Beleuchtungsmodul für einen optischen Sensor sowie optischer

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*DE102014215952B420161110*
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DE 10 2014 215 952 B4 2016.11.10
Patentschrift
(21) Aktenzeichen: 10 2014 215 952.0
(22) Anmeldetag: 12.08.2014
(43) Offenlegungstag: 18.02.2016
(45) Veröffentlichungstag
der Patenterteilung: 10.11.2016
(51) Int Cl.:
G01B 11/24 (2006.01)
G01B 11/12 (2006.01)
G01B 11/00 (2006.01)
Innerhalb von neun Monaten nach Veröffentlichung der Patenterteilung kann nach § 59 Patentgesetz gegen das Patent
Einspruch erhoben werden. Der Einspruch ist schriftlich zu erklären und zu begründen. Innerhalb der Einspruchsfrist ist
eine Einspruchsgebühr in Höhe von 200 Euro zu entrichten (§ 6 Patentkostengesetz in Verbindung mit der Anlage zu §
2 Abs. 1 Patentkostengesetz).
(73) Patentinhaber:
Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH, 73447
Oberkochen, DE
(56) Ermittelter Stand der Technik:
siehe Folgeseiten
(72) Erfinder:
Engel, Thomas, Dr., 73432 Aalen, DE
(54) Bezeichnung: Beleuchtungsmodul für einen optischen Sensor sowie optischer Sensor mit einem solchen
Belechtungsmodul für ein Koordinatenmessgerät zur Vermessung von Innengewinden oder Bohrlöchern
eines Werkstücks
(57) Hauptanspruch: Beleuchtungsmodul (41f) für einen
optischen Sensor (31f) zur Vermessung einer Oberfläche
(7a) eines Bohrlochs eines Werkstücks (7) mittels eines
Koordinatenmessgeräts umfassend mindestens eine Lichtquelle (1) sowie optische Elemente (2, 3, 4, 5, 6, 6a) zur
Führung des Lichts einerseits auf dem Hinweg von der
mindestens einen Lichtquelle (1) auf die Oberfläche (7a)
des zu vermessenden Werkstücks (7) und andererseits auf
dem Rückweg von der Oberfläche (7a) des zu vermessenden Werkstücks (7) zu mindestens einem Detektor (10)
des optischen Sensors (31f), wobei einige der genannten
optischen Elemente (4, 5, 6, 6a) sowohl für die Strahlführung auf dem Hinweg als auch für die Strahlführung auf
dem Rückweg genutzt werden und wobei mindestens eines dieser genannten optischen Elemente ein Umlenkelement (6a) ist, das auf dem Hinweg für eine Umlenkung des
Lichts auf die Oberfläche (7a) des zu vermessenden Werkstücks (7) und auf dem Rückweg für eine Umlenkung des
Lichts zu dem mindestens einen Detektor (10) sorgt, wobei auf dem Hinweg durch das Umlenkelement (6a) der
Fokusbereich des Beleuchtungsmoduls (41f) bzw. Sensors
(31f) zumindest teilweise bogenförmig ausgebildet wird,
dadurch gekennzeichnet, dass eine polarisationsoptische
Einheit (12) des Beleuchtungsmoduls (41f) zwischen der
Lichtquelle (1) und dem Umlenkelement (6a) für eine Polarisation des Lichts auf dem Hinweg zwischen der polarisationsoptischen Einheit (12) und dem Umlenkelement (6a)
sorgt, wobei das Licht auf dem Hinweg zwischen der polarisationsoptischen Einheit (12) und dem Umlenkelement (6a)
entweder azimutal polarisiert ist, so dass das Licht nach
der Umlenkung durch das Umlenkelement (6a) bei der Vermessung einer Oberfläche (7a) eines Bohrlochs auf diese
Oberfläche (7a) linear polarisiert mit einer Ausrichtung (14)
senkrecht zur Bohrlochachse auftrifft, oder wobei das Licht
auf dem Hinweg zwischen der polarisationsoptischen Einheit (12) und dem Umlenkelement (6a) radial polarisiert ist,
so dass das Licht nach der Umlenkung durch das Umlenkelement (6a) bei der Vermessung einer Oberfläche (7a)
eines Bohrlochs auf diese Oberfläche (7a) linear polarisiert
mit einer Ausrichtung (14) parallel zur Bohrlochachse auftrifft.
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(56) Ermittelter Stand der Technik:
DE
103 92 656
DE 10 2004 012 426
US 2006 / 0 132 802
US 2010 / 0 312 524
US
3 892 470
US
4 453 082
US
5 677 755
US
4 755 027
US
3 892 469
EP
2 093 536
WO
2013/ 167 167
WO
2014/ 023 332
WO
2014/ 023 780
B4
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A
A
A
A
A
A1
A1
A1
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Beschreibung
[0001] Die Erfindung betrifft ein Beleuchtungsmodul
für einen optischen Sensor sowie einen optischen
Sensor mit einem solchen Beleuchtungsmodul für ein
Koordinatenmessgerät zur Vermessung von Innengewinden oder Bohrlöchern eines Werkstücks.
[0002] Als optische Sensoren für die berührungslose Erfassung von Koordinaten eines Werkstücks
sind neben der visuellen Erfassung mittels CCD- oder
CMOS-Kameras auch konfokale chromatische Sensoren, konoskopische Sensoren, Abstandssensoren
mit Foucault'scher Schneide, konfokale Mikroskope
sowie Sensoren bekannt, die auf den Messprinzipien der Fokusvariation, der Streifenprojektion, der
klassischen Triangulation, der Photogrammetrie, der
klassischen Interferometrie sowie auf der Weißlichtinterferometrie beruhen. Ein Koordinatenmessgerät
mit einem optischen Sensor basierend auf der Weißlichtinterferometrie ist zum Beispiel aus dem Patent
DE 103 92 656 B4 oder aus der Veröffentlichung
US 2010/0312524 A1 bekannt. Die Weißlichtinterferometrie ist dabei auf dem Gebiet des Maschinenbaus zur Vermessung von reflektierenden Oberflächen als optisches Kohärenzradar und auf medizinischem Gebiet zur Vermessung von weichen Gewebevolumen als optische Kohärenztomographie (optical coherence tomography, OCT) bekannt. Ferner ist
die Vermessung von rauen Oberflächen mittels des
optischen Kohärenzradars als eine Spezialform der
Speckle-Interferometrie bekannt, siehe Dresel et al.
„Three-dimentional sensing of rough surfaces by coherence radar” APPLIED OPTICS, Vol. 31, No. 7,
March 1992, P. 919–925.
[0003] Der
Vermessung
von
Innenwänden
von Bohrlöchern mittels der Weißlichtinterferometrie widmet sich die Veröffentlichung
DE 10 2004 012 426 A1. Dabei wird ein Periskop
bzw. ein Umlenkspiegel dazu genutzt, den Fokus
bzw. die Fokuszone des Weißlichtinterferometers auf
einen Punkt bzw. einen Bereich mit kleiner lateraler
Ausdehnung der Innenwand zu lenken, um den Abstand dieses Punktes bzw. Bereichs der Innenwand
zu messen. Nachteilig ist jedoch, dass zur vollständigen Vermessung nur einer Höhenlinie der Innenwand das Periskop bzw. der Umlenkspiegel sukzessive in verschiedene Drehpositionen um insgesamt
360° gedreht und pro Drehposition jeweils ein Messpunkt aufgenommen werden muss. Dies führt zu einer großen Zeitspanne für die vollständige Vermessung einer oder mehrere Höhenlinien der Innenwand
eines Bohrlochs oder eines Innengewindes.
[0004] Die gleichzeitige Erfassung ganzer Höhenlinien von Innenwänden von Bohrlöchern ist
im Zusammenhang mit der Fig. 5 des Patents
US 4 453 082 A mittels eines rotationssymmetrischen
Parabolspiegels für einen konfokalen Sensor offen-
bart. Nachteilig ist jedoch, dass der durch den Parabolspiegel erzeugte vollständige Fokusring in seinem Durchmesser durch die festgelegte Form des
Parabolspiegels nicht variabel ist und so für verschiedene Bohrlochdurchmesser verschiedene Sensoren
mit unterschiedlichen Parabolspiegeln genutzt werden müssen.
[0005] Dieses Problem der Fokusvariation löst die
Veröffentlichung EP 2 093 536 A1 dadurch, dass
statt eines Parabolspiegels ein Konus genutzt wird
und die Erzeugung des Fokusrings durch die Erzeugung bzw. Nutzung von ausschließlich zur optischen Achse geneigter Lichtstahlen herbeigeführt
wird. Dabei werden in dem Ausführungsbeispiel zur
Fig. 1 der genannten Veröffentlichung zwei Blenden
zur Auswahl ausschließlich zur optischen Achse geneigter Lichtstrahlen und in dem Ausführungsbeispiel
zur Fig. 11 ein Axikon zur Erzeugung ausschließlich zur optischen Achse geneigter Lichtstrahlen verwendet. Durch diese Schrägstellung der Lichtstrahlen zur optischen Achse wird gewährleistet, dass diese Lichtstrahlen auf einer Seite des Konus einen Fokus bilden und dass nach der Reflektion an der Innenwand eines Bohrlochs diese Lichtstrahlen auch auf
der gleichen Seite des Konus zu einem Detektor zurücklaufen können. Ohne diese Schrägstellung würden die an der Innenwand reflektierten Strahlen auf
dem Rückweg nicht mehr den Konus treffen. Dies ist
der Grund, warum in vielen Dokumenten des Standes der Technik, welche in der Regel parallel zur optischen Achse ausgerichtetes Licht für eine Fokussierung durch eine Linse nutzen, ein Umlenkspiegel
bzw. Periskop nach der Linse zum Umlenken des
Fokuspunkts verwendet wird, da bei diesen Elementen sichergestellt ist, dass sowohl die zur Innenwand
bzw. dem Fokus hinlaufenden Strahlen als auch die
zurückkommenden reflektierten Strahlen durch den
Umlenkspiegel bzw. das Periskop vollständig erfasst
werden.
[0006] Die Anpassung an verschiedene Bohrlochdurchmesser wird in der Veröffentlichung
EP 2 093 536 A1 dadurch realisiert, dass der Abstand des Konus vom restlichen Sensor veränderbar ist. Hierzu ist es allerdings notwendig, den Konus
und/oder das zugehörige Gehäuse, in das der Konus eingebettet ist, zu bewegen. Hierdurch müssen
einerseits relativ große Massen bewegt werden und
es muss andererseits die Bewegung des Konus sehr
präzise kontrolliert werden. Die großen Massen führen zu einer Erhöhung der notwendigen Mess- bzw.
Umrüstzeit für unterschiedliche Bohrlochdurchmesser oder für Bohrlöcher mit größeren Durchmesserschwankungen, wie sie zum Beispiel bei Innengewinden gegeben sind. Die Ungenauigkeit in der Bewegung des Konus führt zu einer reduzierten Messgenauigkeit sobald der Konus im Rahmen einer Messung bewegt werden muss.
