läßt sich die Spannung der Sonde am
Ausgang auf Magnetfeld am Ort des Sondenkopfes umrechnen. Die Korrekturkennlinien
stehen für EXCEL als Excel-file und für die EMV-Messsoftware ChipScan-ESA als fdi-file zum
beliebigen Download auf unserer Website bereit. Sie erhalten die Nahfeldsonden der Langer
EMV-Technik in spezifisch zusammengestellten Sets oder als Einzelsonden.
Wir bieten Ihnen Nahfeldsonden vom Typ LF, RF, XF, SX, MFA und RFS
LF 100 kHz bis 50 MHz
Die LF Nahfeldsonde ist für Anwendungen im unteren Frequenzbereich von 100 KHz bis 50 MHz
entwickelt. Die LF-Sondenfamilie enthält insgesamt sieben Magnetfeldsonden für
entwicklungsbegleitende EMV-Untersuchungen der Störaussendung auf Flachbaugruppen oder
Geräten (Schaltregler, PWM-Systeme). Die LF-Nahfeldsonde eignet sich für die HF-Einkopplung in
Baugruppen oder Bauelemente (dabei auf Einhaltung Bedienungsanleitung achten!).
RF 30 MHz bis 3 GHz
Die RF Nahfeldsonde ist für Messungen der Störaussendung im Frequenzbereich von 30 MHz bis zu
3 GHz entwickelt. Entwicklungsbegleitende EMV Untersuchungen an Baugruppen oder Geräten
können mit den neun Magnetfeldsonden und einer E-Feldsonde durchgeführt werden
(Mikrocontroller auf komplexen Elektronikbaugruppen). Die RF-Nahfeldsonde eignet sich für die HFEinkopplung in Baugruppen oder Bauelemente (dabei auf Einhaltung Bedienungsanleitung achten!).
XF 30 MHz bis 6 GHz
Die XF Nahfeldsonde ist für entwicklungsbegleitende Untersuchungen der Störaussendung im
Frequenzbereich von 30 MHz bis 6 GHz konzipiert. Mit ihrem breiten Frequenzspektrum und den
vom Format von groß bis sehr klein reichenden Messköpfen, deckt die XF-Sondenfamile einen
breiten Anwendungsbereich ab. Die XF Nahfeldsonden-Familie enthält 5 Magnetfeldsonden und 4EFeldsonden.
Die Nahfeldsonden der XF-Familie sind nicht zur HF-Einkopplung (injection) geeignet!
SX 1 GHz bis 10 GHz
Die SX Nahfeldsonde ist besonders für sehr hohe Frequenzen im Bereich von 1 GHz bis 10
GHz entwickelt. Die Magnetfeldsonde und die E-Feldsonde haben einen sehr kleinen
Sondenkopf und ermöglichen entwicklungsbegleitende EMV-Messungen der Störaussendung
auf kleinem Raum. (elektronische Baugruppen, Bauelemente und IC-Pins). Die SXSondenfamilie besteht aus zwei Sonden und diese sind für HF-Einkopplung unter den
genannten Bedingungen geeignet.
MFA 1 MHz bis 6 GHz
Für EMV Störaussendungsmessungen an kleinsten elektronische Strukturen (Bereich 100 µm) ist die
Nahfeldsonde Typ MFA geeignet. Die vier Magnetfeld-Sonden haben jeweils einen integrierten
Verstärker und messen im Frequenzbereich von 1 MHz bis 6 GHz. Die Nahfeld-Sonden der MFAFamilie sind nicht für HF-Einkopplung geeignet.
RFS 30 MHz bis 3 GHz
Sonden zur Verwendung mit Scannern
Die Nahfeldsonden sind zur Verwendung mit Scannern entwickelt. Sie haben einen besonders kurzen
Stiel und lassen sich in den Verfahrbereich der Langer-Scanner einsetzen. Sie sind in Kombination mit
einem Scanner für kleinschrittige EMV-Analyse auf Flachbaugruppen, Schaltungen und kleinen
Geräten geeignet. Für entwicklungsbegleitende Untersuchungen der Störaussendung sind alle
Sonden der RF-Familie als RFS-Sonden erhältlich.
Besonders kleine Scannersonden ICR-H und ICR-E (Bereich bis 75 µm) finden Sie unter ICMesstechnik