M ATHEMATISCH -NATURWISSENSCHAFTLICHE FAKULTÄT I I NSTITUT FÜR P HYSIK Physik in der Praxis: Fortgeschrittenen-Praktikum 1. Versuch: Quantisierter Leitwert von Punktkontakten Durchführung Abgabe am Übungsleiter 19.04.2011 Bearbeiter Lucas Hackl (529242) Benjamin Maier (529225) Dr. Rüdiger Mitdank Humboldt-Universität zu Berlin Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät I – Institut für Physik Physik in der Praxis: Fortgeschrittenen-Praktikum | Lucas Hackl (529242) & Benjamin Maier (529225) Inhaltsverzeichnis 1 Einführung 3 2 Leitwerte verschiedener Proben 2.1 Systematischer Fehler der Messung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2.2 Leitwert des MODFETs (Quantenfilm) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2.3 Quantisierter Leitwert . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5 5 6 6 Abbildungsverzeichnis 2 1 MODFET-Leitwert . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Subbänder . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4 5 Verwendete Messgeräte SR830 DSP Lock-In-Verstärker Computer mit LabVIEW Software Abstract Im Rahmen dieses Experiments untersuchten wir das Phänomen der quantisierten Leitfähigkeit bei Quantenpunktkontakten aus GaAs/AlGaAs-Strukturen: Nach einer Kalibrierung der Messaperatur an Präzisionswiderständen testeten wir zunächst die Funktionsweise eines Feldeffekttransistors (MODFET), der ein zweidimensionales Elektronengas ausbildet und dabei als Vorstufe eines Quantenpunktkontakts zu sehen ist. Im nächsten Schritt verwendeten wir dann einen so hergestellten Quantenpunktkontakt, um die Quantisierung des Leitwerts zu messen, welche durch Ausbildung stehender Elektronenwellen zustande kommt. 1. Versuch: Quantisierter Leitwert von Punktkontakten 2 Humboldt-Universität zu Berlin Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät I – Institut für Physik Physik in der Praxis: Fortgeschrittenen-Praktikum | Lucas Hackl (529242) & Benjamin Maier (529225) 1 Einführung Der Leitwert eines elektrischen Bauteils ist das Inverse des elektrischen Widerstands und gibt an, wie gut ein elektrisches Bauteil Strom leitet, wenn eine Spannung angelegt wird. Quantenpunktkontakte werden meistens erzeugt, indem eine ohnehin schon effektivzweidimensionale leitende Schicht auf mechanischem oder chemischem Weg so abgetragen wird, dass über eine gewisse Länge nur ein dünner Steg bleibt – diese Struktur, welche einem Quantendraht ähnelt, weist bei Messung des Leitwerts ein charakteristisches Verhalten auf: Bei Anlegen einer Spannung springt der ge2 messene Leitwert in Vielfachen von 2eh , es findet also eine Quantisierung des Leitwerts statt. Die Quantisierung des Leitwerts lässt sich mithilfe der Quantenmechanik beschreiben, indem der effektiv eindimensionale Bereich des Quantenpunktkontakts als effektives Kastenpotential mit charakteristischer Breite lx und Dicke ly modelliert wird. Für die Wellenfunktionen in die entsprechenden Richtungen gilt demnach x y ψ(x) = A sin n π sin m π . lx ly Die zugehörigen Wellenzahlen ergeben sich dabei gemäß kx = n lπx bzw. ky = m lπy (mit zugehörigen Impulsen gemäß p = ~ k). Es bilden sich also senkrecht zur Durchgangsrichtung stehende Elektronenwellen aus, die einen Energiebeitrag ! p2 π2 ~2 n2 m2 Enm = = + 2 2me 2me lx2 ly liefern. Da in Bewegungsrichtung die charakteristischen Längen deutlich größer sind, ist die Wellenzahl kz in Bewegungsrichtung quasi kontinuierlich und liefern den zusätzlichen Energiebeitrag Ez = ~2 kz2 . 