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[0007] Obwohl in der EP 2 093 536 A1 nur ein Konus
in Form eines Kegels bzw. Kegelstumpfes gezeigt ist,
wird im Rahmen der vorliegenden Erfindung der Begriff Konus im mathematischen Sinne dahingehend
verstanden, dass damit jede Fläche erfasst ist, die
sich als eine um eine Achse rotierbare Kurve bzw.
rotierbaren Kurvenabschnitt darstellen lässt. Insofern
ist auch der rotationssymmetrischen Parabolspiegels
aus dem Patent US 4 453 082 A durch den Begriff
Konus im Sinne der vorliegenden Erfindung erfasst.
[0008] Bei vielen der eingangs erwähnten Messtechniken ist es nun notwendig, die von der Messtechnik erzeugten Intensitätssignale bzw. Intensitätsmuster mittels eines CCD- oder CMOS-Detektors zu erfassen und somit einer Datenverarbeitung zuzuführen. Diese Datenerfassung auf den entsprechenden
Detektoren bzw. die Datenqualität hängt dabei jedoch sehr entscheidend vom Signal zu Rauschverhältnis bzw. dem Kontrast der erfassten Intensitätswerte bzw. Intensitätsmuster ab.
[0009] Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, ein Beleuchtungsmodul für einen Sensor sowie
einen Sensor für ein Koordinatenmessgerät zur Vermessung von Bohrlöchern oder Innengewinden anzugeben, das bzw. der gegenüber dem Stand der
Technik ein verbessertes Signal zu Rauschverhältnis
bzw. einen verbesserten Kontrast der erfassten Intensitätswerte bzw. Intensitätsmuster aufweist.
[0010] Diese Aufgabe wird gelöst durch ein Beleuchtungsmodul für einen optischen Sensor zur Vermessung einer Oberfläche eines Bohrlochs eines Werkstücks mittels eines Koordinatenmessgeräts umfassend mindestens eine Lichtquelle sowie optische Elemente zur Führung des Lichts einerseits auf dem Hinweg von der mindestens einen Lichtquelle auf die
Oberfläche des zu vermessenden Werkstücks und
andererseits auf dem Rückweg von der Oberfläche
des zu vermessenden Werkstücks zu mindestens einem Detektor des optischen Sensors, wobei einige
der genannten optischen Elemente sowohl für die
Strahlführung auf dem Hinweg als auch für die Strahlführung auf dem Rückweg genutzt werden und wobei
mindestens eines dieser genannten optischen Elemente ein Umlenkelement ist, das auf dem Hinweg
für eine Umlenkung des Lichts auf die Oberfläche des
zu vermessenden Werkstücks und auf dem Rückweg
für eine Umlenkung des Lichts zu dem mindestens
einen Detektor sorgt, wobei auf dem Hinweg durch
das Umlenkelement der Fokusbereich des Beleuchtungsmoduls bzw. Sensors zumindest teilweise bogenförmig ausgebildet wird, und wobei eine polarisations-optische Einheit des Beleuchtungsmoduls zwischen der Lichtquelle und dem Umlenkelement für eine Polarisation des Lichts auf dem Hinweg zwischen
der polarisationsoptischen Einheit und dem Umlenkelement sorgt, wobei das Licht auf dem Hinweg zwischen der polarisationsoptischen Einheit und dem
Umlenkelement entweder azimutal polarisiert ist, so
dass das Licht nach der Umlenkung durch das Umlenkelement bei der Vermessung einer Oberfläche
eines Bohrlochs auf diese Oberfläche linear polarisiert mit einer Ausrichtung senkrecht zur Bohrlochachse auftrifft, oder wobei das Licht auf dem Hinweg zwischen der polarisationsoptischen Einheit und
dem Umlenkelement radial polarisiert ist, so dass das
Licht nach der Umlenkung durch das Umlenkelement
bei der Vermessung einer Oberfläche eines Bohrlochs auf diese Oberfläche linear polarisiert mit einer
Ausrichtung parallel zur Bohrlochachse auftrifft. Dabei wird im Rahmen der vorliegenden Erfindung unter Polarisation des Lichts jede Form der Abweichung
vom unpolarisierten Zustand verstanden.
[0011] Indem erfindungsgemäß bei den eingangs erwähnten Beleuchtungsmodulen bzw. Sensoren des
Standes der Technik mit einem konischen Umlenkelement zur Erzeugung eines zumindest teilweise
bogenförmigen Fokusbereichs eine polarisationsoptische Einheit eingesetzt wird, um gezielt den Polarisationszustand des Lichts beim Auftreffen auf die
zu vermessende Oberfläche einzustellen, ist es möglich, gerade einen solchen Polarisationszustand einzustellen, bei dem der Kontrast und somit das Signal
zu Rauschverhältnis am Detektor des Sensors maximiert wird.
[0012] In einer Ausführungsform sind polarisationsoptische Einheit und/oder einzelne optische Elemente der polarisationsoptischen Einheit in den Lichtstrahlengang des Sensors bzw. des Beleuchtungsmoduls einführbar gelagert bzw. gehaltert, so dass
wahlweise der Sensor bzw. das Beleuchtungsmodul
zwischen einem polarisierten und einem unpolarisierten Betriebsmodus durch das Ein- bzw. Ausführen
der polarisationsoptischen Einheit und/oder eines ihrer optische Elemente in bzw. aus dem Lichtstrahlengang umgeschaltet werden kann. Durch den Vergleich von unpolarisierten Messungen mit polarisierten Messungen sind Rückschlüsse auf die Oberflächentextur bzw. Rauheit der Oberfläche möglich, insbesondere dahingehend, ob diese Textur bzw. Rauheit isotrop ist oder eine Vorzugsrichtung aufweist.
Somit können insbesondere Aussagen über die Bearbeitungsqualität von Bohrlöchern parallel und senkrecht zur Vorschubrichtung des Bearbeitungswerkzeugs gewonnen werden.
[0013] In einer weiteren Ausführungsform sind die
polarisationsoptische Einheit und/oder einzelne optische Elemente der polarisationsoptischen Einheit
in dem Lichtstrahlengang des Beleuchtungsmoduls
drehbar gelagert bzw. gehaltert, so dass der polarisierte Zustand des Lichts auf dem Hinweg zum
Umlenkelement durch das Drehen der polarisationsoptischen Einheit und/oder eines ihrer optischen
Elemente verändert werden kann. Hierdurch lassen
sich mehrere Aufnahmen einer Oberfläche bei unter-
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schiedlichen Polarisationszuständen analysieren, um
so einerseits genauere Messwerte für die Koordinaten der Oberfläche als auch andererseits Aussagen
zur Oberflächentextur bzw. Rauheit zu gewinnen.
[0014] Bei allen erfindungsgemäßen Ausführungsformen ist das Licht auf dem Hinweg zwischen der
polarisationsoptischen Einheit und dem Umlenkelement entweder azimutal polarisiert, so dass das Licht
nach der Umlenkung durch das Umlenkelement bei
der Vermessung einer Oberfläche eines Bohrlochs
auf diese Oberfläche linear polarisiert mit einer Ausrichtung senkrecht zur Bohrlochachse auftrifft. Hierdurch lassen sich Aussagen über die Bearbeitungsqualität von Bohrlöchern senkrecht zur Vorschubrichtung des Bearbeitungswerkzeugs gewinnen. Alternativ ist das Licht auf dem Hinweg zwischen der polarisationsoptischen Einheit und dem Umlenkelement
radial polarisiert, so dass das Licht nach der Umlenkung durch das Umlenkelement bei der Vermessung
einer Oberfläche eines Bohrlochs auf diese Oberfläche linear polarisiert mit einer Ausrichtung parallel zur
Bohrlochachse auftrifft. Hierdurch lassen sich Aussagen über die Bearbeitungsqualität von Bohrlöchern
parallel zur Vorschubrichtung des Bearbeitungswerkzeugs gewinnen.
[0015] Die Erzeugung von zur optischen Achse tangential bzw. azimutal ausgerichteter Polarisation sowie radial ausgerichteter Polarisation mittels einer
polarisationsoptischen Einheit bestehend aus mehreren konischen Flächen mit entsprechenden polarisationsselektiven Beschichtungen ist zum Beispiel
aus dem Patent US 4 755 027 A bekannt. Darüber
hinaus ist die Erzeugung von zur optischen Achse
tangential bzw. ringförmig ausgerichteter Polarisation mittels eines doppelbrechenden optischen Elements in Form eines Abschnitts einer doppelläufigen Wendeltreppe aus dem Patent US 3 892 470 A
bekannt. Eine weitere Nutzung dieses Elements ist
aus dem Patent US 3 892 469 A bekannt, dabei
wird zusätzlich die Doppelbrechung eines weiteren
kristallinen optischen Elements durch Anlegung von
elektrischen Spannungen zur Fokusvariation verändert. Die Erzeugung azimutaler und/oder radialer Polarisation in der Pupille eines Beleuchtungsmoduls
mittels unterschiedlichen zueinander kombinierbaren
optischen Elementen ist Gegenstand des Patents
US 5 677 755 A. Dort ist zum Beispiel in Fig. 19A
die Anordnung mehrerer solcher Elemente auf einem
Wechselrad zum Wechseln der Polarisationseigenschaft des Lichts der Pupille des Beleuchtungsmoduls zwischen azimutaler und radialer Polarisation
mit unterschiedlichem Pupillenfüllungsgrad (σ) offenbart. Eine polarisationsoptische Einheit der vorliegenden Erfindung kann folglich aus einem oder mehreren der im Stand der Technik offenbarten optischen
Elementen bestehen.
[0016] In einer Ausführungsform umfasst die polarisationsoptische Einheit mindestens ein optisches
Element aus doppelbrechendem und/oder optisch
aktivem Material. Ein entsprechend geformtes optisches Element aus doppelbrechendem Material erlaubt einen möglichst einfachen Aufbau der polarisationsoptischen Einheit mit möglichst wenigen optischen Elementen.
[0017] In einer weiteren Ausführungsform liegt das
optischen Elements aus doppelbrechendem und/
oder optisch aktivem Material in Form einer Scheibe
vor, deren eine Seite plan ist und deren andere Seite zweifach gestuft ist mit zwei gleich hohen Stufen
der Höhe H, wobei die Oberfläche zwischen den beiden Stufen in Form einer einhüllenden Fläche einer
doppelläufigen Wendeltreppe gegeben ist, so dass
die Höhe der Scheibe entlang ihres Umfangs angefangen bei einer Mindesthöhe ho der Scheibe linear
mit dem Umfang bis zur Höhe H + ho bei der Hälfte des Umfangs bzw. der ersten Stufe ansteigt, danach senkrecht auf ho abfällt und wiederum linear
mit dem Umfang bis zur Höhe H + ho bei der zweiten Hälfte des Umfangs bzw. der zweiten Stufe ansteigt, wobei die Höhe H der beiden Stufen bei doppelbrechendem Material gegeben ist durch das Doppelte der Wellenlänge λ des Lichts dividiert durch den
Brechungsindexunterschied n = (ne – no) von außerordentlichem Brechungsindex ne und ordentlichem
Brechungsindex no des doppelbrechenden Materials.
Ein optisches Element aus doppelbrechendem Material in Form einer doppelläufigen Wendeltreppe ermöglicht separat oder im Zusammenspiel mit anderen polarisationsoptischen Komponenten eine möglichst einfache Erzeugung von azimutaler bzw. radialer Polarisation.
