Anwendung der FTA auf Integrierte Schaltungen Dr. Thomas Zettler, Principal Safety Engineering Methodology , Infineon Technologies AG, München Die Anwendung der Fehlerbaumanalyse (FTA) auf der Ebene von integrierten Schaltungen (ICs) ist ein Thema, welches bisher wenig behandelt wurde. In vielen Anwendungsdomänen werden Safety-Analysen auch auf der Ebene von integrierten Halbleiterschaltungen gefordert. Ein Beispiel ist der Automotive Standard ISO 26262. Er beschreibt die funktionale Sicherheit von elektrischen oder elektronischen Systemen in seriengefertigten PKWs. Sicherheitsanforderungen für integrierte Schaltungen werden von der Systemebene aus abgeleitet. Der Vortrag stellt eine qualitative Methodik für die FTA Analyse von integrierten Schaltungen vor. Am Beispiel des Automotiven Standard ISO 26262 wird die Erfüllung der Anforderungen an die FTA und die Einbindung der Fehlerbaumanalyse in eine Sicherheitsanalyse nach ISO 26262 beschrieben. Es wird ein systematisches Vorgehen beschrieben, welches auf der Sicherheitsanforderung und dem Sicherheitskonzept aufsetzt. Ein Thema ist dabei die vollständige Abbildung der Konzeptinhalte auf den Fehlerbaum. Weiterhin wird das Vorgehen bei der Berechnung von HalbleiterFehlerraten mithilfe von quantitativen Fehlerbaumanalysen thematisiert. Der Vortrag geht dabei auf die effiziente Analyse von unbekannten und bekannten Common Cause Fehlern wie z.B. Spannungsversorgungen oder Taktquellen ein.