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PRESSEMITTEILUNG 26. August 2013 Von Makroskop bis Mikroskop – maßgeschneiderte Sauberkeitsanalyse Leica Application Suite (LAS) Cleanliness Expert jetzt mit erweiterten Einsatzpotential Wetzlar, Deutschland – Das Softwaremodul Leica Application Suite (LAS) Cleanliness Expert von Leica Microsystems steht nun für eine größere Auswahl an Mikroskopen zur Verfügung. Damit kann ein erweiterter Anwenderkreis mit einem breiteren Anforderungsspektrum von den präzisen Messungen profitieren, die das Gerät für industrielle Anwendungen bietet. Der Leica Cleanliness Expert führt Restschmutzbestimmungen durch, wie sie etwa in der Automobilindustrie benötigt werden. Anwender können Längen-, Breiten- und Höhenmessungen von Partikeln vornehmen und reflektierende und nichtreflektierende Partikel unterscheiden. Zu den Leistungen der Software gehört auch die Dokumentation der Ergebnisse, die vollständig reproduzierbar sind. Da solche detailreichen Messungen bei der Sauberkeitsanalyse nicht immer erforderlich sind, hat Leica Microsystems den Leica Cleanliness Expert für verschiedene zusätzliche Anforderungen angepasst. Zur Bestimmung des Verschmutzungsgrades bei Hydraulikflüssigkeiten gemäß ISO 4406 sind die Mikroskope Leica DM2700 M, Leica DM4000 M LED und Leica DM6000 M bestens geeignet. Beim Messen und Zählen unterschiedlich großer Partikel wie zum Beispiel gemäß ISO 16232 gefordert, kommen die Systeme Leica DM2700 M, Leica DM4000 M LED, Leica DM6000 M, sowie die digitalen Mikroskopsysteme Leica DMS300 Cleanliness Expert und Leica DMS1000 Cleanliness Expert zum Einsatz. Für Untersuchungen ohne Nutzereinfluss, bei denen reproduzierbare Beleuchtungseinstellungen für die Vergleichbarkeit der Messungen unabdingbar sind, sind das Leica DM4000 M LED oder das Leica DM6000 M zu empfehlen. „Anwender des Leica Cleanliness Expert schätzen die benutzerfreundliche Bedienoberfläche, den Algorithmus zur Differenzierung reflektierender und nicht-reflektierender Partikel, die Messung der Länge, Breite und Höhe der meistens nicht gleichmäßig geformten Partikel sowie die Transparenz der Claudia Müller · T +49 6441 29 2630 · F +49 6441 29 2527 · [email protected] Leica Microsystems GmbH · Ernst-Leitz-Straße 17–37 · D-35578 Wetzlar · www.leica-microsystems.com 1/2 PRESSEMITTEILUNG Ergebnisse”, erklärt Dr. Kay Scheffler, Produktmanager bei Leica Microsystems. „Wir freuen uns, den Leica Cleanliness Expert nun einem größeren Anwenderkreis anbieten zu können.“ Bildunterschrift: Das Mikroskopsystem Leica DMS300 Cleanliness Expert erlaubt Längen- und Breitenmessungen kleinster Partikel bis 20 Mikrometer sowie die Differenzierung zwischen reflektierenden und nicht-reflektierenden Partikeln. _______________ Leica Microsystems ist eine weltweit führende Marke für Mikroskope und wissenschaftliche Instrumente. Aus einem im 19. Jahrhundert gegründeten Familienunternehmen entsteht im Lauf einer von bahnbrechenden Innovationen geprägten Geschichte ein globales Unternehmen. Die traditionell enge Zusammenarbeit mit Wissenschaft und Forschung bildet die Basis für zukunftsweisende Lösungen, die inspiriert sind von Ideen der Anwender und maßgeschneidert für ihre Bedürfnisse. Leica Microsystems ist auf globaler Ebene in drei Divisionen tätig, die in ihrem jeweiligen Segment zu den Marktführern zählen: Life Science Division, Industry Division und Medical Division. Mit sechs Produktionsstätten in fünf Ländern, Vertriebs- und Servicegesellschaften in 20 Ländern und einem internationalen Händlernetzwerk ist das Unternehmen in mehr als 100 Ländern tätig. Sitz des globalen Managements ist Wetzlar, Deutschland. Claudia Müller · T +49 6441 29 2630 · F +49 6441 29 2527 · [email protected] Leica Microsystems GmbH · Ernst-Leitz-Straße 17–37 · D-35578 Wetzlar · www.leica-microsystems.com 2/2