[0018] In einer Ausführungsform umfasst die polarisationsoptische Einheit mindestens eine λ/4- und /
oder mindestens eine λ/2-Platte. Solche Komponenten sind hilfreich für die Umwandlung von linear polarisiertem Licht in zirkular polarisiertes Licht oder
zur Drehung der Polarisationsebene, insbesondere
im Zusammenspiel mit dem in Form einer doppelläufigen Wendeltreppe vorliegenden optischen Element aus doppelbrechendem und/oder optisch aktivem Material.
[0019] In einer Ausführungsform weist das Beleuchtungsmodul eine Wechselschnittstelle zur Ankopplung des Beleuchtungsmoduls an den Sensor auf.
Hierdurch wird gewährleistet, dass das Beleuchtungsmodul gegen ein anderes Beleuchtungsmodul,
welches zum Beispiel für die Vermessung eines anderen Durchmessers ausgelegt ist, getauscht werden kann. Ferner ist durch eine Wechselschnittstelle
die Nachrüstung von bestehenden optischen Sensoren mit einem erfindungsgemäßen Beleuchtungsmodul möglich.
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[0020] Die vorliegende Aufgabe wird ferner gelöst
durch einen optischen Sensor für ein Koordinatenmessgerät zur Vermessung einer Oberfläche eines
Werkstücks umfassend ein erfindungsgemäßes Beleuchtungsmodul und mindestens einen Detektor,
der flächenmäßig zur Erfassung von Intensitätssignalen von Licht aus dem zumindest teilweise bogenförmigen Fokusbereich ausgebildet ist.
[0021] Weitere Merkmale und Vorteile der Erfindung
ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung
von Ausführungsbeispielen der Erfindung anhand der
Figuren, die erfindungswesentliche Einzelheiten zeigen, und aus den Ansprüchen. Die einzelnen Merkmale können je einzeln für sich oder zu mehreren in
beliebiger Kombination bei einer Variante der Erfindung verwirklicht sein.
[0022] Ausführungsbeispiele der Erfindung werden
nachfolgend anhand der Figuren näher erläutert. In
diesen zeigt
[0023] Fig. 1 eine schematische Darstellung eines
optischen Sensors des Standes der Technik entsprechend der Fig. 11 aus EP 2 093 536 A1;
[0024] Fig. 2 eine schematische Darstellung einer
ersten alternativen Ausführungsform eines konfokalen Sensors im Vergleich zu Fig. 1;
[0025] Fig. 3 eine schematische Darstellung einer
zweiten alternativen Ausführungsform eines konfokalen Sensors im Vergleich zu Fig. 1;
[0026] Fig. 4 eine schematische Darstellung einer
dritten alternativen Ausführungsform eines konfokalen Sensors im Vergleich zu Fig. 1;
[0027] Fig. 5 eine schematische Darstellung einer
Ausführungsform eines Sensors basierend auf der
Weißlichtinterferometrie;
[0028] Fig. 6 ein schematische Darstellung eines
alternativen Beleuchtungsmoduls bzw. Sensors im
Vergleich zu Fig. 3; und
[0029] Fig. 7 eine schematische Darstellung einer
ersten Ausführungsform eines erfindungsgemäßen
Beleuchtungsmoduls bzw. Sensors.
[0030] Fig. 1 zeigt einen optischen Sensor 30 des
Standes der Technik für ein Koordinatenmessgerät zur Erfassung von Oberflächenkoordinaten eines
Werkstücks 7 umfassend mindestens eine Lichtquelle 1 und mindestens einen Detektor 10 sowie optische Elemente 2, 3, 4, 5, 6 und 9 zur Führung des
Lichts einerseits auf dem Hinweg von der mindestens
einen Lichtquelle 1 auf die Oberfläche 7a des zu vermessenden Werkstücks 7 und andererseits auf dem
Rückweg von der Oberfläche 7a des zu vermessen-
den Werkstücks 7 zu dem mindestens einen Detektor
10, wobei einige der genannten optischen Elemente
4, 5, 6 und 6a sowohl für die Strahlführung auf dem
Hinweg als auch für die Strahlführung auf dem Rückweg genutzt werden und wobei mindestens eines dieser genannten optischen Elemente ein Umlenkelement 6a ist, das auf dem Hinweg für eine Umlenkung
des Lichts auf die Oberfläche 7a des zu vermessenden Werkstücks 7 und auf dem Rückweg für eine Umlenkung des Lichts zu dem mindestens einen Detektor 10 sorgt, wobei auf dem Hinweg durch das Umlenkelement 6a der Fokusbereich des Sensors 30 zumindest teilweise bogenförmig ausgebildet wird und
wobei der mindestens eine Detektor 10 flächenmäßig zur Erfassung von Intensitätssignalen von Licht
aus diesem zumindest teilweise bogenförmigen Fokusbereich ausgebildet ist.
[0031] Der in Fig. 1 dargestellte optische Sensor 30
entspricht samt den Bezugszeichen dem in Fig. 11
der EP 2 093 536 A1 offenbarten Sensor, lediglich
das Bezugszeichen 7a für die Oberfläche des Werkstücks 7 wurde ergänzt. Ferner wurde das optische
Element 6 in der Fig. 1 nicht in einer abgesetzten
Form wie in der Fig. 11 der EP 2 093 536 A1 sondern
als Vollzylinder dargestellt. Darüber hinaus wurde in
der Fig. 1 im Gegensatz zu der Fig. 11 mehr Platz für
den Lichtweg zwischen der Kollimationslinse 2 und
dem Axikon 3 eingeräumt. Ein weiterer Unterschied
der hier vorliegenden Fig. 1 zu der Fig. 11 der EP
2 093 536 A1 ergibt sich daraus, dass die Lage der
Blende 8 in der Fig. 11 unterhalb der Linse 9 der Lage einer Pupillenebene entspricht und die Lage der
Blende 8 in der vorliegenden Fig. 1 oberhalb der Linse 9 gemäß dem Ort der kleinsten Einschnürung der
Lichtstrahlen gewählt wurde. Ferner ist festzuhalten,
dass in der Fig. 11 der EP 2 093 536 A1 Lichtstrahlen oberhalb des Strahlteilers 4 eingezeichnet sind,
die in der Realität nicht existieren. Dies betrifft die äußersten Lichtstrahlen am Detektor 10 der Fig. 11 der
EP 2 093 536 A1. Vermutlich wurden diese nicht existierenden Lichtstrahlen zur Verdeutlichung der Pupillenebene und damit der Lage der Blende 8 in die
Fig. 11 der EP 2 093 536 A1 aufgenommen. Eine korrekte Darstellung der Lichtstrahlen ohne diese nicht
existierenden Lichtstrahlen findet sich dagegen in der
nachfolgenden Fig. 12 der EP 2 093 536 A1.
[0032] Die Funktionsweise des in Fig. 1 dargestellten Sensors 30 wird im Folgenden kurz erläutert. Darüber hinaus wird auf die Offenbarung der
EP 2 093 536 hinsichtlich der Funktionsweise dieses
Sensors verwiesen, welche hiermit vollumfänglich für
die Beschreibung des Sensors 30 der Fig. 1 in Bezug
genommen wird.
[0033] Der in Fig. 1 dargestellte Sensor 30 eignet
sich insbesondere zur Vermessung der Oberflächenkoordinaten der Innenseiten von Bohrlöchern eines
Werkstücks 7, da der Sensor 30 in der Lage ist, den
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auf die Innenwand bzw. Oberfläche 7a in Form eines
Rings projizierte Fokusbereich des Sensors 30 mittels nur einer Messung vollständig auf den Detektor
10 abzubilden. Dazu wird das Licht der Lichtquelle
1 zunächst durch eine Kollimationslinse 2 kollimiert,
d. h. nahezu parallel zur optischen Achse ausgerichtet. Ein nachfolgendes Axikon 3 sorgt für eine Zerlegung des parallel ausgerichteten Lichts in ein umfänglich geschlossenes Ringbündel, wobei das Ringbündel nachfolgend eine konstante Neigung zur optischen Achse aufweist. Ein dem Axikon 3 im Hinweg des Lichts nachfolgender Strahlteiler 4 lenkt das
Ringbündel in Richtung einer Linse 5 um.
[0034] Aufgrund der Tatsache, dass sich das Axikon 3 in etwa der Ebene der vorderen Schnitt- bzw.
Brennweite der nachfolgenden Linse 5 befindet, werden diejenigen Lichtstrahlen des Ringbündels, die zuvor annähernd durch die Spitze des Axikons gelaufen
sind und somit von einem Punkt der optischen Achse ihren Ausgang nehmen, durch die Linse 5 parallel
zu der optischen Achse ausgerichtet. Der laterale Abstand dieser Strahlen zur optischen Achse bzw. die
sogenannte Höhe h beträgt nach der Linse 5 dann
entsprechend h = f·sin α, wobei f die Brennweite der
Linse 5 und α der Neigungswinkel gegenüber der optischen Achse beim Axikon 3 ist. Durch die parallele Ausrichtung dieser Strahlen zur optischen Achse
gelangen diese Strahlen durch die der Linse 5 nachfolgenden Planoptiken, insbesondere den in einen
transparenten Zylinder 6 eingebetteten bzw. eingearbeiteten Umlenkkonus 6a nahezu senkrecht auf die
zu vermessende Innenwand 7a des Bohrlochs bzw.
Werkstücks 7 und werden daher in sich reflektiert,
wodurch diese Strahlen den gleichen Pfad für den
Hin- und den Rückweg zwischen Strahlteiler 4 und
Oberfläche 7a einnehmen. Auf dem Rückweg durchtreten diese Strahlen allerdings den Strahlteiler 4 und
gelangen zu dem Detektor 10.
[0035] Der ringförmige Fokusbereich entsteht nun
dadurch, dass nicht nur die Strahlen aus der Axikonspitze sondern alle Strahlen nach dem Axikon 3 den
gleichen Neigungswinkel zur optischen Achse aufweisen. Da das Axikon 3 sich in etwa im Brennpunkt
der Linse 5 befindet, stellt die Ebene des Axikons
eine Beleuchtungspupillenebene des Sensors 3 dar.
Gemäß der allgemeinen optischen Fourier-Beziehungen zwischen Feld- und Pupillenebenen, die selbst
bei einer einzelnen Linse 5 gegeben sind, sammeln
sich alle Strahlen, die in einer Beleuchtungspupillenebene einer Optik der Brennweite f mit dem gleichen
Neigungswinkel α starten, in der Beleuchtungsfeldebene in einem Punkt mit dem lateralen Abstand h =
f·sin α zur optische Achse. D. h. mit anderen Worten,
die Erzeugung eines zur optischen Achse rotationssymmetrischen Ringbündels mit konstanter Neigung
der Strahlen des Ringbündels zur optischen Achse
in der Beleuchtungspupillenebene des Sensors 30
durch das Axikon 3 führt aufgrund der optischen Fou-
rier-Beziehung von Feld- und Pupillenebenen automatisch zur Erzeugung eines ringförmigen Fokusbereichs in der Feldebene des Sensors 30. Dieser durch
die geneigten Strahlen erzeugte ringförmige Fokusbereich wird bei dem Sensor 30 der Fig. 1 durch einen verspiegelten Konus 6a am Ende eines transparenten Zylinderelements 6 auf die zu vermessende
Oberfläche 7a des Werkstücks 7 umgelenkt.