2me Die Gesamtenergie der möglichen Energiezustände ergibt sich damit zu Eges = Enm + Ez . Zusammen mit dem Pauli-Prinzip, welches voraussagt, dass jeder dieser Zustände von nur zwei Elektronen mit gegengerichtetem Spin besetzt werden kann, lässt sich mit diesem Wissen die Zustandsdichte in Abhängigkeit von der Energie innerhalb des Quantenpunktkontakts berechnen. Denn für die Zustandsdichte in effektiv eindimensionalen Systemen gilt r 1 m D(E) dE = dE. π ~ 2E 1. Versuch: Quantisierter Leitwert von Punktkontakten 3 Humboldt-Universität zu Berlin Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät I – Institut für Physik Physik in der Praxis: Fortgeschrittenen-Praktikum | Lucas Hackl (529242) & Benjamin Maier (529225) Abbildung 2: Leitwert in Abhängigkeit der angelegten Gate-Spannung. Markiert sind die drei wichtigen Bereiche des MODFETs sowie der Serienleitwert der Schaltung Legt man nun eine kleine Spannung dV an, so folgt ein kleiner Strom dI = dn e v mit der kleinen linearen Elektronendichte dn an Elektronen der Geschwindigkeit v mit Elementarladung e. Mit der bekannten Zustandsdichte D(E) an der Fermikante sorgt eine Spannung dV für eine Energieverschiebung dE = e dV , welche dn = D(E) dE = D(E) e dV Elektronen pro Längeneinheit über die Fermikante ins Valenzband hebt. Für die Geschwindigkeit können wir ferner nährungsweise r 2E v= m gemäß der bekannten Mittelwertsbeziehung E = m2 v2 ansetzen. Damit folgt für den resultierenden elektrischen Strom r r 1 m 2E 2 2 e2 2 dI = D(E) v e dV = e dV = dV. π ~ 2E m h Durch die Quantisierung der Wellenzahlen in zwei Richtungen entstehen jedoch mehrere Subbänder, die 1. Versuch: Quantisierter Leitwert von Punktkontakten 4 Humboldt-Universität zu Berlin Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät I – Institut für Physik Physik in der Praxis: Fortgeschrittenen-Praktikum | Lucas Hackl (529242) & Benjamin Maier (529225) alle für sich genommen das gerade bestimmte Verhalten zeigen, also nacheinander besetzt werden und jeweils einen Leitwert von dI 2 e2 = dV h beisteuern – folglich wird unter der Voraussetzung, dass durch hinreichende Kühlung die Fermikante relativ scharf ausgeprägt ist, die Erhöhung der Spannung eine Erhöhung der Leitfähigkeiten in Vielfa2 chen von 2he bewirken. Die Subbänder werden sukzessive besetzt, wie in Abbildung 1 zu betrachten ist. G= Abbildung 1: Subbänder und Zustandsdichte für eindimensionales Elektronengas, aus [3] 2 2.1 Leitwerte verschiedener Proben Systematischer Fehler der Messung Die Messung des Leitwerts einer Probe erfolgt durch einen Lock-In-Verstärker SR830 DSP mit Mess-Referenzsignal der Amplitude U = 10 mV und der Frequenz ν = 433 Hz. Die Integrationszeit beträgt t = 0.1 s, sodass etwa über 50 Perioden gemittelt wird. Um die Abweichung zwischen tatsächlichem Leitwert und dem mit Lock-In-Verstärker gemessenem Leitwert zu bestimmen, werden vorerst Messungen an Präzisionswiderständen durchgeführt. Im Idealfall sollte stets Rexp = RBox gelten, wobei Rexp der inverse gemessene Leitwert ist und RBox der an einer Widerstandsbox eingestellte Widerstand. In der realen Messung wird sich durch systematische Abweichungen eine Funktion der Form R(RBox ) = aRBox + RS einstellen, sodass spätere Messungen mit G(Gexp ) = a−1 Gexp (1) korrigiert werden können. RS ist der serielle Widerstand der Schaltung (hier bei Verwendung der Widerstandsbox) und wird deshalb nicht mit in die Korrektur einbezogen. Der Effekt des Serienwiderstands auf die Messung muss schaltungsspezifisch untersucht werden. Abbildung ?? zeigt die Messwerte und die durchgeführte lineare Regression, wobei für jeden Widerstand zehnmal gemessen und der Mittelwert gebildet wurde. Die Fehler ergeben sich aus statistischem Fehler und systematischem Fehler der Widerstandsbox. Die systematische Abweichung zwischen gemessenem und angegebenem Widerstand beträgt somit a = 1.006 ± 0.001, damit ist die systematische Abweichung zwischen gemessenem Leitwert und tatsächlichem Leitwert von einem Faktor a−1 = 0.994 ± 0.001. Das recht hohe χ2 /d.o.F. zeigt eine Unterschätzung der zufälligen Fehler bzw. nicht normalverteilte Messwerte um die Regression. Dies ist aber aufgrund der geringen Zahl an Messwerten nicht überraschend. 