Kapitel 6 – Detektoren 6. Detektoren 6.1 Einführung 6.2 pn-Photodiode • • • • Absorption im Halbleitermaterial Spektrale Charakteristik Kennlinie der Photodiode Zeitliches Verhalten 6.3 pin-Photodiode 6.4 Avalanche Photodiode (APD) • Schichten und Elektrisches Feld • Dynamisches Verhalten 6.5 Rauschen von Photodioden • • • • • Schrotrauschen Thermisches Rauschen Signal-Rausch-Verhältnis Noise Equivalent Power Rauschbeiträge aus optischen Verstärkern www.thorlabs.com 6. Detektoren - 1 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg 6.1 Einführung Einführung Detektor: Æ Umwandlung des optischen Signals am Ende der Übertragungsstrecke in ein elektrisches Datensignal Gebräuchliche Detektoren: photovoltaisch Elemente • (pn-Photodiode) • pin-Photodiode • Avalanche Photodiode (APD) Anforderungen an Detektoren: • genügende Empfindlichkeit • geringe Signalverzerrung (Æ hohe Bandbreite) • geringes Eigenrauschen 6. Detektoren - 2 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg 6.2 pn-Photodiode (1) pn-Photodiode • einfachstes photovoltaisches Element • geringe Bedeutung für Kommunikationstechnik • gut um Funktionsprinzip zu zeigen Absorption im Halbleitermaterial • exponentielle Abnahme der Intensität im Halbleiter (Lambert-Beersches Gesetz) • Einfallendes Photon Æ Elektron vom Valenzband ins Leitungsband angehoben Æ Generation eines Elektron-Loch-Paares • in der Raumladungszone (bzw. im angrenzenden Bahngebiet innerhalb der Diffusionslänge) erzeugte Ladungsträger werden durch anliegende Spannung getrennt Æ Photostrom Æ Photostrom ist direkt proportional zur einfallenden optischen Leistung I P = RPin mit R= ηq hf Responsivity η : Quantenwirkungsgrad der Absorption 6. Detektoren - 3 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg 6.2 pn-Photodiode (2) pn-Photodiode – Spektrale Charakteristik Photonenenergie proportional zur Frequenz: E ph = hf Æ bei konstanter Lichtleistung: Anzahl der einfallenden Photonen / Zeiteinheit nimmt mit Wellenlänge zu (= Abnahme bei steigender Frequenz) Æ mehr Ladungsträgerpaare werden gebildet Æ höherer Photostrom Weitere Erhöhung der Wellenlänge: Wellenlänge der Photonen entspricht geringerer Energie als Bandabstand des Halbleiters Æ Photonenenergie zu niedrig um ElektronLoch-Paar zu generieren Æ Photostrom geht gegen Null 6. Detektoren - 4 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg 6.2 pn-Photodiode (3) pn-Photodiode – Kennlinie Trennung der in der Raumladungszone erzeugten Ladungsträger durch Diffusionsspannung (Sperrspannung) Æ Photostrom I ⎛ ⎧ qU ⎫ ⎞ I = I S ⎜ exp ⎨ ⎬ − 1⎟ − I P ⎝ ⎩ kT ⎭ ⎠ I = −ID − I P Iph I P : Photostrom I D : Dunkelstrom 6. Detektoren - 5 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg 6.2 pn-Photodiode (4) pn-Photodiode – Zeitliches Verhalten zeitliches Verhalten im Wesentlichen bestimmt durch Sperrschichtkapazität der Photodiode Æ Abnahme der Kapazität mit steigender Sperrspannung Æ Zunahme der Kapazität mit steigender Diodenfläche aber: sinkende Empfindlichkeit bei reduzierter Diodenfläche pn-Photodiode – Nachteile • Absorption außerhalb der RLZ Æ Verringerung des Wirkungsgrades • Geringe Weite der RLZ • Lange Diffusionszonen Æ langsamer Ladungsträgertransport 6. Detektoren - 6 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg U 6.3 pin-Photodiode pin-Photodiode Einfügen einer intrinsischen