[0036] Ohne die Erzeugung geneigter Strahlen
durch das Axikon 3 würden sich alle ansonsten parallele Strahlen aufgrund h = f·sin 0° = 0 mm in einem
Fokuspunkt auf der optischen Achse sammeln. Hierdurch wäre es nicht möglich, die Strahlen mit dem
Umlenkkonus 6a auf dem Hinweg und auf dem Rückweg umzulenken. Die Strahlen würden in diesem Fall
auf dem Rückweg die optische Achse oberhalb des
Konus schneiden und somit den Konus für eine weitere Umlenkung in Richtung des Detektors 10 verfehlen.
[0037] In der EP 2 093 536 A1 ist im Zusammenhang
mit der dortigen Fig. 1 ein weiteres Ausführungsbeispiel eines Sensors 30 des Standes der Technik gezeigt. Bei diesem Ausführungsbeispiel werden hintereinander gestaffelte Blenden als weitere Möglichkeit
zur gezielten Auswahl geneigter bzw. schiefwinkliger
Strahlen offenbart. Diese Lösung hat jedoch größere
Lichtverluste aufgrund der Blenden zur Folge.
[0038] Die durch den ringförmigen Fokusbereich beleuchteten Oberflächenabschnitte der Oberfläche 7a
werden bei dem Sensor 30 der Fig. 1 durch zwei Linsen 5 und 9 auf einen zweidimensionalen Detektor,
zum Beispiel einen CCD- oder CMOS-Chip, abgebildet. D. h. mit anderen Worten, es werden mittels einer digitalen Kamera Aufnahmen der beleuchteten
Oberflächenabschnitte getätigt. Zur Ermittlung der
Koordinaten der beleuchteten Oberflächenabschnitte kann dann aus den getätigten Aufnahmen die Verbreiterung der aufgenommenen Fokuslinie entsprechend dem im Zusammenhang mit der Fig. 12 der
EP 2 093 536 A1 diskutierten Verfahrens ermittelt
werden. Hierzu wird auf die vollumfänglich in Bezug
genommene EP 2 093 536 A1 und die dortige Figurenbeschreibung zur Fig. 12 verwiesen. Allerdings ist
es auch möglich, den Abstand des Zylinders 6 und
damit des Umlenkkonus 6a gegenüber dem restlichen Sensor 30 zu variieren und damit verschiedene
Aufnahmen des beleuchteten Oberflächenabschnitts
bei verschiedenen Fokuslagen zu tätigen. Anschließend kann dann softwaretechnisch für den jeweiligen Teilabschnitt die beste Fokuslage und damit dessen Koordinate durch eine Kontrast- bzw. Schärfeauswertung der Bilder ermittelt werden. Diese Methode ist unter dem Begriff Fokusvariation bekannt. Alternativ kann auch konfokal mittels einer oder mehrere Blenden 8 die richtige Fokuslage bei der Fokusvariation ermittelt werden. Hierbei wird dann nicht
auf die Schärfe des Bildes sondern auf dessen In-
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tensität optimiert. Bei dieser alternativen konfokalen
Messtechnik könnte es allerdings notwendig sein, eine oder mehrere variable und entlang der optischen
Achse fahrbare Blenden 8 zu nutzen, um die optimale
Position und den optimalen Durchmesser der Blende 8 in Abhängigkeit von der gewählten Fokuslage
einzustellen. Solche Blenden sind aus der Digitalfotografie bekannt.
[0039] Zu beachten ist noch, dass bei dem Sensor
30 der Fig. 1 selbst bei einem Tausch des Axikons 3
gegen ein anderes Axikon, welches Lichtstrahlen mit
größerem Neigungswinkeln β erzeugt, dies zwar aufgrund β > α zu einem größeren Abstand h' = f·sinβ
> h = f·sinα der Strahlen zur optischen Achse nachfolgend der Linse 5 führen würde, sich allerdings die
Fokuslage des Sensors 30 hierdurch nicht ändern
würde, da diese nur von der Brennweite der Linse 5
und eventuell auch zusätzlich von dem Abstand des
Umlenkkonus 6a zum restlichen Sensor abhängt. D.
h. mit anderen Worten, alle von einer Pupillenebene
ausgehenden Strahlen sammeln sich in ein und derselben Feldebene, die mit großem Winkel in der Pupille sammeln sich bei einer großen Feldhöhe und die
mir kleinem Winkel in der Pupille sammeln sich bei
einer kleinen Feldhöhe. Es lässt sich jedoch nicht mit
einer Variation der Winkel in der Pupille die Lage der
Feldebene entlang der optischen Achse verschieben.
[0040] Die Fig. 2 zeigt eine erste Ausführungsform
eines alternativen konfokalen Sensors 31a bzw. Beleuchtungsmoduls 41a, der bzw. das zusätzlich gegenüber dem Sensor 30 des Standes der Technik
in Fig. 1 ein axial bewegliches Axikon 3 und ein gestrichelt dargestelltes diffraktives optisches Element
5f bzw. optisches Element mit einer Freiformoberfläche 5f aufweist. Das Beleuchtungsmodul 41a ist dabei der im unteren Teil der Fig. 2 dargestellte Teil des
Sensors 31a. Die gestrichelt eingezeichneten Linie
zwischen dem oberen Teil des Sensors 31a ab der
Linse 9 aufwärts und dem Beleuchtungsmodul 41a
ab der Blende 8 abwärts stellt dabei eine mögliche
und sinnvolle Trennebene zwischen diesen beiden
Teilen des Sensors 31a dar. In dieser Ebene kann
eine Wechselschnittstelle zum Einwechseln bzw. Ankoppeln verschiedener Beleuchtungsmodule an den
Sensor 31a vorgesehen sein. Diese wechselbaren
Beleuchtungsmodule können dabei auf verschiedenen eingangs erwähnten Messtechniken basieren,
entsprechend den Fig. 3 bis Fig. 5 ausgeführt oder
für verschiedene Messaufgaben angepasst sein. Die
Fig. 3 bis Fig. 5 weisen entsprechende Trennebenen
zum Einwechseln bzw. Ankoppeln verschiedener Beleuchtungsmodule an alternative Sensoren auf. Die
Fig. 6 zeigt hingegen ein alternatives Beleuchtungsmodul 41e, welches zum Einwechseln bzw. Ankoppeln an den Sensor 31e mit einer alternativen Trennebene vorgesehen ist.
[0041] Zunächst wird nachfolgend ohne Berücksichtigung des gestrichelt dargestellten Elements 5f im
Rahmen der Fig. 2 erläutert, was passiert, wenn das
Axikon 3 bei einem Sensor 30 des Standes der Technik von seiner in der Fig. 1 dargestellten Position
um den in der Fig. 2 dargestellten Verschiebevektor
a axial in Richtung der Lichtquelle 1 versetzt wird.
Durch diese Verschiebung des Axikons 3 ändert sich
die Neigung der Strahlen nicht. D. h. die Strahlen starten an der ehemaligen Position des Axikons 3 und
damit in der Pupille nach wie vor mit der gleichen Neigung zur optischen Achse. Allerdings ist das Ringbündel bei dem um den Vektor a verschobenen Axikon 3 jetzt in der Pupille lateral aufgeweitet, d. h., die
Orte der Strahlen des Ringbündels in der Pupille befinden sich weiter von der optischen Achse entfernt
als in Fig. 1. Dies ist in der Fig. 2 dadurch graphisch
dargestellt, dass die Strahlen der Axikonspitze, welche in der Fig. 1 noch den äußeren Rand des Ringbündels auf der nachfolgenden Linse 5 gebildet haben, in der Fig. 2 nun den inneren Rand des Ringbündels auf der nachfolgenden Linse 5 darstellen. Somit
durchläuft das Ringbündel in der Fig. 2 einen weiter
außen liegenden Bereich der Linse 5 als in der Fig. 1.
[0042] Grundsätzlich treffen sich Strahlen gleicher
Neigung in der Pupille bei idealen Linsen gemäß der
Fourier-Beziehung am gleichen Feldpunkt. Eine reelle Linse hingegen weicht von diesem Ideal jedoch
aufgrund ihrer Bildfehler leicht ab, insbesondere der
Bildfehler der sphärischen Aberration ist dafür verantwortlich, dass Lichtstrahlen, welche eine Linse weiter außen treffen sich in einem Brennpunkt mit einem geringeren Abstand zur Linse sammeln. Diese
Brennpunkt-Abweichung der reellen Linse 5 von einer idealen Linse aufgrund der sphärischen Aberration ist in der Fig. 2 als eine Verschiebung der Fokuslage durch den Vektor b repräsentiert. Mit Hilfe dieser
veränderten Fokuslage wäre es dann möglich, ein anderes Bohrloch 7 mit einem geringeren Durchmesser
zu vermessen. Ein solches Bohrloch ist in der Fig. 2
gestrichelt dargestellt. Entsprechend der zum Sensor
30 hin verkürzten Fokuslage reduziert sich auch der
Durchmesser des Bohrlochs auf dem Detektor 10 um
den Vektor c. Der Vektor c ist dabei in den Figuren
übertrieben groß und daher nicht maßstabsgerecht
dargestellt.
[0043] Allerdings ist die Linse 5 bei dem optischen
Sensor 30 und bei dem optischen Sensor 31a auch
für die Abbildung auf den Detektor 10 vorgesehen
und damit dahingehend optisch ausgewählt, dass sie
keine große sphärische Aberration aufweist, welche
die Abbildung und die Datenerfassung auf dem Detektor 10 erschweren würde. Somit ist der in der Fig. 2
stark überzogen dargestellte Fokuseffekt der Linse
5 bei dem Sensor 30 des Standes der Technik zum
Beispiel nicht ausreichend, um die für die Vermessung eines Innengewindes notwendige Variation von
mehreren Millimeter in der Fokuslage ausschließlich
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durch eine Veränderung der Position des Axikons 3
bereitzustellen.
[0044] Allerdings ist es möglich, diese Variation der
Fokuslage durch ein optisches Element 5f bereitzustellen, welches anstatt oder zusätzlich zur Linse 5
eine Variation der Fokuslage ermöglicht. Ein solches
Element 5f kann nun ein diffraktives optisches Element (DOE) und/oder ein optisches Element mit einer Freiformoptik sein. Beide genannten optischen
Elemente oder auch ein Element, welches beide genannten Eigenschaften vereint, sind bzw. ist in der
Lage, abhängig von jeweiligen Auftreffort der Strahlen auf dem Element eine entsprechende Fokuslage
bereitzustellen. Bei dem optischen Element mit Freiformoptik wäre es zum Beispiel denkbar, eine rotationssymmetrische asphärische Oberflächenform analog der für Spiegelteleskope bekannten Schmidtplatte zu wählen. Eine solche Schmidtplatte lässt sich
kostengünstig herstellen. Auch Hologramme, insbesondere sogenannte Computer generierte Hologramme (CGH) werden im Rahmen dieser Anmeldung unter den Begriff diffraktive optische Elemente subsummiert.