1. Versuch: Quantisierter Leitwert von Punktkontakten 5 Humboldt-Universität zu Berlin Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät I – Institut für Physik Physik in der Praxis: Fortgeschrittenen-Praktikum | Lucas Hackl (529242) & Benjamin Maier (529225) 2.2 Leitwert des MODFETs (Quantenfilm) In einem MODFET kommt es in der Grenzschicht zweier Materialien durch Dotierung zu einer kleinen Potentialmulde, welche die Fermikante unterschreitet. Damit können sich Elektronen an dieser Stelle sammeln und bilden längs dieses Potentialminimums nährungsweise Eigenzustände des harmonischen Oszillators aus, während sie sich in den anderen beiden Dimensionen (also senkrecht zum Materialübergang) bewegen können. Dabei besitzen die Elektronen eine geringe effektive Masse verglichen mit der freien Elektronenmasse und somit entsteht ein leitender Quantenfilm, der energetisch etwas unter dem Ferminiveau liegt. Es wird mithilfe von flüssigem Helium bei T = 4.2 K gemessen, bei der die Elektronen scharf der Fermiverteilung folgen und sich somit nahezu alle Elektronen in Zuständen bis zur Fermienergie befinden. Dies ist wichtig, um ein Verschmieren der Zustände zu verhindern, welches aufträte, würde man bei höheren Temperaturen messen, bei denen Elektronen auch weit über der Fermikante angeregt wären und so genügend Energie besäßen, um die Potentialmulde des zweidimensionalen Elektronengas zu verlassen. Die Leitfähigkeit des Elektronengases lässt sich ferner durch eine senkrecht angelegte Spannung (Gate) steuern, welche die Fermikante relativ zum Bandverlauf verschiebt und so die Weite des besetzbaren Bandes reguliert. Der Leitwert zwischen Source- und Drain-Kanal wurde zweimal in Abhängigkeit der Gatespannung gemessen, wobei für die Messung der MODFET der Struktur H verwendet wurde. Da sich die so gewonnenen Daten qualitativ sehr ähneln, quantitativ jedoch teilweise stark voneinander abweichen, wird für das Endergebnis ein korrigierter Mittelwert gebildet und eine Größtfehlerabschätzung vorgenommen. Korrigiert heißt hier, dass der Mittelwert gemäß Gleichung 1 angepasst wurde. Als Fehler wird die größte Abweichung zwischen den Daten im gemessenen Bereich gewählt und pythagoreisch mit dem Fehler der Korrektur addiert. Das Ergebnis der Messungen ist in Abbildung 2 zu sehen. Mit sinkender Gatespannung und unter einer Grenzspannung Vth fällt der Strom exponentiell mit VG −Vth I(VG ) = I0 exp VT bis der Transistor nicht mehr leitet. Dieser Bereich nennt sich Sperrbereich. VT ist hier eine temperaturabhängige Spannung. Der Versuch, die Daten nahe VG = 0.3 V an die obige Funktion zu fitten, liefert keine brauchbaren Resultate. Dies legt den Schluss nahe, dass der Sperrbereich des MODFETs (und damit die Grenzspannung) bei einer Gatespannung VG . 0.3 V liegt. Im linearen Bereich verhält sich der Transistor für kleine Spannungen zwischen Drain- und Source-Kanal wie ein Ohm’scher Widerstand, d.h. der Leitwert steigt linear an. Im Sättigungsbereich wird im MODFET das komplette Leitungsband verwendet, weswegen sich bei steigender Gatespannung ein Plateau des Leitwerts der Gesamtschaltung einstellt. Dieses Plateau ist interpretierbar als der Serienleitwert der Gesamtschaltung und ergibt sich als Asymptote der Messung. Der zugehörige Serienwiderstand ist damit RS = (470 ± 20) Ω. 2.3 Quantisierter Leitwert Im Folgenden betrachten wir den Leitwert eines Quantenpunktkontakts der Breite lx in einem MODFET. Die Quantisierung ist nur zu beobachten, wenn die Länge des Kontakts viel größer als dessen Breite lx ist [2]. Wenn die Fermiwellenlänge λF in der gleichen Größenordnung von lx ist, fungiert der Kontakt als Wellenleiter. Damit Elektronen passieren können, muss λF ≈ 2lnx gelten, woraus n≈ k F lx π folgt. Erlaubte De-Broglie-Wellenlängen der Elektronen müssen kleiner als die Fermiwellenlänge sein. Alle 2 Moden m von Elektronenwellen mit m < n liefern einen Beitrag von 2eh zum Leitwert, sodass sich schließlich die in der Einführung betrachtete Quantisierung Gn = n 1. Versuch: Quantisierter Leitwert von Punktkontakten 2e2 h 6