Schicht in die pn-Struktur • erhöhte Wahrscheinlichkeit für Absorption, η nahe 100% • Vergrößerung des Driftgebiets Æ geringerer Anteil von Ladungsträgern aus der Diffusionszone Æ schnellere Reaktion aber: langes Driftgebiet: Driftzeit steigt Æ Bandbreite sinkt p + + - i Iph el. field • Kompromiss zwischen Bandbreite und Empfindlichkeit distance Optimierung: Heterostruktur • Absorptionskanten: InP: 900nm, InGaAs: 1650nm Æ Absorption nur in i-Schicht, keine Diffusionseffekte für 1550nm-Licht Æ optimierte Geschwindigkeit und Empfindlichkeit (bis zu 40Gbit/s) Springer Handbook of Lasers and Optics 6. Detektoren - 7 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg 6.4 Avalanche Photodiode (APD) (1) Avalanche Photodiode Begrenzung der Responsivity bei pn- und pin-Photodioden Rmax = q hf Erhöhung der elektrischen Feldstärke Æ Generation zusätzlicher Trägerpaare durch Stoßionisation Æ Erhöhung des Photostroms Æ APD: “Photodiode mit integriertem Verstärker” 6. Detektoren - 8 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg n 6.4 Avalanche Photodiode (APD) (2) Avalanche Photodiode - Schichtenfolge • zusätzliche p-Schicht: Verstärkung durch Stoßionisation • hohe Sperrspannung (E ≈ 105 V/cm) • Beschreibung der Verstärkung durch Multiplikationsfaktor M: R APD = R ⋅ M 6. Detektoren - 9 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg 6.4 Avalanche Photodiode (APD) (3) Avalanche Photodiode – Dynamisches Verhalten Worst-case Driftzeit (bei Vernachlässigung von Effekten höherer Ordnung) ergibt sich aus Summe aus: • Laufzeit der Elektronen durch die Driftzone • Laufzeit der Elektronen an das Ende der Avalanche-Zone • Laufzeit der Löcher durch die Avalanche-Zone • Laufzeit der Löcher durch die Driftzone log (f3dB) log(M) 6. Detektoren - 10 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg 6.5 Rauschen von Photodioden (1) Rauschbehafteter Detektorstrom auch bei Detektion von rauschfreien Signalen: rauschbehafteter Photostrom Beiträge zum Detektorrauschen: • Schrotrauschen • thermisches Rauschen • Generations-Rekombinations-Rauschen Rauschbeschreibung • Effektivwert des Rauschstroms am Photostrom I N ,eff 2 2 • I N ,eff ergibt sich aus Varianz σ der Verteilungsfunktion des Rauschstroms I N ,eff = σ • Reaktion eines Detektors auf ein rauschfreies, konstantes optisches Eingangssignal: I (t ) = I {P rauschfreier Photostrom + I D + iS (t ) + iT (t ) { { { Dunkel strom Schrotraus ch strom thermischer Rauschstro m 6. Detektoren - 11 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg 6.5 Rauschen von Photodioden (2) Schrotrauschen Ursache ist die Statistik der Anzahl der aus eintreffenden Photonen generierten Ladungsträgerpaare Æ Poissonverteiltes weißes Rauschen Æ genähert durch Gaußsches Rauschen I S ,eff = 2qI ph Δf ~ Popt Δf : äquivalente Rausch-Bandbreite des Empfängers Schrotrauschen ist proportional zur Quadratwurzel der optischen Leistung! Schrotrauschen des Dunkelstroms: I S , D = 2qI D Δf 6. Detektoren - 12 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg 6.5 Rauschen von Photodioden (3) Thermisches Rauschen (Johnson- / Nyquist-Rauschen) Statistische thermische Bewegung der Ladungsträger überlagert sich dem Photostrom • Spektrale Leistungsdichte: σ 2T = • Varianz: ST ( f ) = 2k B T RL mit Lastwiderstand R L 4k B T Δf Æ effektiver Rauschstrom: I T ,eff = 4k BT Δf ≠ f ( Popt ) RL RL Δf : äquivalente Rausch-Bandbreite des Empfängers Thermisches Rauschen ist keine Funktion der optischen Leistung! Generations-Rekombinations-Rauschen Statistische Schwankungen der Generations- und Rekombinationsprozesse und damit der mittleren Trägerdichte und Leitfähigkeit • besonders wichtig bei Photoleitern • in photovoltaischen Elementen meist vernachlässigbar 6. Detektoren - 13 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg 6.5 Rauschen von Photodioden (4) Signal-Rausch-Verhältnis 2 SNR = σ 2 shot I 2 + σ thermisch 2 Fälle: Thermisches Rauschen dominiert: SNR = RL R 2 PPh2 4 k B TFN Δf Verbesserung des SNR durch Erhöhung der Eingangsleistung bzw. des Lastwiderstandes Æ optischer Vorverstärker bzw. Hochimpedanzverstärker Schrotrauschen dominiert: SNR = RPPh 2qΔf Verbesserung des SNR durch Erhöhung der Eingangsleistung (Verstärkung) bzw. Verringerung der Bandbreite 6. Detektoren - 14 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg 6.5 Rauschen von Photodioden (5) Noise Equivalent Power (NEP) optische Leistung zur Erzeugung eines Photostroms, der gleich dem Rauschstrom ist I ph = Pqηλ ; hc I S = 2q ( I ph + I d ) Δf ; I ph = I S a ) I d << I ph → NEP = b) I d >> I ph → NEP = Detectivity: D= 2hc ηλ Δf hc 2qI d Δf qηλ 1 NEP 6. Detektoren - 15 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg 6.5 Rauschen von Photodioden (6) Rauschbeiträge aus optischen Verstärkern Verwendung von optischen Verstärkern (z.B. im WDM System) ÆVerstärkung des Signals ÆErzeugung von ASE-Rauschen Detektion mit Photodiode: 2 • Detektion der Intensität Æ Betragsquadratbildung der komplexen Feldamplitude I ~ E • Bildung von Schwebungstermen (“Mischung” während der Detektion) E1 (t ) = Eˆ1 cos(ω1t ) ⎫⎪ 2 ⎬ → Pges (t ) = k E1 (t ) + E2 (t ) ˆ ⎪ E2 (t ) = E2 cos(ω2t )⎭ 2 Pges (t ) = k E1 (t ) + E2 (t ) = ⎛ ⎛ ⎞⎞ k ˆ2 E1 (1 + cos(2ω1t ) ) + Eˆ 22 (1 + cos(2ω2t ) ) + k ⎜ Eˆ1 Eˆ 2 ⎜ cos(ω1 + ω2 )t + cos(ω1 − ω2 )t ⎟ ⎟ 424 3 1 424 3 ⎟⎟ ⎜ ⎜ 1 2 Mischterm Mischterm ⎝ ⎠⎠ ⎝ ( ) • Entstehung von Anteilen bei der Differenzfrequenz δf der Signale • Liegt δf innerhalb der Empfängerbandbreite, tritt das gemischte Signal als zusätzliches Störsignal in Erscheinung. 6. Detektoren - 16 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg 6.5 Rauschen von Photodioden (7) Rauschbeiträge aus optischen Verstärkern Rauschbeiträge aufgrund gemischter Frequenzerzeugung und ASE: Signal-spontaneous beat noise Mischung der Signalfrequenz mit benachbarten ASE-erzeugten Frequenzen σ 2sig − sp = 2 R 2 Psig S spδf SignalSpontaneous Beat Noise Spontaneous-spontaneous beat noise SpontaneousSpontaoneous Beat Noise σ 2sp ,sp = 2 R 2 Ssp2 Δfδf mit S sp = (G − 1)hf Fn δf Δf δf Schrotrauschen der ASE-Detektion σ 2s− sp = 2qRSsp Δfδf δf: elektr. Bandbreite des Receivers Δf: optische Bandbreite von Signal und Rauschen 6. Detektoren - 17 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg 6.5 Rauschen von Photodioden (8) Zusammenfassung ND | E |2 PoissonVerteilung S + NS-Sp NSp-Sp Nshot + Neq HA(s) HN(s) S NS-Sp NSp-Sp ND Nshot Neq WGN Signal Signal-Spontaneous-Beat-Noise Spontaneous-Spontaneous-Beat-Noise Dunkelstrom (Thermisches Rauschen) Schrotrauschen Äquivalentes Eingangsrauschen des (Transimpedanz-) Verstärkers 6. Detektoren - 18 Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik – Universität Erlangen-Nürnberg