[0045] Der Sensor 31a bzw. das Beleuchtungsmodul 41a der Fig. 2 zeichnet sich somit dadurch aus,
dass ein diffraktives optisches Element 5f und/oder
ein optisches Element mit einer Freiformoberfläche
5f zumindest auf dem Hinweg des Lichts zur Oberfläche 7a des Werkstücks 7 zwischen der mindestens
einen Lichtquelle 1 und der Oberfläche 7a des Werkstücks 7 angeordnet ist, wobei zwischen der mindestens einen Lichtquelle 1 und dem diffrativen optischen
Element 5f und/oder dem optischen Element mit der
Freiformoberfläche 5f ein bewegliches und/oder veränderbares optisches Element 3 angeordnet ist und
wobei mit Hilfe des beweglichen und/oder veränderbaren optischen Elements 3 der Auftreffort des Lichts
auf dem diffraktiven optischen Element 5f und/oder
dem optischen Element mit der Freiformoberfläche 5f
zumindest auf dem Hinweg von der mindestens einen
Lichtquelle 1 zu der Oberfläche 7a des zu vermessenden Werkstücks 7 verändert werden kann.
[0046] Die Fokusvariation beträgt dabei bei dem
Sensor 31a bzw. dem Beleuchtungsmodul 41a zwischen 0,5 und 200 mm, um sowohl Innengewinde als
auch Zylinderbohrungen innerhalb von Motorblöcken
vermessen zu können. Entsprechende diffraktive optische Elemente 5f und/oder optische Elemente mit
einer Freiformoptik 5f, die eine Brennweitenvariation
von 200 mm aufweisen, sind ohne großen technologischen Aufwand für den sichtbaren, ultravioletten oder
infraroten Wellenlängenbereich herstellbar. Zum Beispiel sind Spritzgussformen zur Herstellung asphärischer Kunststofflinsen für Digitalkameras seit vielen
Jahren bekannt.
[0047] Als optisches Element mit einer Freiformoptik 5f werden auch toroidale optische Element wie
zum Beispiel eine Ringlinse oder eine Anordnung
mehrerer ineinander geschachtelter separater Ringlinsen verstanden. Dementsprechend kann ein optisches Element mit Freiformoptik 5f auch aus nebeneinander angeordneten einzelnen optischen Elementen bestehen, deren optisch wirksamen Flächen Teilabschnitte einer Freiformoberfläche darstellen.
[0048] Alternativ zu einem in der Fig. 2 dargestellten Axikon 3 kann auch ein sogenanntes refraktives
optisches Element eingesetzt werden, dessen Oberflächenparzellen entsprechend einer Fresnellinse lokal die Neigung der Axikonflächen nachbilden. Ferner
kann die Funktionalität eines Axikons 3 auch durch
ein diffraktives optisches Element nachgebildet werden. Beide genannten Alternativen sind jedoch mit erhöhten Herstellkosten verbunden.
[0049] Die Auswertung der am Detektor 10 des erfindungsgemäßen Sensors 31a aufgenommenen Intensitätssignale kann entsprechend der oben im Zusammenhang mit dem Sensor 30 der Fig. 1 bereits
besprochenen Methoden erfolgen. Hierbei kann insbesondere für konfokale Methoden eine Ringblende
8 statt der in der Fig. 2 dargestellten Blende 8 eingesetzt werden.
[0050] Die Fig. 3 zeigt ein zweites alternatives Ausführungsbeispiel eines Sensors 31b bzw. eines Beleuchtungsmoduls 41b im Vergleich zu Fig. 1 bzw.
Fig. 2 bei dem das axial bewegliche Axikon 3 gegen
eine veränderbare Mehrfachspiegelanordnung (Multi-Mirror-Array, MMA) getauscht wurde. Diese Mehrfachspiegelanordnung MMA kann durch andere Winkelstellungen der einzelnen Mikro-Kippspiegel den
Auftreffort auf dem optischen Element 5f und somit
dessen Fokuslage variieren. Da Mehrfachspiegelanordnungen für Projektoren in ihrer Funktionsweise
hinlänglich bekannt sind, wird auf eine eingehende
Diskussion im Rahmen dieser Anmeldung verzichtet. Mehrfachspiegelanordnungen MMAs können als
separate Einheiten kostengünstig von verschiedenen
Herstellern inklusiver entsprechender Ansteuersoftware bezogen werden. Dabei könne diese für Projektoren vorgesehenen MMAs direkt auch für den Sensor 31b bzw. das Beleuchtungsmodul 41b eingesetzt
werden, da die optischen Anforderungen an Baugröße, Kippwinkel, Größe der Mikrospiegel und Wellenlängen sich bei dem Sensor 31b bzw. dem Beleuchtungsmodul 41b nicht von denjenigen Anforderung
eines Projektors zur Projektion eines Computerbildschirms auf eine Leinwand unterscheiden.
[0051] Die Fig. 4 zeigt ein drittes alternatives Ausführungsbeispiel für einen Sensor 31c bzw. Beleuchtungsmodul 41c bei dem gegenüber der Fig. 3 die
Funktion des optischen Elements 5f in die Oberflächenform des Umlenkelements 6f integriert wurde.
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Dieses Umlenkelement 6f hat eine Freiformoberfläche, deren Fokuslagen davon abhängig sind an welchen Auftrefforten beim Umlenkelement 6f die Strahlen umgelenkt werden.
[0052] Insbesondere ein Umlenkelement 6f, bei dem
die rotationssymmetrische und asphärische Freiformoberfläche mit einer die Symmetrieachse der Freiformoberfläche enthaltenen Ebene eine Schnittkurve
aufweist und diese Schnittkurve zumindest Teilweise
einem Kurvenabschnitt einer Spirale entspricht und
die Spirale gegeben ist aus der Gruppe: Corny-, Euler- oder Klothoiden-Spirale, bietet die Möglichkeit,
von kontinuierlich mit dem Auftreffort sich verändernden Fokuslagen. Spiralkurven weisen in der Regel
sich kontinuierlich mit der Bogenlänge verändernde
Krümmungen und damit kontinuierlich mit dem Auftreffort veränderliche Fokuslagen auf. Repräsentativ
für diese vielen unterschiedlichen Fokuslagen sind in
der Fig. 4 nur zwei unterschiedliche Fokuslagen mit
den Vektoren b und B sowie die daraus resultierenden Ortsverschiebungen auf dem Detektor 10 mit den
Vektoren c und C dargestellt.
[0053] Allerdings kann die Freiformoberfläche statt
an der Unterseite des transparenten Zylinders 6 in
Form einer verspiegelten Oberfläche 6f als Umlenkelement auch an der Oberseite und/oder der Mantelfläche der Zylinders 6 ausgebildet sein. Alternativ kann die Fokusvariation auch durch ein an der
Oberseite und/oder der Mantelfläche des Zylinders
6 ausgebildetes diffraktives optische Element realisiert werden. Ferner können entsprechend verschieden ausgebildete Zylinder 6 durch eine in den Figuren nicht dargestellte Wechselschnittstelle zwischen
den Elementen 4 und 5 oder den Elemente 5 und 6
gegeneinander ausgewechselt werden. Darüber hinaus können mechanische Schutzhülsen für die Zylinder 6 vorgesehen werden. Bei der Verwendung
von optisch transparentem Material für diese mechanischen Schutzhülsen können unterschiedliche
Wandstärken und/oder unterschiedliche Brechungsindizes dieser Schutzhülsen zur weiteren Anpassung an unterschiedliche Bohrlochdurchmesser genutzt werden. Insofern sind entsprechend austauschbare Schutzhülsen zur weiteren adaptiven Anpassung denkbar.
[0054] Für eine Vermessung von rotationsymmetrischen Bohrlöchern oder Innengewinden weist bei
den optischen Sensoren der Fig. 2 bis Fig. 6 das
diffraktive optische Element 5f eine rotationssymmetrische Beugungscharakteristik auf und/oder besitzt
das optische Element mit einer Freiformoberfläche
5f; 6f eine rotationssymmetrische Freiformoberfläche, so dass bei einer Einstellung des beweglichen
und/oder veränderbaren optischen Elements MMA;
3 dahingehend, dass die Auftrefforte des Lichts einen konstanten Abstand zur Symmetrieachse des diffraktiven optischen Elements 5f und/oder des opti-
schen Elements mit Freiformoberfläche 5f; 6f aufweisen, der hieraus resultierende, zumindest teilweise
bogenförmige, insbesondere ringförmig geschlossene Fokusbereich des Sensors zur Vermessung von
Innenwänden 7a von Bohrungen oder Innengewinden des Werkstücks 7 einen konstanten radialen Abstand zum optischen Sensor aufweist.
[0055] Vorteilhaft ist das optische Element mit Freiformoberfläche 6f in Form eines Zylinders 6 bei den
optischen Sensoren bzw. Beleuchtungsmodulen der
Fig. 4 bis Fig. 6 als Umlenkelement ausgebildet, dessen Unterseite mit einer Spiegelbeschichtung versehen ist und durch die Freiformoberfläche 6f gebildet
wird. Die verspiegelte Freiformoberfläche 6f wird somit durch den sie umgebenden Zylinder 6 vor Kratzern und anderen Beschädigung bei Kollisionen mit
dem Werkstück 7 ausreichend geschützt.
[0056] Die Fig. 5 zeigt eine weitere alternative Ausführungsform eines Sensors 31d bzw. Beleuchtungsmoduls 41d basierend auf der Weißlichtinterferometrie, ebenfalls bekannt als optisches Kohärenzradar
oder OCT. Der Grundaufbau des in Fig. 5 gezeigten
Sensors 31d entspricht dem in Fig. 4 gezeigten Sensor 31c. Eine Mehrfachspiegelanordnung MMA sorgt
im Zusammenspiel mit einem Umlenkelement 6f mit
Freiformoberfläche für eine Fokusvariation innerhalb
des Bohrlochs 7. Allerding sorgt der Strahlteiler 4a bei
dem Ausführungsbeispiel des Sensors 31d der Fig. 5
dafür, dass nur anteilig Licht von der Lichtquelle 1
kommend in den Detektionsstrahlengang in Richtung
des Element 6f umgelenkt wird. Der restliche Teil des
Lichts passiert den Strahlteiler 4a und gelangt somit
in den Referenzstrahlengang in Richtung eines Referenzspiegels R. Hierbei ist anzumerken, dass aufgrund der Darstellung der Fig. 5 im DIN A4 Format
der Referenzstrahlengang verkürzt gegenüber dem
Detektionsstrahlengang dargestellt ist.
