Das Rasterkraftmikroskop (AFM)

Das Rasterkraftmikroskop (AFM)
Das Rasterkraftmikroskop dient dazu, die Oberfläche eines Gegenstandes zu untersuchen.
Ein sehr kleiner Hebelarm schwingt mit einer konstanten Frequenz und bewegt sich
rasterförmig über die Oberfläche. Dabei wird der Arm durch die Van der Waals Kräfte
angezogen, das ist die Anziehungskraft, die zwischen den einzelnen Atomen wirkt. Durch die
Anziehung des Hebelarms verändert sich die Amplitude (Auslenkung) der
Schwingungskurve. Dies wird durch einen Laser, der vom Hebelarm reflektiert wird und auf
einen Detektor gelenkt wird gemessen.
Wenn die Amplitude höher als normal ist, ist der Gegenstand an dieser Stelle erhöht, ist die
Amplitude kleiner, ist dort eine Vertiefung.
Bei der Untersuchung einer DVD wird deutlich, dass die Abstände zwischen den einzelnen
Bits im Vergleich zu einer Blue Ray größer sind. Das liegt an der Wellenlänge des Roten
Lichts, dass etwa 650 nm beträgt. Bei der Blue Ray beträgt die Wellenlänge nur 405 nm.
Abbildung einer CD unter einem Rasterkraftmikroskop (Quelle: Wikipedia.de)