[0057] Mit dem in Fig. 5 dargestellten Grundaufbau
eines Michelson-Interferometers können im Zusammenhang mit einer Weißlichtquelle 1, zum Beispiel
einer Superlumineszenz-Diode und eines, durch zum
Beispiel Piezo-Aktuatoren in Lichtrichtung verstellbaren Referenzspiegels R die Intensitätssignale am Detektor 10 in Abhängigkeit von der Referenzspiegelposition ausgewertet werden. Dabei resultieren die
Intensitätssignale des Detektors 10 aus einer Überlagerung des aus dem Referenzstrahlengang und
dem Detektionsstrahlengang kommenden reflektierten Lichts durch den Strahlteiler 4a mittels der Linse 9. Stimmen die Lichtwege im Referenzstrahlengang und im Detektionsstrahlengang überein, so ergibt sich eine konstruktive Interferenz des Lichts und
damit ein Intensitätssignal am Detektor. Mit zunehmendem Weglängenunterschied Δz zwischen dem
Detektionsstrahlengang und dem Referenzstrahlengang nimmt dieses Intensitätssignal am Detektor jedoch ab. Mit dem in der Fig. 5 dargestellten optischen
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Sensor 31d kann folglich das zusammengesetzte Signal am Detektor 10 als Interferenzsignal im Zeitbereich (englisch time domain, TD) in Abhängigkeit mit
dem zeitlich variierenden Abstand des Referenzspiegels R zum Strahlteiler 4a analysiert werden. Der Referenzspiegel R wird hierzu zum Beispiel durch Piezo-Aktuatoren zu Schwingungen um seine Nullposition angeregt und das entsprechende Interferenzsignal wird in Abhängigkeit der Position des Spiegels
ermitteln. Die Nullposition des Referenzspiegels R
kann dabei durch die Piezo-Aktuatoren oder weitere zusätzliche Aktuatoren auf die jeweils eingestellte
Fokuslage abgestimmt werden. Ferner ist es denkbar
alternativ einen rotationsymmetrisch gestuften Referenzspiegel zu verwenden, wobei jede Stufe einer anderen Fokuslage entspricht.
[0058] Alternativ zu dem in Fig. 5 dargestellten
Grundaufbau kann bei feststehendem Referenzspiegel R der optische Sensor 31d zwischen dem Strahlteiler 4a und dem Detektor 10 auch Mittel zur spektralen Trennung des zusammengesetzten Signals aufweisen, so dass am Detektor 10 das zusammengesetzte Signal als ein in mehrere spektrale Kanäle zerlegtes Interferenzsignal (englisch frequency domain, FD) analysiert werden kann. Hierzu kann der
Detektor 10 in mehrere Bereiche unterteilt sein, die
für unterschiedliche Wellenlängen die unterschiedlichen Interferenzsignal aufnehmen oder es können
mehrere Detektoren 10 nebeneinander oder auch
räumlich zueinander versetzt zum Einsatz kommen.
Durch die Analyse verschiedener Interferenzsignale bei verschiedenen Wellenlängen kann ermittelt
werden, welche Wellenlänge bei dem feststehenden
Referenzspiegel R zu einer entsprechenden Interferenz geführt hat. In der Regel wird hierzu eine Fourier-Transformation des Frequenzspektrums durchgeführt, um daraus die entsprechende Rauminformation zu erhalten. Hieraus lässt sich dann auf die Länge des Detektionsstrahlengangs und damit auf den
Abstand der zu vermessenden Oberfläche schließen.
[0059] Zu den weiterführenden Details der Messmethoden TD-OCT und FD-OCT wird auf Fachliteratur
und insbesondere im Zusammenhang mit der Koordinatenmesstechnik auf die Offenlegungsschriften
DE 10 2004 012 426 und US 2010/0312524 sowie
die dort zitierten Referenzen verwiesen.
[0060] Die Fig. 6 zeigt ein weiteres alternatives Beleuchtungsmodul 41e für einen Sensor 31e. Das Beleuchtungsmodul 41e der Fig. 6 ist im Unterschied
zu den wechselbaren Beleuchtungsmodule der Fig. 2
bis Fig. 5 und Fig. 7 nachrüstbar gestaltet, so dass
dieses an bereits bestehende optische Systeme angeschlossen werden kann. Das in Fig. 6 dargestellte Beleuchtungsmodul 41e unterscheidet sich gegenüber den in den Fig. 2 bis Fig. 5 dargestellten Beleuchtungsmodulen darin, dass es nicht die Linse
5 enthält und somit der restliche Teil des Sensors
31e mit der Linse 5 auch ohne das Beleuchtungsmodul ein vollständiges optisches System zur optischen Vermessung von Werkstücken bildet. Damit
ist das in Fig. 6 dargestellte Beleuchtungsmodul 41e
an bereits vorhandene optische Systeme ankoppelbar, um diese Systeme mit einer Funktionalität zur
Vermessung von Bohrlöchern oder Innengewinden
auszustatten bzw. nachzurüsten. Entsprechende optische Systeme sind zum Beispiel in den Veröffentlichungen WO 2014/023332 und WO 2014/023780 offenbart. Zur Ankopplung weist das Beleuchtungsmodul 41e eine nicht näher dargestellte Wechselschnittstelle auf, mit der es an bestehende optische Systeme manuell oder automatisiert angekoppelt werden kann. Diese Wechselschnittstelle kann entsprechend der Wechselschnittstelle der Beleuchtungsmodule bzw. Sensoren der Fig. 2 bis Fig. 5 und Fig. 7
ausgeführt sein. Entsprechende Wechselschnittstellen sind zum Beispiel aus der Offenlegungsschrift
WO 2013/167167 bekannt. Es versteht sich, dass das
in Fig. 6 dargestellte Beleuchtungsmodul 41e nicht
auf die dargestellte Bauform beschränkt ist, sondern
jede im Zusammenhang mit den Fig. 2 bis Fig. 5
diskutierte Bauform eines Beleuchtungsmoduls und
insbesondere auch eine erfindungsgemäße polarisationsoptische Einheit entsprechend dem Beleuchtungsmodul 41f bzw. Sensors 31f der Fig. 7 aufweisen kann.
[0061] Die Fig. 2 bis Fig. 7 offenbaren folglich Beleuchtungsmodule 41a bis 41f für einen optischen
Sensor 31a bis 31f zur Erfassung von Oberflächenkoordinaten eines Werkstücks 7 mittels eines Koordinatenmessgeräts umfassend mindestens eine Lichtquelle 1 sowie optische Elemente 2, MMA; 3, 4; 4a;
5; 6, 6a; 6f zur Führung des Lichts einerseits auf
dem Hinweg von der mindestens einen Lichtquelle 1
auf die Oberfläche 7a des zu vermessenden Werkstücks 7 und andererseits auf dem Rückweg von der
Oberfläche 7a des zu vermessenden Werkstücks 7
zu mindestens einem Detektor 10 des optischen Sensors 31a bis 31f, wobei einige der genannten optischen Elemente 4; 4a; 5; 6, 6a; 6f sowohl für die
Strahlführung auf dem Hinweg als auch für die Strahlführung auf dem Rückweg genutzt werden und wobei
mindestens eines dieser genannten optischen Elemente 6a; 6f ein Umlenkelement 6a; 6f ist, das auf
dem Hinweg für eine Umlenkung des Lichts auf die
Oberfläche 7a des zu vermessenden Werkstücks 7
und auf dem Rückweg für eine Umlenkung des Lichts
zu dem mindestens einen Detektor 10 sorgt, wobei
auf dem Hinweg durch das Umlenkelement 6a; 6f der
Fokusbereich des Sensors 31a bis 31f zumindest teilweise bogenförmig ausgebildet wird und wobei ein
diffraktives optisches Element 5f und/oder ein optisches Element mit einer Freiformoberfläche 5f; 6f zumindest auf dem Hinweg des Lichts zur Oberfläche
7a des Werkstücks 7 zwischen der mindestens einen Lichtquelle 1 und der Oberfläche 7a des Werkstücks 7 angeordnet ist, wobei zwischen der min-
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destens einen Lichtquelle 1 und dem diffrativen optischen Element 5f und/oder dem optischen Element
mit der Freiformoberfläche 5f; 6f eine bewegliches
und/oder veränderbares optisches Element MMA; 3
angeordnet ist und wobei mit Hilfe des beweglichen
und/oder veränderbaren optischen Elements MMA;
3 der Auftreffort des Lichts auf dem diffraktiven optischen Element 5f und/oder dem optischen Element
mit der Freiformoberfläche 5f; 6f zumindest auf dem
Hinweg von der mindestens einen Lichtquelle 1 zu
der Oberfläche 7a des zu vermessenden Werkstücks
7 verändert werden kann.
[0062] Es versteht sich, dass bei allen Sensoren 31a
bis 31f bzw. Beleuchtungsmodulen 41a bis 41f ein
Axikon 3 statt einer Mehrfachspiegelanordnung MMA
zur Variation der Lichtstrahlauftrefforte und umgekehrt eine Mehrfachspiegelanordnung MMA statt einem Axikon 3 eingesetzt werden kann. Ferner versteht es sich, dass bei allen Sensoren 31a bis 31f
bzw. Beleuchtungsmodulen 41a bis 41f ein diffraktives optisches Element 5f und/oder ein optisches Element mit Freiformoberfläche 5f statt einem optischen
Umlenkelement mit Freiformoberfläche 6f zur Fokusvariation und umgekehrt eingesetzt werden kann.
[0063] Darüber hinaus versteht es sich, dass bei
den Sensoren 31a; 31b; 31c; 31e und 31f bzw.
Beleuchtungsmodulen 41a; 41b; 41c; 41e und 41f
alternativ zu der bei dem Ausführungsbeispiel der
Fig. 5 beschriebenen Superlumineszenz-Diode auch
Laser, LED (UV, VIS, IR), Glüh-, Halogen- oder (Kurz)Bogenlampen als Lichtquelle 1 eingesetzt werden
können. Durch die Verwendung einer breitbandigen
Lichtquelle lässt sich auch ein gezielter chromatische
Längsfehler der verwendeten Optik bei den Sensoren
31a; 31b; 31c; 31e und 31f bzw. Beleuchtungsmodulen 41a; 41b; 41c; 41e und 41f dahingehend für eine konfokale Messtechnik verwenden, dass Aufnahmen von Bildern mit Farbauszügen oder auch durch
pixelweise Farbmessung mit entsprechenden Sensoren ausgeführt werden.
[0064] Mit Hilfe der in den Fig. 2 bis Fig. 7 dargestellten Sensoren und Beleuchtungsmodulen lassen sich
Bohrlöcher und insbesondere Innengewinde eines
Werkstücks 7 mittels eines Koordinatenmessgeräts
vermessen, indem in einem ersten Schritt der Sensor
bzw. das Beleuchtungsmodul durch das Koordinatenmessgerät an eine gewünschte Position innerhalb
des Bohrlochs bzw. Innengewindes des Werkstücks
7 verfahren wird und indem in einem zweiten Schritt
mit Hilfe eines beweglichen und/oder veränderbaren
optischen Elements MMA; 3 des Sensors bzw. des
Beleuchtungsmoduls der Auftreffort des Lichts der
mindestens einen Lichtquelle 1 auf einem diffraktiven optischen Element 5f und/oder einem optischen
Element mit der Freiformoberfläche 5f; 6f des Sensors bzw. des Beleuchtungsmoduls zumindest auf
dem Hinweg von der mindestens einen Lichtquelle 1
zu der Oberfläche 7a des zu vermessenden Werkstücks 7 derart verändert wird, dass die zur Vermessung vorgesehenen Teilbereiche der Oberfläche 7a
des Werkstücks in den Fokusbereich des Sensors
bzw. Beleuchtungsmoduls gelangen.
[0065] Dabei werden in einem dritten Schritt Intensitätssignale aus dem Fokusbereich des Sensors bzw.
des Beleuchtungsmoduls von einem flächenmäßig
zur Erfassung von Intensitätssignalen ausgebildetem
Detektor 10 in Abhängigkeit der Stellung des beweglichen und/oder veränderbaren optischen Elements
MMA; 3 des Sensors bzw. des Beleuchtungsmoduls
und/oder in Abhängigkeit der Stellung eines in seiner Normalenrichtung beweglichen Referenzspiegels
R des Sensors bzw. Beleuchtungsmoduls und/oder
in Abhängigkeit der Frequenz bzw. Wellenlänge des
von dem Detektor 10 erfassten Lichts ermittelt.
[0066] Hierbei kann der zweite Schritt für einen in
seinem lateralen Abstand zum Sensor bzw. Beleuchtungsmodul veränderten Fokusbereich bei der Beibehaltung der im ersten Schritt angefahrenen Position oder der erste Schritt für eine andere gewünschte
Position innerhalb des Innengewindes bei der Beibehaltung der im zweiten Schritt eingestellten Stellung
des beweglichen und/oder veränderbaren optischen
Elements MMA; 3 des Sensors bzw. Beleuchtungsmoduls solange wiederholt durchgeführt werden, bis
in dem sich jedes Mal anschließenden dritten Schritt
die vollständige Information über die Oberflächendaten des zu vermessenden Abschnitts des Innengewindes vorliegt. Diese Oberflächendaten können
dann anschließend durch bekannte Segmentierungstechniken von 3D Punktewolken zur Bestimmung der
Geometrie des Messobjektes in die entsprechenden
Geometrieelemente wie zum Beispiel Kreis, Ellipse,
Zylinder, Ellipsoid usw. zerlegt werden.
[0067] Insbesondere für Innengewinde, bei denen
zum Beispiel bei Metrischen ISO-Gewinden die Differenz von Kern- und Außendurchmesser (Nenndurchmesser) zwischen 0,3 mm (bei M1) und 7 mm
(bei M64) beträgt, ist es notwendig, sowohl einen
Scan entlang der Achse des Innengewindes, als auch
einen Fokusscan über verschiedene Durchmesser
bzw. Fokuslagen mit dem Sensor bzw. dem Beleuchtungsmodul durchzuführen, um die vollständige
Oberflächeninformation des Innengewindes hinsichtlich des Gewindegangs, der Gewindeflanken und
der Gewindetiefen zu erhalten. Aufgrund der großen
Differenz von Kern- und Außendurchmesser (Nenndurchmesser) bei Innengewinden ist es in der Regel
nicht möglich, mit nur einer Fokuslage für eine Vermessung zu arbeiten. Es versteht sich, dass der Scan
entlang der Achse durch die Positionsänderung des
Sensors bzw. des Beleuchtungsmoduls mittels des
Koordinatenmessgeräts und der Fokusscan des Sensors bzw. Beleuchtungsmoduls unabhängig voneinander und in einer beliebigen Kombination miteinan-
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der durchgeführt werden können, um eine vollständige Information über die Oberflächenkoordinaten des
Innengewindes zu erhalten.
[0068] Es versteht sich ferner, dass das Verfahren
bzw. die Sensoren anhand von Gewindenormalen
kalibriert bzw. referenziert und/oder auf ein Normal
zurückgeführt werden können. Dazu werden Werkstücke mit mehreren genau bekannten Innengewinden auf dem Messtisch eines Koordinatenmessgeräts platziert und es wird das Verfahren mittels der
Sensoren durchgeführt und die erfassten Maße des
Innengewindes werden anhand der bekannten Maße
der Innengewinde kalibriert.
[0069] Die Fig. 7 zeigt eine erste Ausführungsform
eines erfindungsgemäßen Sensor 31f bzw. eines
erfindungsgemäßen Beleuchtungsmoduls 41f, der
bzw. das zusätzlich zu dem in Fig. 2 dargestellten
Sensor 31a (Beleuchtungsmodul 41a) zwischen der
Kollimationslinse 2 und dem Axikon 3 eine polarisationsoptische Einheit 12 aufweist. Diese polarisationsoptische Einheit 12 des Beleuchtungsmoduls 41f
bzw. Sensors 31f zwischen der Lichtquelle 1 und
dem Umlenkelement 6a sorgt für eine Polarisation
des Lichts auf dem Hinweg zwischen der polarisationsoptischen Einheit 12 und dem Umlenkelement
6a. Dazu sind die polarisationsoptische Einheit 12
und/oder einzelne optische Elemente der polarisationsoptischen Einheit 12 in dem Lichtstrahlengang
des Beleuchtungsmoduls 41f bzw. Sensors 31f einführbar gelagert bzw. gehaltert, so dass wahlweise
das Beleuchtungsmodul zwischen einem polarisierten und einem unpolarisierten Betriebsmodus durch
das Ein- bzw. Ausführen der polarisationsoptischen
Einheit 12 und/oder eines ihrer optische Elemente in
bzw. aus dem Lichtstrahlengang umgeschaltet werden kann. Ferner sind für die Einstellung des Polarisationszustandes die polarisationsoptische Einheit
12 und/oder einzelne optische Elemente der polarisationsoptischen Einheit 12 in dem Lichtstrahlengang
des Beleuchtungsmoduls 41f bzw. Sensors 31f drehbar gelagert bzw. gehaltert, so dass der polarisierte Zustand des Lichts auf dem Hinweg zum Umlenkelement 6a durch das Drehen der polarisationsoptischen Einheit 12 und/oder eines ihrer optische Elemente verändert werden kann.
[0070] Somit ist es einerseits möglich, das Licht
auf dem Hinweg zwischen der polarisationsoptischen
Einheit 12 und dem Umlenkelement 6a azimutal zu
polarisieren, so dass das Licht nach der Umlenkung
durch das Umlenkelement 6a bei der Vermessung einer Oberfläche 7a eines Bohrlochs auf diese Oberfläche 7a linear polarisiert mit einer Ausrichtung 14
senkrecht zur Bohrlochachse auftrifft. Die azimutale
Polarisation ist dabei in der Fig. 7 in der linken Draufsicht auf die polarisationsoptische Einheit 12 dargestellt, die resultierende lineare Polarisation im Fokusbereich 14 ist dabei ebenfalls in der linken Drauf-
sicht des Fokusbereich 14 in der Fig. 7 wiedergegeben. Dabei ist zu beachten, dass der Fokusbereich
14 sich als Bereich oder Linie quasi Zylinder- bzw.
Bandförmig entlang der Innenwand 7a des Bohrlochs
erstreckt. Insofern ist der Fokusbereich 14 in der
Draufsicht bandförmig dargestellt, wobei der untere
schraffierte Teil des Bandes die zur Innenwand 7a
hinlaufenden Strahlen und deren lineare Polarisation wiedergibt und wobei der obere nicht schraffierte
Teil des Bandes die nach der Reflektion an der Innenwand zurück laufenden Strahlen und deren lineare Polarisation wiedergibt. Bei einer unsachgemäßer
Bearbeitung der Oberfläche der Innenwand, insbesondere bei einer unzulässigen Rauheit der Oberfläche kommt es zur Streuung und/oder zur Drehung
der Polarisationsrichtung von Licht bei der Reflektion
an der Innenwand. Diese zum Teil geringen Streuverluste bzw. geringen Drehungen der Polarisationsrichtung lassen sich nun entweder durch den Einsatz
eines Polarisationsfilters am Detektor 10, den Vergleich mit einer unpolarisiert vorgenommenen Messung und/oder den Vergleich mit einer bei radialer
Polarisation durchgeführten Messung unter Einbeziehung von Referenzmessungen an besonders glatten
bzw. genormt polierten Oberflächen ermitteln. Hierdurch sind Rückschlüsse auf die Bearbeitungsqualität des Bohrloches mit einem Bearbeitungswerkzeug
oder den Bearbeitungsprozess möglich.
[0071] Neben einer Einstellung von azimutaler Polarisation für die Vermessung eines Bohrlochs mit dem
erfindungsgemäßen Beleuchtungsmoduls 41f bzw.
Sensors 31f ist es auch möglich, das Licht auf dem
Hinweg zwischen der polarisationsoptischen Einheit
12 und dem Umlenkelement 6a radial zu polarisieren, so dass das Licht nach der Umlenkung durch das
Umlenkelement 6a bei der Vermessung einer Oberfläche 7a eines Bohrlochs auf diese Oberfläche 7a linear polarisiert mit einer Ausrichtung 14 parallel zur
Bohrlochachse auftrifft. Entsprechend zu der Darstellung im letzten Absatz stellt die rechte Draufsicht auf
die polarisationsoptische Einheit 12 in der Fig. 7 die
radiale Polarisation und die rechte Draufsicht auf den
Fokusbereich 14 die resultierende lineare Polarisation im Fokusbereich 14 dar.
[0072] Zur Einstellung der genannten Polarisationszustände umfasst die polarisationsoptische Einheit
12 des Beleuchtungsmoduls 41f bzw. Sensors 31f
der Fig. 7 mindestens ein optisches Element aus
doppelbrechendem und/oder optisch aktivem Material. Insbesondere ein optisches Elements aus doppelbrechendem und/oder optisch aktivem Material in
Form einer Scheibe, deren eine Seite plan ist und deren andere Seite zweifach gestuft ist mit zwei gleich
hohen Stufen der Höhe H, wobei die Oberfläche zwischen den beiden Stufen in Form einer einhüllenden Fläche einer doppelläufigen Wendeltreppe gegeben ist, so dass die Höhe der Scheibe entlang ihres
Umfangs angefangen bei einer Mindesthöhe ho der
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Scheibe linear mit dem Umfang bis zur Höhe H + ho
bei der Hälfte des Umfangs bzw. der ersten Stufe ansteigt, danach senkrecht auf ho abfällt und wiederum
linear mit dem Umfang bis zur Höhe H + ho bei der
zweiten Hälfte des Umfangs bzw. der zweiten Stufe ansteigt, wobei die Höhe H der beiden Stufen bei
doppelbrechendem Material gegeben ist durch das
Doppelte der Wellenlänge λ des Lichts dividiert durch
den Brechungsindexunterschied n = (ne – no) von
außerordentlichem Brechungsindex ne und ordentlichem Brechungsindex no des doppelbrechenden Materials, ermöglicht es, linear polarisiertes Licht in azimutal polarisiertes Licht zu verwandeln. Für ein entsprechendes optisches Element aus doppelbrechendem Material in Form einer doppelläufigen Wendeltreppe wird in diesem Zusammenhang auf das Patent
US 3,892,470 verwiesen. Für ein entsprechendes optisches Element aus optisch aktivem Material wird auf
die Offenlegungsschrift WO 2005/069081 verweisen.
Es gibt jedoch auch Materialien die sowohl doppelbrechend als auch optisch aktiv sind. Die beiden genannten Veröffentlichungen setzen linear polarisiertes Licht zur Umwandlung durch das optische Element in Form einer doppelläufigen Wendeltreppe voraus. Daher kann die Lichtquelle 1 der Fig. 7 selbst
eine solche Lichtquelle sein, die linear polarisiertes
Licht liefert, z. B. eine Laser oder eine Laserdiode
oder es kann ein Polarisator im Bereich der Lichtquelle 1 oder innerhalb der polarisationsoptischen Einheit
12 zur Erzeugung von linear polarisiertem Licht eingesetzt werden.
[0073] Die polarisationsoptische Einheit 12 des Beleuchtungsmoduls 41f bzw. Sensors 31f kann dabei
mindestens eine λ/4- und/oder mindestens eine λ/2Platte umfassen. Zum Beispiel kann mit einem sogenannten 90°-Rotator bestehend aus zwei λ/2-Platten hintereinander, deren Kristallachsen um 45° zueinander verdreht angeordnet sind, azimutal polarisiertes Licht in radial polarisiertes Licht und umgekehrt radial polarisiertes Licht in azimutal polarisiertes Licht verwandelt werden. Insofern kann durch Einbzw. Ausführen eines solchen 90°-Rotators in den
Strahlengang hinter dem optischen Element in Form
einer doppelläufigen Wendeltreppe die Polarisation
von azimutal auf radial umgeschaltet werden. Andere
Formen von 90°-Rotatoren aus optisch aktivem Material sowie elektrisch ansteuerbare Rotatoren in Form
von Kerr- oder Pockels-Zellen sind ebenfalls bekannt
und entsprechend einsetzbar.
[0074] Es versteht sich, dass die polarisationsoptische Einheit 12 des erfindungsgemäßen Beleuchtungsmoduls 41f bzw. Sensors 31f bei allen Beleuchtungsmodulen bzw. Sensoren der Fig. 2 bis Fig. 6
sowie bei dem Sensor 30 des Standes der Technik
in Fig. 1 eingesetzt werden kann, so dass diese genannten Beleuchtungsmodule bzw. Sensoren inklusive ihrer oben dargelegten Beschreibung im Zusammenspiel mit der polarisationsoptischen Einheit 12
als weitere Ausführungsbeispiele der vorliegenden
Erfindung anzusehen sind. Darüber hinaus versteht
es sich, dass bei allen genannten Beleuchtungsmodulen bzw. Sensoren neben einer polarisationsoptischen Einheit 12 auch eine in Fig. 7 nicht dargestellte polarisationsoptische Filter-Einheit auf dem Rückweg des Lichts von der Oberfläche 7a des Werkstücks 7 zu dem mindestens einen Detektor 10 des
Sensors eingesetzt werden kann. Durch eine polarisationsoptische Filter-Einheit, insbesondere ein Polarisation kann der Polarisationszustand des auf den
Detektor 10 einfallenden Lichts eingestellt werden.
Hierdurch lässt sich z. B. Störlicht und/oder Falschlicht, welches nicht den gewünschten Polarisationszustand aufweist, eliminieren. Alternativ oder zusätzlich lassen sich die optischen Elemente des Beleuchtungsmoduls bzw. Sensors sowie deren Beschichtungen weitestgehend polarisationserhalten auslegen, so dass ein durch die polarisationsoptische Einheit 12 eingestellter Zustand für den Hinweg des
Lichts zu der zu vermessenden Oberfläche 7a auch
auf dem Rückweg des Lichts zu dem mindestens einen Detektor 10 durch die optischen Elemente des
Beleuchtungsmoduls bzw. Sensors nicht verfälscht
wird.
[0075] Schließlich ist es denkbar, dass eine polarisationstrennende Einheit z. B. in Form eines Polarisation-Strahlteilers das Licht anteilig auf mehrere Detektoren 10 abhängig vom jeweiligen Polarisationszustand verteilt. Ein solches Beleuchtungsmodul bzw.
Sensor kann dann an entsprechenden Gewindenormalen oder Bohrlochnormalen geeicht werden, so
dass bei der Vermessung eines Werkstücks sozusagen online und ohne eine aufwendige offline Analyse
aus den gewonnen Daten Rückschlüsse auf die Bearbeitungsrichtung und die Bearbeitungsqualität des
Bearbeitungswerkzeugs gezogen werden können.
[0076] Ferner kann das Beleuchtungsmodul 41f der
Fig. 7 entsprechend den Beleuchtungsmodulen 41a
bis 41e der Fig. 2 bis Fig. 6 eine Wechselschnittstelle zur Ankopplung des Beleuchtungsmoduls (41f)
an einen Sensor (31f) aufweisen. Dabei kann der erfindungsgemäße Sensor 31f bzw. das erfindungsgemäße Beleuchtungsmodul 41f derart hinsichtlich der
Wechselschnittstelle ausgelegt sein, dass entsprechend dem Beleuchtungsmodul 41e bzw. Sensor 31e
der Fig. 6 das Beleuchtungsmodul 41f nachrüstbar
zu einem bereits bestehenden optischen Sensor eines Koordinatenmessgeräts ausgeführt ist.
Patentansprüche
1. Beleuchtungsmodul (41f) für einen optischen
Sensor (31f) zur Vermessung einer Oberfläche (7a)
eines Bohrlochs eines Werkstücks (7) mittels eines
Koordinatenmessgeräts umfassend mindestens eine
Lichtquelle (1) sowie optische Elemente (2, 3, 4, 5,
6, 6a) zur Führung des Lichts einerseits auf dem Hin-
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weg von der mindestens einen Lichtquelle (1) auf die
Oberfläche (7a) des zu vermessenden Werkstücks
(7) und andererseits auf dem Rückweg von der Oberfläche (7a) des zu vermessenden Werkstücks (7) zu
mindestens einem Detektor (10) des optischen Sensors (31f), wobei einige der genannten optischen Elemente (4, 5, 6, 6a) sowohl für die Strahlführung auf
dem Hinweg als auch für die Strahlführung auf dem
Rückweg genutzt werden und wobei mindestens eines dieser genannten optischen Elemente ein Umlenkelement (6a) ist, das auf dem Hinweg für eine
Umlenkung des Lichts auf die Oberfläche (7a) des
zu vermessenden Werkstücks (7) und auf dem Rückweg für eine Umlenkung des Lichts zu dem mindestens einen Detektor (10) sorgt, wobei auf dem Hinweg
durch das Umlenkelement (6a) der Fokusbereich des
Beleuchtungsmoduls (41f) bzw. Sensors (31f) zumindest teilweise bogenförmig ausgebildet wird, dadurch gekennzeichnet, dass eine polarisationsoptische Einheit (12) des Beleuchtungsmoduls (41f) zwischen der Lichtquelle (1) und dem Umlenkelement
(6a) für eine Polarisation des Lichts auf dem Hinweg zwischen der polarisationsoptischen Einheit (12)
und dem Umlenkelement (6a) sorgt, wobei das Licht
auf dem Hinweg zwischen der polarisationsoptischen
Einheit (12) und dem Umlenkelement (6a) entweder
azimutal polarisiert ist, so dass das Licht nach der
Umlenkung durch das Umlenkelement (6a) bei der
Vermessung einer Oberfläche (7a) eines Bohrlochs
auf diese Oberfläche (7a) linear polarisiert mit einer
Ausrichtung (14) senkrecht zur Bohrlochachse auftrifft, oder wobei das Licht auf dem Hinweg zwischen
der polarisationsoptischen Einheit (12) und dem Umlenkelement (6a) radial polarisiert ist, so dass das
Licht nach der Umlenkung durch das Umlenkelement
(6a) bei der Vermessung einer Oberfläche (7a) eines
Bohrlochs auf diese Oberfläche (7a) linear polarisiert
mit einer Ausrichtung (14) parallel zur Bohrlochachse
auftrifft.
2. Beleuchtungsmodul (41f) nach Anspruch 1, wobei die polarisationsoptische Einheit (12) und/oder
einzelne optische Elemente der polarisationsoptischen Einheit (12) in den Lichtstrahlengang des Beleuchtungsmoduls (41f) einführbar gelagert bzw. gehaltert sind, so dass wahlweise das Beleuchtungsmodul zwischen einem polarisierten und einem unpolarisierten Betriebsmodus durch das Ein- bzw. Ausführen der polarisationsoptischen Einheit (12) und/oder
eines ihrer optische Elemente in bzw. aus dem Lichtstrahlengang umgeschaltet werden kann.
oder eines ihrer optische Elemente verändert werden
kann.
4. Beleuchtungsmodul (41f) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die polarisationsoptische Einheit (12) mindestens ein optisches Element aus doppelbrechendem und/oder optisch aktivem Material umfasst
5. Beleuchtungsmodul (41f) nach Anspruch 4,
wobei das optischen Elements aus doppelbrechendem und/oder optisch aktivem Material in Form einer
Scheibe vorliegt, deren eine Seite plan ist und deren
andere Seite zweifach gestuft ist mit zwei gleich hohen Stufen der Höhe H, wobei die Oberfläche zwischen den beiden Stufen in Form einer einhüllenden Fläche einer doppelläufigen Wendeltreppe gegeben ist, so dass die Höhe der Scheibe entlang ihres
Umfangs angefangen bei einer Mindesthöhe ho der
Scheibe linear mit dem Umfang bis zur Höhe H + ho
bei der Hälfte des Umfangs bzw. der ersten Stufe ansteigt, danach senkrecht auf ho abfällt und wiederum
linear mit dem Umfang bis zur Höhe H + ho bei der
zweiten Hälfte des Umfangs bzw. der zweiten Stufe ansteigt, wobei die Höhe H der beiden Stufen bei
doppelbrechendem Material gegeben ist durch das
Doppelte der Wellenlänge λ des Lichts dividiert durch
den Brechungsindexunterschied n = (ne – no) von
außerordentlichem Brechungsindex ne und ordentlichem Brechungsindex no des doppelbrechenden Materials.
6. Beleuchtungsmodul (41f) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die polarisationsoptische Einheit (12) mindestens eine λ/4- und/oder mindestens eine λ/2-Platte umfasst.
7. Beleuchtungsmodul (41f) nach einem der Ansprüche 1 bis 6 wobei das Beleuchtungsmodul (41f)
eine Wechselschnittstelle zur Ankopplung des Beleuchtungsmoduls (41f) an einen Sensor (31f) aufweist.
8. Optischer Sensor (31f) für ein Koordinatenmessgerät zur Vermessung einer Oberfläche (7a) eines Werkstücks (7) umfassend ein Beleuchtungsmodul (41f) nach einem der vorhergehenden Ansprüche
und mindestens einen Detektor (10), der flächenmäßig zur Erfassung von Intensitätssignalen von Licht
aus dem zumindest teilweise bogenförmigen Fokusbereich ausgebildet ist.
3. Beleuchtungsmodul (41f) nach Anspruch 1 oder
2, wobei die polarisationsoptische Einheit (12) und/
oder einzelne optische Elemente der polarisationsoptischen Einheit (12) in dem Lichtstrahlengang des Beleuchtungsmoduls (41f) drehbar gelagert bzw. gehaltert sind, so dass der polarisierte Zustand des Lichts
auf dem Hinweg zum Umlenkelement (6a) durch das
Drehen der polarisationsoptischen Einheit (12) und/
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